Descripción del proyecto
La Microscopía de fuerza atómica (AFM) es un método para medir la topografía de una superficie en el rango de la escala micrométrica a la nanométrica, Esta técnica se ha ampliado, en los últimos años, para posibilitar la medición de muchas otras propiedades de la superficie, como propiedades eléctricas, (carga, potencial, constante dieléctrica, conductividad, etc), propiedades magnéticas, propiedades electroquímicas, viscosidad superficial, dureza y el módulo elástico de un material, El equipo de AFM solicitado consistiría en un sistema avanzado que permitiría estudiar procesos dinámicos (nucleación y crecimiento cristalino de biominerales y materiales artificiales de interés tecnológico), medición de propiedades avanzadas (variación térmica de la conductividad eléctrica y magnetización), propiedades electroquímicas, etc, en la nanoescala y que son de interés para los grupos de investigación involucrados en temáticas relacionadas con el desarrollo de nanoconductores eléctricos, nanoparticulas en biomedicina, bases moleculares de enfermedades, procesos de biomineralización, nuevos nanomateriales con propiedades magnéticas, adsorbentes y eléctricas inusuales, etc,Por todo ello sería de gran interés la adquisición de un equipo altamente versátil capaz de trabajar con nanomateriales sólidos, fluidos y muestras biológicas, así como la posibilidad de poder medir propiedades funcionales avanzadas (magnetismo, conductividad electrónica, propiedades electroquímicas, etc,