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MAT2009-08534

Financiado

MICROSCOPIAS DE FUERZAS ATOMICAS CON ULTRASONIDOS: ACTUACION ULTRASONICA EN NANO...

EL EFECTO DE DIODO MECANICO ES EL FENOMENO EN EL QUE SE BASAN DE TECNICAS COMO LA MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA (UFM) Y LA MICROSCOPIA DE FUERZA HETERODINA (HFM) [1], Y SE REFIERE AL HECHO DE QUE EL MICROFLEJE DE UN MICROSCOPI... ver más

01/01/2009

UCLM

12K€

Presupuesto del proyecto: 12K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CASTILLA-LA MANCHA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 2583

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2009-01-01

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Participantes

UCLM

Lider

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CASTILLA-LA MANCHA

Total investigadores 2583

Presupuesto del proyecto 12K€

Descripción del proyecto EL EFECTO DE DIODO MECANICO ES EL FENOMENO EN EL QUE SE BASAN DE TECNICAS COMO LA MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA (UFM) Y LA MICROSCOPIA DE FUERZA HETERODINA (HFM) [1], Y SE REFIERE AL HECHO DE QUE EL MICROFLEJE DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATOMICAS (AFM) SE COMPORTA COMO UN DIODO MECANICO, DEFLECTANDOSE CUANDO EL CONTACTO PUNTA-MUESTRA VIBRA A FRECUENCIAS ULTRASONICAS CON SUFICIENTE AMPLITUD, DEPENDIENDO LA MAGNITUD DE LA DEFLEXION DE LOS DETALLES DE LA FUERZA DE INTERACCION DEL CONTACTO PUNTA-MUESTRA, EL PRESENTE PROYECTO TIENE POR OBJETO DESARROLLAR METODOS NOVEDOSOS DE AFM CON ULTRASONIDOS BASADOS EN EL EFECTO DE DIODO MECANICO, Y APLICARLOS A LA NANOCARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ELASTICAS, ANELASTICAS Y VISCOELASTICAS DE NANOPARTICULAS Y AL ESTUDIO DE SU RESPUESTA EN FRICCION Y ADHESION, EN PARTICULAR, NOS PROPONEMOS CONTINUAR ANALIZANDO LA RESPUESTA EN DIODO MECANICO DE UFM PARA EXTRAER INFORMACION ACERCA DE LOS MECANISMOS DE DISIPACION A ESCALA NANOMETRICA [2] Y SU RELACION CON LA FRICCION, ASI COMO EXPLORAR LA TECNICA RECIENTEMENTE PROPUESTA DE MICROSCOPIA DE FRICCION ULTRASONICA EN MODO DE DIODO MECANICO (MD-UFFM) [3], PARA COMPRENDER LOS FENOMENOS DINAMICOS DE NANOFRICCION Y NANOLUBRICACION, RECIENTEMENTE, SE HA DEMOSTRADO QUE PUEDE DETECTARSE UNA RESPUESTA DE DIODO MECANICO EN MEDIO LIQUIDO [4], EN EL MARCO DE ESTE PROYECTO SE PLANEA LLEVAR A CABO LA DETECCION DE UNA SEÑAL DE DIODO MECANICO EN ULTRA-ALTO VACIO, LAS TECNICAS DE AFM CON ULTRASONIDOS SE APLICARAN AL ESTUDIO DE NANOPARTICULAS, ESTAS SE HAN DEFINIDO COMO UNIDADES BASICAS EN NANOTECNOLOGIA, Y ENCUENTRAN APLICACIONES EN MUCHOS CAMPOS: COMO NANOCONTENEDORES PARA LA ADMINISTRACION DE MEDICAMENTE, COMO COMPONENTES PRIMARIOS DE DISPOSITIVOS NANOELECTRONICOS, NANOOPTICOS O NANOMAGNETICOS, ETC, SE CONSIDERARAN NANOPARTICULAS EVAPORADAS EN CONDICIONES DE ULTRA-ALTO VACIO Y NANOPARTICULAS COLOIDALES DEPOSITADAS EN SUPERFICIES, SE LLEVARA A CABO LA MODIFICACION DE NANOPARTICULAS PARA MODIFICAR LA ADHESION NANOPARTICULA-SUPERFICIE, UTILIZANDO RECUBRIMIENTOS POLIMERICOS, ADEMAS, LAS TECNICAS DE AFM CON ULTRASONIDOS SE APLICARAN AL ESTUDIO DE NANOPARTICULAS INCORPORADAS EN LAMINAS DELGADAS POLIMERICAS, COMO MULTICAPAS DE POLIELECTROLITOS E HIDROGELES, DE ESTOS ESTUDIOS, OBTENDREMOS INFORMACION ACERCA DE LA ESTRUCTURA ELASTICA INTERNA DE NANOPARTICULAS INDIVIDUALES [5], SU REPUESTA ADHESIVA AL ENLAZAR CON EL SUSTRATO Y/O EL MATERIAL MATRIZ, Y SU DISTRIBUCION SUBSUPERFICIAL EN LAMINAS DELGADAS POLIMERICAS, SE UTILIZARA LA REDUCCION ULTRASONICA DE LA FRICCION A ESCALA NANOMETRICA PARA CONTROLAR EL MOVIMIENTO DE NANOPARTICULAS INDUCIDO POR EL AFM [6] Y OBTENER INFORMACION ACERCA DE LA RESPUESTA DINAMICA DE LA NANOPARTICULA A LA ACTUACION DE LA PUNTA, [1] M, T, CUBERES, MECHANICAL-DIODE MODE ULTRASONIC FRICTION FORCE MICROSCOPIES, CHAPTER IN ¿APPLIED SCANNING PROBE METHODS XI¿, EDITED BY B, BHUSHAN, H, FUCHS, SPRINGER (2009),[2] J, J, MARTINEZ AND M, T, CUBERES, MATER, RES, SOC, SYMP, PROC, VOLUME 1085E (2008),[3] M, T, CUBERES AND J, J, MARTINEZ , J, OF PHYSICS: CONF, SER, 61 (2007) 224,[4] M, T, CUBERES, J, OF PHYSICS: CONF, SER,, 100 (2008) 052014,[5] M, T, CUBERES ET AL,, ULTRAMICROSCOPY 107/10-11(2007) 1053,[6] M, T, CUBERES, J, OF PHYSICS: CONF, SER, 100 (2008) 052013, NANOMECANICA\NANOTRIBOLOGIA\NANOMANIPULACION\MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS\MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA\NANOPARTICULAS

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