JCI-2008-2443
Financiado
Técnicas de caracterización de ultra-alto-vacío: Microscopía de efecto túnel, mi...
Técnicas de caracterización de ultra-alto-vacío: Microscopía de efecto túnel, microscopía de electrones lentos, espectroscopía de electrones Auger, difracción de rayos-X de superficies, difracción de electrones lentos. Crecimiento de películas delgadas.
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01/01/2008
CSIC
101K€
Presupuesto del proyecto: 101K€
Líder del proyecto
AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA...
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
TRL
2-3
| 552M€
TRL
2-3
| 552M€
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2008-01-01
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