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PID2019-103869RB-C31

Financiado

THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS: FROM DEVICE MODELING TO IC DESIGN FOR MI...

THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS: FROM DEVICE MODELING TO IC DESIGN FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-IMSE) LA INCREIBLE EVOLUCION DE LAS TECNOLOGIAS NANO-CMOS, CON LA APARICION DE NUEVOS MATERIALES Y DISPOSITIVOS, ESTA DETRAS DE LA OMNIPRESENCIA DE LA ELECTRONICA EN NUESTRAS VIDAS, SIN EMBARGO, LA CRECIENTE DEMANDA DE CIRCUITOS INTEGRA... ver más

01/01/2019

211K€

Presupuesto del proyecto: 211K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3670

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Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2019-01-01

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA

Total investigadores 3670

Presupuesto del proyecto 211K€

Descripción del proyecto LA INCREIBLE EVOLUCION DE LAS TECNOLOGIAS NANO-CMOS, CON LA APARICION DE NUEVOS MATERIALES Y DISPOSITIVOS, ESTA DETRAS DE LA OMNIPRESENCIA DE LA ELECTRONICA EN NUESTRAS VIDAS, SIN EMBARGO, LA CRECIENTE DEMANDA DE CIRCUITOS INTEGRADOS (CI) NO ESTA EXENTA DE RETOS: NUESTRA ECONOMIA Y SOCIEDAD DIGITALES EXIGEN QUE SEAN MAS FUNCIONALES, FIABLES Y SEGUROS, Y CAMPOS COMO IOT, O CIBERSEGURIDAD SE HAN CONVERTIDO EN PRIORITARIOS,UN OBSTACULO CRITICO EN ESA EVOLUCION ES LA VARIABILIDAD, CULPABLE DE VARIACIONES PARAMETRICAS DE LOS DISPOSITIVOS QUE CONDUCEN A PERDIDAS DE FIABILIDAD DEL CI, YA SEA TRAS SU FABRICACION (TZV, TIME-ZERO VARIABILITY) O DURANTE LA VIDA DEL CI (TDV, TIME-DEPENDENT VARIABILITY), LA VARIABILIDAD TERMINA COMPROMETIENDO FUNCIONALIDAD O VIDA UTIL, DE HECHO, SI NO PRIORIZAMOS LA CONSIDERACION DE LA VARIABILIDAD, LOS CIS NO SERAN CAPACES DE CUMPLIR CON LOS REQUISITOS DE SEGURIDAD, PROTECCION Y FIABILIDAD,VIGILANT AFRONTA ESTE RETO DESDE DOS PERSPECTIVAS, PRIMERO SE DESARROLLARAN SOLUCIONES Y NUEVOS PARADIGMAS DE DISEÑO PARA MITIGAR O HACER MAS TOLERABLE SU IMPACTO, SEGUNDO, EN LUGAR DE MITIGAR, SE EXPLOTARA TZV Y TDV PARA SEGURIDAD HARDWARE, SI BIEN ESTA DUALIDAD MITIGACION/EXPLOTACION ES UN OBJETIVO CLAVE, EXISTE OTRO TRANSVERSAL: LA EVALUACION DE TECNOLOGIAS Y SU POTENCIAL PARA AMBAS (DESDE BULK-CMOS, PASANDO POR FDSOI, HASTA ALTERNATIVAS BEYOND-CMOS COMO LOS MEMRISTORES), PARA CUMPLIR LOS OBJETIVOS, VIGILANT CUENTA CON LA EXPERIENCIA COMPLEMENTARIA DE TRES EQUIPOS (IMSE, UAB, UPC) CON UNA TRAYECTORIA DE EXITO EN LA INVESTIGACION COLABORATIVA DE LA VARIABILIDAD,LAS ACTIVIDADES DEL SUBPROYECTO DE IMSE EN VIGILANT SON LOS SIGUIENTES, PRIMERO SE ABORDARA UN PROFUNDO ESTUDIO DE LA VARIABILIDAD TDV USANDO UNA APROXIMACION HOLISTICA A SUS DISTINTOS FENOMENOS (AGING Y RTN) Y SUS CORRELACIONES PARA CONSEGUIR UNA EXTRACCION ROBUSTA DE LOS PARAMETROS DE LOS DISPOSITIVOS, PASAR DE LA MEDIDA EXPERIMENTAL A LA EXTRACCION ROBUSTA Y FIABLE DE MODELOS PARAMETRIZADOS REQUERIRA ADEMAS UNA CUIDADOSA SELECCION DE DATOS Y CONFIGURACIONES DE LABORATORIO (DADO EL GRAN NUMERO DE VARIABLES INVOLUCRADAS), PARA ELLO SE DESARROLLARA UN EMULADOR VIRTUAL QUE EVALUA LA CALIDAD DE LOS PARAMETROS EXTRAIDOS PARA CADA CONFIGURACION DE MEDIDA DEL LABORATORIO, SOLO ASI SE PODRAN CONSEGUIR MODELOS PRECISOS Y ESTRATEGIAS DE SIMULACION EFICIENTES CON LOS QUE ABORDAR LA MITIGACION O LA EXPLOTACION,EN MITIGACION, VIGILANT EXPLORA DOS ESTRATEGIAS, LA PRIMERA APLICA METODOLOGIAS DE DISEÑO QUE TENGAN EN CUENTA TZV+TDV PARA DISEÑAR CIS INTRINSECAMENTE ROBUSTOS, LA SEGUNDA DESARROLLA TECNICAS PARA DOTAR A LOS CIS DE LA CAPACIDAD DE AUTOCORRECCION MEDIANTE LA MONITORIZACION DE LA DEGRADACION POR TDV UTILIZANDO TEST ALTERNATIVO BASADO EN APRENDIZAJE AUTOMATICO,EN EXPLOTACION, VIGILANT-IMSE NO SOLO ANALIZARA EL IMPACTO DEL AGING EN PRIMITIVAS CRIPTOGRAFICAS CONVENCIONALES BASADAS EN TZV (COMO LA PHYSICAL UNCLONABLE FUNCTION O PUF), SINO QUE TAMBIEN UTILIZARA TDV COMO FUENTE DE ENTROPIA ROBUSTA, ASI, SE ABORDARA EL IMPACTO DEL AGING EN PUFS BASADOS EN SRAMS Y ROS Y LA VALIDACION EXPERIMENTAL EN CRIPTOGRAFIA LIGHTWEIGHT CMOS, SE EXPLORARAN TAMBIEN PRIMITIVAS BASADAS EN RTN PARA BULK-CMOS (ANALIZANDO TAMBIEN EL IMPACTO DEL AGING), VARIABILIDAD\DISEÑO CIS\EVALUACION DE LA FIABILIDAD\MODELADO COMPACTO\CARACTERIZACION\SEGURIDAD\MITIGACION\EXPLOTACION\CMOS\DISPOSITIVOS EMERGENTES

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