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EQC2018-005228-P

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Nuevas aplicaciones en Técnicas de Difracción de Rayos X del Servicio Central de...

Nuevas aplicaciones en Técnicas de Difracción de Rayos X del Servicio Central de Soporte a la Investigación Experimental SCSIE Solicitud de financiación para la adquisición, implantación y explotación de un equipo SAXS (Small Angle X-ray Scattering) destinado al SCSIE,El análisis por difracción a bajos ángulo, permitirá obtener resultados en todo el inter... ver más

01/01/2018

296K€

Presupuesto del proyecto: 296K€

Líder del proyecto

UNIVERSITAT DE VALÈNCIA (ESTUDI GENERAL) No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

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Líder del proyecto

UNIVERSITAT DE VALÈNCIA (ESTUDI GENERAL) No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Presupuesto del proyecto 296K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto Solicitud de financiación para la adquisición, implantación y explotación de un equipo SAXS (Small Angle X-ray Scattering) destinado al SCSIE,El análisis por difracción a bajos ángulo, permitirá obtener resultados en todo el intervalo de medidas de 2 theta, con lo que la caracterización de materiales desde 1nm hasta tamaños de partículas policristalinas queda completada, Esto permitiría la caracterización de nuevos materiales de naturaleza nanométrica (actualmente limitada por el uso de técnicas de análisis convencionales como son la microscopía electrónica y AFM), ya que en muchas ocasiones requieren que la muestra presente unas propiedades específicas, ya sea por tamaño, preparación de la muestra o estado físico (líquido, sólido, sol-gel), La adquisición de este equipo permitirá el estudio morfológico de una amplia variedad de sustancias como nanohilos semiconductores, nanotubos de carbono, soluciones coloidales, cristales líquidos, polímeros, proteínas, tensoactivos, catalizadores y nanocomposites ) de manera no destructiva, El análisis por Difracción de rayos X a bajos ángulos permite obtener valores del tamaño y distribución de partícula, distancia entre las partículas, así como la ordenación de las mismas, Establecer fracciones volumétricas y grado de cristalinidad en materiales, el cálculo de la porosidad, forma y dimensiones de nanopartículas,En los últimos años la demanda de este tipo de estudios ha crecido considerablemente entre los usuarios del SCSIE,

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