Muchos de los materiales que son motivo de investigación en el INA, como pueden ser materiales mesoporosos, nanoarcillas, materiales nanopartículados, nanotubos, películas delgadas obtenidas por diversas técnicas, así como materia...
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Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2010-01-01
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Fecha límite de participación
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Descripción del proyecto
Muchos de los materiales que son motivo de investigación en el INA, como pueden ser materiales mesoporosos, nanoarcillas, materiales nanopartículados, nanotubos, películas delgadas obtenidas por diversas técnicas, así como materiales orgánicos dendríticos, presentan espaciados reticulares muy grandes, Esto es una característica esencial de los nanomateriales, donde la repetitividad de las unidades estructurales supera las distancias entre planos cristalográficos observándose grados de ordenamiento a larga distancia, Estas distancias de ordenamiento tan grandes requieren medidas de difracción de rayos X (DRX) que comiencen a ángulos 2theta muy bajos, para determinar de forma precisa las estructuras a escala nanométrica ,El objetivo que se pretende conseguir con el dispositivo propuesto es realizar análisis de DRX desde ángulos de 0,3º 2theta hasta 10º 2theta con muy baja señal de fondo que enmascare el máximo de difracción principal, Esta es una propuesta, avalada por 5 de los 8 grupos de investigación que forman parte del INA, Ademas investigadores del CIBER BBN y del Instituto de Carboquímica (CSIC) también apoya esta propuesta,Tanto en el INA como en la Universidad de Zaragoza y los institutos del CSIC en Aragón, existen dispositivos de DRX que operan con geometrías similares pero en los que no es posible trabajar a angulos bajos y obtener la información de difracción y con muestras en diferentes estados de agregación,