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PID2019-103869RB-C33

Financiado

THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: NOVEL IC DESIGN PARADIGM...

THE VARIABILITY CHALLENGE IN NANO-CMOS AND BEYOND-CMOS: NOVEL IC DESIGN PARADIGMS FOR MITIGATION AND EXPLOITATION (VIGILANT-UPC) LA INCREIBLE EVOLUCION DE LAS TECNOLOGIAS NANO-CMOS, CON LA APARICION DE NUEVOS MATERIALES Y DISPOSITIVOS, ESTA DETRAS DE LA OMNIPRESENCIA DE LA ELECTRONICA EN NUESTRAS VIDAS, SIN EMBARGO, LA CRECIENTE DEMANDA DE CIRCUITOS INTEGRA... ver más

01/01/2019

UPC

194K€

Presupuesto del proyecto: 194K€

Líder del proyecto

Universidad Politécnica de Cataluña No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 9

Ver Participantes

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2019-01-01

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Participantes

UPC

Lider

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Líder del proyecto

Universidad Politécnica de Cataluña

Total investigadores 9

Presupuesto del proyecto 194K€

Descripción del proyecto LA INCREIBLE EVOLUCION DE LAS TECNOLOGIAS NANO-CMOS, CON LA APARICION DE NUEVOS MATERIALES Y DISPOSITIVOS, ESTA DETRAS DE LA OMNIPRESENCIA DE LA ELECTRONICA EN NUESTRAS VIDAS, SIN EMBARGO, LA CRECIENTE DEMANDA DE CIRCUITOS INTEGRADOS (CI) NO ESTA EXENTA DE RETOS: NUESTRA ECONOMIA Y SOCIEDAD DIGITALES EXIGEN QUE SEAN MAS FUNCIONALES, FIABLES Y SEGUROS, Y CAMPOS COMO IOT, O CIBERSEGURIDAD SE HAN CONVERTIDO EN PRIORITARIOS,UN OBSTACULO CRITICO EN ESA EVOLUCION ES LA VARIABILIDAD, CULPABLE DE VARIACIONES PARAMETRICAS DE LOS DISPOSITIVOS QUE CONDUCEN A PERDIDAS DE FIABILIDAD DEL CI, YA SEA TRAS SU FABRICACION (TZV, TIME-ZERO VARIABILITY) O DURANTE LA VIDA DEL CI (TDV, TIME-DEPENDENT VARIABILITY), LA VARIABILIDAD TERMINA COMPROMETIENDO FUNCIONALIDAD O VIDA UTIL, DE HECHO, SI NO PRIORIZAMOS LA CONSIDERACION DE LA VARIABILIDAD, LOS CIS NO SERAN CAPACES DE CUMPLIR CON LOS REQUISITOS DE SEGURIDAD, PROTECCION Y FIABILIDAD,VIGILANT AFRONTA ESTE RETO DESDE DOS PERSPECTIVAS, PRIMERO SE DESARROLLARAN SOLUCIONES Y NUEVOS PARADIGMAS DE DISEÑO PARA MITIGAR O HACER MAS TOLERABLE SU IMPACTO, SEGUNDO, EN LUGAR DE MITIGAR, SE EXPLOTARA TZV Y TDV PARA SEGURIDAD HARDWARE, SI BIEN ESTA DUALIDAD MITIGACION/EXPLOTACION ES UN OBJETIVO CLAVE, EXISTE OTRO TRANSVERSAL: LA EVALUACION DE TECNOLOGIAS Y SU POTENCIAL PARA AMBAS (DESDE BULK-CMOS, PASANDO POR FDSOI, HASTA ALTERNATIVAS BEYOND-CMOS COMO LOS MEMRISTORES), PARA CUMPLIR LOS OBJETIVOS, VIGILANT CUENTA CON LA EXPERIENCIA COMPLEMENTARIA DE TRES EQUIPOS (IMSE, UAB, UPC) CON UNA TRAYECTORIA DE EXITO EN LA INVESTIGACION COLABORATIVA DE LA VARIABILIDAD,EN VIGILANT, EL EQUIPO INVESTIGADOR DE UPC CONCENTRA SU CONTRIBUCION, EN COLABORACION CON LOS OTROS DOS EQUIPOS, EN AREAS PROPIAS DE SU EXPERIENCIA, CARACTERIZACION DE TZV Y TDV EN CIRCUITOS INTEGRADOS CON ENFASIS EN TECNOLOGIAS CMOS, FDSOI, MEMRISTORES Y CNTFET, TECNICAS DE DISEÑO PARA MITIGACION Y TOLERANCIA DE VARIABILIDAD, INCLUYENDO SENSORES EMPOTRADOS Y TECNICAS ORIGINALES DE LOGRAR BENEFICIO DE LA VARIABILIDAD EN LOS CAMPOS ESPECIFICOS DE CIRCUITOS DE COMPUTACION, COMUNICACION Y SEGURIDAD, SE CARACTERIZARA TZV Y TDV, CON ENFASIS EN RTN, MEDIANTE EXPERIMENTOS CON CIRCUITOS FDSOI (28NM) Y CMOS (65NM) IDENTIFICANDO LOS EFECTOS DE VARIABILIDAD Y DEGRADACION EN EL DOMINIO DEL TIEMPO, DE ESTA INFORMACION SE DERIVARAN REGLAS DE COMPORTAMIENTO Y DISEÑO APLICABLES A CIRCUITOS ANALOGICOS Y DIGITALES TRANSFERIBLES A EMPRESAS TECNOLOGICAS, UNA ATENCION ESPECIAL SE DARA A CIRCUITOS OPERATIVOS EN APLICACIONES DE IOT, CIRCUITOS DE ULTRA-BAJO CONSUMO, EN DONDE SE DESARROLLARAN CONVERTIDORES DINAMICOS DE TENSION PARA EL CONTROL DEL BODY-BIAS EN CIRCUITOS FDSOI, CIRCUITOS MEMRISTIVOS Y CNTFET SE APLICARAN AL DISEÑO DE COMPONENTES PHYSICAL UNCLONABLE FUNCTIONS EFICIENTES, CON ORIENTACION A APLICACIONES DE SEGURIDAD SE INVESTIGARA EL USO DE GENERADORES DE NUMEROS VERDADERAMENTE ALEATORIOS (TRNG) Y OSCILADORES CAOTICOS QUE EXPLOTEN LOS EFECTOS DE LA VARIABILIDAD, FINALMENTE, SE ESTUDIARAN LOS MECANISMOS DE MEJORA DE PRESTACIONES EN CIRCUITOS MEMRISTIVOS DE MEMORIA Y COMPUTACION MEDIANTE LA INYECCION Y EXPLOTACION DE RUIDO ELECTRICO (RESONANCIA ESTOCASTICA), VARIABILIDAD\DISEÑO ICS\EVALUACION DE LA FIABILIDAD\MODELO COMPACTO\CARACTERIZACION\SEGURIDAD\MITIGACION\EXPLOTACION\CMOS\DISPOSITIVOS EMERGENTES

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