Descripción del proyecto
El Centro Nacional de Microscopía Electrónica (CNME, Universidad Complutense), uno de los dos nodos que constituyen la ICTS de Microscopia Avanzada, está desarrollando e implementando los métodos y técnicas más avanzadas en microscopia electrónica de transmisión con resolución atómica para ofrecer a una comunidad científica pluridisciplinar el análisis estructural y composicional de materiales avanzados, Esto ha sido posible gracias a la instalación de un microscopio de transmisión equipado con correctores de aberración en la lente condensadora (JEOL JEM-ARM200cF) plenamente operativo y otro con corrector de aberración en la lente objetivo (JEOL JEM-ARM300cF, Estos equipos han sido adquiridos mediante el convenio de colaboración suscrito entre la FG-UCM y el MINECO cofinanciados con fondos FEDER, A finales de 2014 comenzará la instalación de este último microscopio, El equipamiento básico de este microscopio ha sido adjudicado mediante concurso público en el boletín Europeo, Una vez instalado este equipamiento básico, resulta imprescindible adquirir los accesorios descritos en este proyecto para que el microscopio alcance todas sus prestaciones, Por ello, se solicita la incorporación de sistemas de alineamiento a distintos voltajes, una cámara digital y un sistema de barrido que permitirán obtener las máximas prestaciones del citado microscopio