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CSIC15-EE-3056

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Microscopio de electrones de baja energía para dinámica y crecimiento en superfi...

Microscopio de electrones de baja energía para dinámica y crecimiento en superficies Se propone la adquisición de un microscopio refurbished (reacondicionado) de electrones de baja energía, Se trata de un microscopio que emplea un haz de electrones de energía en el rango de 0 a 50 eV en reflexión para obtener im... ver más

01/01/2015

CSIC

198K€

Presupuesto del proyecto: 198K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2015-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 198K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto Se propone la adquisición de un microscopio refurbished (reacondicionado) de electrones de baja energía, Se trata de un microscopio que emplea un haz de electrones de energía en el rango de 0 a 50 eV en reflexión para obtener imágenes con resolución nanométrica de superficies cristalinas en condiciones de ultra alto vacío, Mediante el uso de diferentes mecanismos de contraste se pueden observar distintos aspectos de una superficie, incluyendo la distribución de distintas fases y la posición de escalones atómicos, También permite obtener información estructural de la superficie mediante difracción de electrones en áreas seleccionadas así como mediante la formación de imágenes con haces difractados dados, Su capacidad de observar superficies mientras se cambia la temperatura, bajo exposición a gases o durante el crecimiento de películas mediante haces moleculares, junto con la alta velocidad de adquisición (decenas de imágenes por segundo) hacen que esta técnica sea ideal para observar el comportamiento dinámico de superficies, Las posibilidades de la técnica están descritas en detalle en un capítulo de libro escrito por el responsable de la presente solicitud y disponible en la página web http://surfmoss,iqfr,csic,es/leem,

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