Se solicita financiación para adquirir un equipo DUAL BEAM que combina un haz de iones enfocado FIB y un microscopio electrónico de barrido SEM y que se integrará en el CAI de Técnicas Físicas de la UCM. La combinación de comido,...
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Descripción del proyecto
Se solicita financiación para adquirir un equipo DUAL BEAM que combina un haz de iones enfocado FIB y un microscopio electrónico de barrido SEM y que se integrará en el CAI de Técnicas Físicas de la UCM. La combinación de comido, deposición y modificación por bombardeo iónico con diferentes iones permite definir motivos con resolución de 10 nm sobre áreas milimétricas. Por una parte, el Centro Nacional de Microscopia Electrónica CNME, en cuyos locales se instalará, verá incrementadas sus capacidades y prestaciones en la preparación de muestras equiparándose a los centros de microscopia avanzada de primera línea a nivel nacional e internacional. Y por otra parte, será un impulso decidido a las capacidades de nanofabricación del CAI de Técnicas Físicas de la UCM, compensando la pérdida de competitividad sufrida en los últimos años como consecuencia de la escasez de recursos para investigación.Ambas vertientes, altamente complementarias, permitirán abordar proyectos y desarrollos en la frontera del conocimiento en los ámbitos de las Nanociencias y Nanotecnologías de Materiales, de la Química y de la Materia Condensada, y de la Electrónica y la Ingeniería. La gran variedad de aplicaciones determina que el número de usuarios potenciales sea muy elevado con procedencia de diversas instituciones.
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