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UNZA08-4E-001

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MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISÓN DE CAMPO (FEG-SEM)

RESUMEN DEL PROYECTO:La Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) es una técnica fundamental en Ciencia yTecnología de Materiales, Física, Química, Ingeniería y Geología, Se utiliza no sólo en estudios detipo científico fundamental... ver más

01/01/2008

UNIZAR

543K€

Presupuesto del proyecto: 543K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE ZARAGOZA. OFICINA DE TRANSFERE... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2008-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE ZARAGOZA. OFICINA DE TRANSFERE... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Presupuesto del proyecto 543K€

Descripción del proyecto RESUMEN DEL PROYECTO:La Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) es una técnica fundamental en Ciencia yTecnología de Materiales, Física, Química, Ingeniería y Geología, Se utiliza no sólo en estudios detipo científico fundamental, sino que también es imprescindible hoy en día para control de calidaden muchas empresas, Un SEM constituye una plataforma analítica que puede proveer informaciónmorfológica, composicional y cristalográfica con resolución espacial de hasta 1 nm, Estainformación se construye a partir de un haz de electrones que incide sobre la muestra, Enconsecuencia el tamaño y la intensidad de la sonda de electrones son las principalescaracterísticas de los microscopios electrónicos de barrido, Cuanto más pequeña sea la sondamejor resolución espacial tendrá el microscopio, y cuanto más intensa sea mayor será la señal enlos distintos experimentos realizados para caracterizar los materiales, fundamentalmentemicroanálisis por rayos X característicos (EDS) y difracción de electrones retrodispersados(EBSD),

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