Hola,
¿eres nuevo aquí?

Regístrate gratis y conecta tu empresa con financiación pública, partners y proyectos.

Tengo cuenta

Regístrate

Ver video

MAT2009-08534

Financiado

Cerrado

MICROSCOPIAS DE FUERZAS ATOMICAS CON ULTRASONIDOS: ACTUACION ULTRASONICA EN NANO...

MICROSCOPIAS DE FUERZAS ATOMICAS CON ULTRASONIDOS: ACTUACION ULTRASONICA EN NANOPARTICULAS EL EFECTO DE DIODO MECANICO ES EL FENOMENO EN EL QUE SE BASAN DE TECNICAS COMO LA MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA (UFM) Y LA MICROSCOPIA DE FUERZA HETERODINA (HFM) [1], Y SE REFIERE AL HECHO DE QUE EL MICROFLEJE DE UN MICROSCOPI... ver más

01/01/2009

UCLM

12K€

Presupuesto del proyecto: 12K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CASTILLA-LA MANCHA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 2592

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2009-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

0% 100%

Características del participante

Este proyecto no cuenta con búsquedas de partenariado abiertas en este momento.

Información adicional privada

No hay información privada compartida para este proyecto. Habla con el coordinador.

Participantes

UCLM

Lider

Conecta tu I+D

¿Tienes un proyecto y buscas un partner? Gracias a nuestro motor inteligente podemos recomendarte los mejores socios y ponerte en contacto con ellos. Te lo explicamos en este video

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CASTILLA-LA MANCHA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 2592

Presupuesto del proyecto 12K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto EL EFECTO DE DIODO MECANICO ES EL FENOMENO EN EL QUE SE BASAN DE TECNICAS COMO LA MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA (UFM) Y LA MICROSCOPIA DE FUERZA HETERODINA (HFM) [1], Y SE REFIERE AL HECHO DE QUE EL MICROFLEJE DE UN MICROSCOPIO DE FUERZAS ATOMICAS (AFM) SE COMPORTA COMO UN DIODO MECANICO, DEFLECTANDOSE CUANDO EL CONTACTO PUNTA-MUESTRA VIBRA A FRECUENCIAS ULTRASONICAS CON SUFICIENTE AMPLITUD, DEPENDIENDO LA MAGNITUD DE LA DEFLEXION DE LOS DETALLES DE LA FUERZA DE INTERACCION DEL CONTACTO PUNTA-MUESTRA, EL PRESENTE PROYECTO TIENE POR OBJETO DESARROLLAR METODOS NOVEDOSOS DE AFM CON ULTRASONIDOS BASADOS EN EL EFECTO DE DIODO MECANICO, Y APLICARLOS A LA NANOCARACTERIZACION DE LAS PROPIEDADES ELASTICAS, ANELASTICAS Y VISCOELASTICAS DE NANOPARTICULAS Y AL ESTUDIO DE SU RESPUESTA EN FRICCION Y ADHESION, EN PARTICULAR, NOS PROPONEMOS CONTINUAR ANALIZANDO LA RESPUESTA EN DIODO MECANICO DE UFM PARA EXTRAER INFORMACION ACERCA DE LOS MECANISMOS DE DISIPACION A ESCALA NANOMETRICA [2] Y SU RELACION CON LA FRICCION, ASI COMO EXPLORAR LA TECNICA RECIENTEMENTE PROPUESTA DE MICROSCOPIA DE FRICCION ULTRASONICA EN MODO DE DIODO MECANICO (MD-UFFM) [3], PARA COMPRENDER LOS FENOMENOS DINAMICOS DE NANOFRICCION Y NANOLUBRICACION, RECIENTEMENTE, SE HA DEMOSTRADO QUE PUEDE DETECTARSE UNA RESPUESTA DE DIODO MECANICO EN MEDIO LIQUIDO [4], EN EL MARCO DE ESTE PROYECTO SE PLANEA LLEVAR A CABO LA DETECCION DE UNA SEÑAL DE DIODO MECANICO EN ULTRA-ALTO VACIO, LAS TECNICAS DE AFM CON ULTRASONIDOS SE APLICARAN AL ESTUDIO DE NANOPARTICULAS, ESTAS SE HAN DEFINIDO COMO UNIDADES BASICAS EN NANOTECNOLOGIA, Y ENCUENTRAN APLICACIONES EN MUCHOS CAMPOS: COMO NANOCONTENEDORES PARA LA ADMINISTRACION DE MEDICAMENTE, COMO COMPONENTES PRIMARIOS DE DISPOSITIVOS NANOELECTRONICOS, NANOOPTICOS O NANOMAGNETICOS, ETC, SE CONSIDERARAN NANOPARTICULAS EVAPORADAS EN CONDICIONES DE ULTRA-ALTO VACIO Y NANOPARTICULAS COLOIDALES DEPOSITADAS EN SUPERFICIES, SE LLEVARA A CABO LA MODIFICACION DE NANOPARTICULAS PARA MODIFICAR LA ADHESION NANOPARTICULA-SUPERFICIE, UTILIZANDO RECUBRIMIENTOS POLIMERICOS, ADEMAS, LAS TECNICAS DE AFM CON ULTRASONIDOS SE APLICARAN AL ESTUDIO DE NANOPARTICULAS INCORPORADAS EN LAMINAS DELGADAS POLIMERICAS, COMO MULTICAPAS DE POLIELECTROLITOS E HIDROGELES, DE ESTOS ESTUDIOS, OBTENDREMOS INFORMACION ACERCA DE LA ESTRUCTURA ELASTICA INTERNA DE NANOPARTICULAS INDIVIDUALES [5], SU REPUESTA ADHESIVA AL ENLAZAR CON EL SUSTRATO Y/O EL MATERIAL MATRIZ, Y SU DISTRIBUCION SUBSUPERFICIAL EN LAMINAS DELGADAS POLIMERICAS, SE UTILIZARA LA REDUCCION ULTRASONICA DE LA FRICCION A ESCALA NANOMETRICA PARA CONTROLAR EL MOVIMIENTO DE NANOPARTICULAS INDUCIDO POR EL AFM [6] Y OBTENER INFORMACION ACERCA DE LA RESPUESTA DINAMICA DE LA NANOPARTICULA A LA ACTUACION DE LA PUNTA, [1] M, T, CUBERES, MECHANICAL-DIODE MODE ULTRASONIC FRICTION FORCE MICROSCOPIES, CHAPTER IN ¿APPLIED SCANNING PROBE METHODS XI¿, EDITED BY B, BHUSHAN, H, FUCHS, SPRINGER (2009),[2] J, J, MARTINEZ AND M, T, CUBERES, MATER, RES, SOC, SYMP, PROC, VOLUME 1085E (2008),[3] M, T, CUBERES AND J, J, MARTINEZ , J, OF PHYSICS: CONF, SER, 61 (2007) 224,[4] M, T, CUBERES, J, OF PHYSICS: CONF, SER,, 100 (2008) 052014,[5] M, T, CUBERES ET AL,, ULTRAMICROSCOPY 107/10-11(2007) 1053,[6] M, T, CUBERES, J, OF PHYSICS: CONF, SER, 100 (2008) 052013, NANOMECANICA\NANOTRIBOLOGIA\NANOMANIPULACION\MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS\MICROSCOPIA DE FUERZA ULTRASONICA\NANOPARTICULAS

Conecta tu I+D

Entra hoy

¿Olvidé mi contraseña?

Financiación

Empresas

CTIs/Universidades

Proyectos

Investigadores