MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISÓN DE CAMPO (FEG-SEM)
RESUMEN DEL PROYECTO:La Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) es una técnica fundamental en Ciencia yTecnología de Materiales, Física, Química, Ingeniería y Geología, Se utiliza no sólo en estudios detipo científico fundamental...
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Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2008-01-01
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100%
Características del participante
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Descripción del proyecto
RESUMEN DEL PROYECTO:La Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) es una técnica fundamental en Ciencia yTecnología de Materiales, Física, Química, Ingeniería y Geología, Se utiliza no sólo en estudios detipo científico fundamental, sino que también es imprescindible hoy en día para control de calidaden muchas empresas, Un SEM constituye una plataforma analítica que puede proveer informaciónmorfológica, composicional y cristalográfica con resolución espacial de hasta 1 nm, Estainformación se construye a partir de un haz de electrones que incide sobre la muestra, Enconsecuencia el tamaño y la intensidad de la sonda de electrones son las principalescaracterísticas de los microscopios electrónicos de barrido, Cuanto más pequeña sea la sondamejor resolución espacial tendrá el microscopio, y cuanto más intensa sea mayor será la señal enlos distintos experimentos realizados para caracterizar los materiales, fundamentalmentemicroanálisis por rayos X característicos (EDS) y difracción de electrones retrodispersados(EBSD),