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PDC2023-145815-C22

Financiado

Física aplicada y Biofísica

LAS TECNICAS DE MICROSCOPIA ELECTRONICA (EM) HAN EMERGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR Y ANALIZAR ESTRUCTURAS Y MATERIALES A ESCALA NANOMETRICA CON UNA PRECISION Y DETALLE SIN PRECEDENTES.EL RECIENTE USO DE DETEC... ver más

01/01/2023

CSIC

145K€

Presupuesto del proyecto: 145K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2023-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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CSIC

145.20K€ | Lider

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 145K€

Descripción del proyecto LAS TECNICAS DE MICROSCOPIA ELECTRONICA (EM) HAN EMERGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR Y ANALIZAR ESTRUCTURAS Y MATERIALES A ESCALA NANOMETRICA CON UNA PRECISION Y DETALLE SIN PRECEDENTES.EL RECIENTE USO DE DETECTORES DE ELECTRONES DIRECTOS HA TRANSFORMADO FUNDAMENTALMENTE EL PANORAMA DE LA EM AL REVOLUCIONAR LA ADQUISICION DE DATOS. A DIFERENCIA DE LOS METODOS TRADICIONALES QUE DEPENDIAN DE LA DETECCION INDIRECTA A TRAVES DE CENTELLEADORES Y PELICULA FOTOGRAFICA, LOS DETECTORES DIRECTOS CAPTURAN ELECTRONES CON UNA EFICIENCIA Y VELOCIDAD EXCEPCIONALES.EN PARTICULAR, PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPY (PEEM) Y LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM) SON TECNICAS PODEROSAS EMPLEADAS EN NANOTECNOLOGIA, CIENCIA DE MATERIALES, CIENCIA DE SUPERFICIES Y CAMPOS RELACIONADOS EN INSTALACIONES DE SINCROTRON, QUE SE BENEFICIARIAN DE LA SENSIBILIDAD, PRECISION Y VERSATILIDAD DE LA DETECCION DIRECTA.SIN EMBARGO, SI BIEN LOS DETECTORES DIRECTOS HAN APORTADO MEJORAS SUSTANCIALES A DIVERSAS TECNICAS DE MICROSCOPIA ELECTRONICA, LOS DESAFIOS Y OPORTUNIDADES PRESENTADOS POR LEEM Y PEEM MERECEN UNA ATENCION ESPECIAL, EN PARTICULAR PARA EXPERIMENTOS QUE NECESITAN CAPTURAR Y ANALIZAR SEÑALES DE BAJA ENERGIA.EN ESTE PROYECTO, PROPONEMOS EL DESARROLLO DE UNA AVANZADA CAMARA HIBRIDA PIXELADA PARA EM CON EL POTENCIAL DE ABORDAR LOS DESAFIOS PRINCIPALES ENCONTRADOS EN LEEM Y PEEM. ESTA INNOVADORA CAMARA ESTA DISEÑADA CON EL OBJETIVO PRINCIPAL DE MEJORAR LA SENSIBILIDAD A LOS ELECTRONES DE BAJA ENERGIA CAPITALIZANDO LAS CARACTERISTICAS SOBRESALIENTES DEL CHIP TIMEPIX4, DESARROLLADO RECIENTEMENTE POR LA COLABORACION MEDIPIX EN EL CERN, COMBINADO CON SENSORES ESPECIALIZADOS QUE EMPLEAN UNA VENTANA DE ENTRADA ULTRAFINA DISEÑADA Y PRODUCIDA EN IMB-CNM.EL PROYECTO APROVECHA LA EXPERIENCIA DE IFAE Y IMB-CNM ADQUIRIDA DURANTE EL DESARROLLO DEL PROYECTO SOFTPIX. ESPECIFICAMENTE, IFAE DESARROLLO EL SISTEMA DE LECTURA Y LAS TECNICAS DE INTEGRACION PARA EXPLOTAR LAS CAPACIDADES DEL CHIP TIMEPIX4, MIENTRAS QUE IMB-CMN HA SIDO PIONERO EN METODOLOGIAS PARA MINIMIZAR EL ESPESOR DE LA VENTANA DE ENTRADA Y EL DESARROLLO DE CAPAS DE GRAFENO PARA REEMPLAZAR EL PROCESO CONVENCIONAL DE METALIZACION POSTERIOR. ESTAS INNOVACIONES MEJORARAN SIGNIFICATIVAMENTE LA CAPACIDAD DE LA CAMARA PARA DETECTAR ELECTRONES DE BAJA ENERGIA, LO QUE LA HACE EXCEPCIONALMENTE ADECUADA PARA APLICACIONES DE LEEM Y PEEM. ADEMAS, EL DESARROLLO DE UN DETECTOR DE ELECTRONES DIRECTOS ULTRASENSIBLE PROMETE APLICACIONES EN EL CAMPO EN RAPIDO CRECIMIENTO DE LA EM DE BAJO VOLTAJE (LVEM) EN DIVERSAS TECNICAS COMO ELECTRON ENERGY-LOSS SPECTROSCOPY (EELS). DETECTORES DE RADIACION\APLICACIONES EN SINCROTRONES\MICROSCOPIA ELECTRONICA\DETECTORES DE ESTADO SOLIDO\DETECCION DIRECTA

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