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EQC2018-004660-P

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Equipo de difracción para materiales nanométricos

Debido a las limitaciones de la difracción de polvo para obtener información estructural a niveles nanométricos se requieren otras técnicas adicionales a las de imagen (AFM, SEM, TEM), Estas técnicas, basadas en la dispersión tota... ver más

01/01/2018

UMA

316K€

Presupuesto del proyecto: 316K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE MÁLAGA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1965

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE MÁLAGA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1965

Presupuesto del proyecto 316K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto Debido a las limitaciones de la difracción de polvo para obtener información estructural a niveles nanométricos se requieren otras técnicas adicionales a las de imagen (AFM, SEM, TEM), Estas técnicas, basadas en la dispersión total de la radiación de rayos-X, permiten determinar las características estructurales a escala nanométrica (de 1 a 100 nm) como en el caso de la técnica SAXS (small-angle X-ray scattering) e incluso a escalas inferiores, de distancias interatómicas, en el caso de WAXS (wide-angle X-ray scattering), Estas técnicas son aplicables a materiales de diversa naturaleza como son: dispersiones coloidales, nano-polvos, polímeros, fibras, plásticos, microemulsiones, cristales líquidos, materiales micro- y mesoporosos, películas delgadas, etc, De la evaluación de los perfiles de dispersión obtenidos por estas técnicas se obtiene una información muy variada acerca de la estructura de estos materiales: distribución de tamaño de nanopartícula, morfología de las partículas, agregados, distribución de tamaño de poro, etc, El control de estos parámetros es esencial ya que está correlacionado con las propiedades químicas y físicas de estos nanomateriales que son determinantes para la aplicación final de los mismos, Actualmente existe en la unidad de difracción de rayos-X del SCAI una demanda creciente de usuarios que solicitan este tipo de análisis y que no puede ser atendida plenamente dada las limitaciones de los equipos con los que cuenta el servicio,

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