PDC2023-145815-C21
Financiado
UNA CAMARA TIMEPIX4 ULTRA-SENSIBLE PARA MICROSCOPIA ELECTRONICA (IFAE)
LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM) Y PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPY (PEEM) HAN SURGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR LAS ESTRUCTURAS DE SUPERFICIES, COMPOSICION Y PROPIEDADES ELECTRONICAS DE MATERIALES A ESC...
LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM) Y PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPY (PEEM) HAN SURGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR LAS ESTRUCTURAS DE SUPERFICIES, COMPOSICION Y PROPIEDADES ELECTRONICAS DE MATERIALES A ESCALA NANOMETRICA.LOS EXPERIMENTOS DE LEEM Y PEEM PUEDEN BENEFICIARSE SIGNIFICATIVAMENTE MEDIANTE LA ADOPCION DE DETECTORES HIBRIDOS. ESTOS DETECTORES OFRECEN VENTAJAS SUSTANCIALES EN COMPARACION CON LOS DETECTORES TRADICIONALES BASADOS EN MICROCHANNEL PLATES (MCPS), INCLUYENDO UNA MEJOR SIGNAL-TO-NOISE RATIO, MAYOR SENSIBILIDAD, UN AMPLIO DYNAMIC RANGE Y MAYOR RESISTENCIA A LA EXPOSICION A FLUJOS ELEVADOS DE ELECTRONES.PARA ABORDAR LOS DESAFIOS DE EXPERIMENTOS QUE DEMANDAN CAPACIDADES DE DETECCION DE ELECTRONES DE MUY BAJA ENERGIA, EL PROYECTO EPIXCAM TIENE COMO OBJETIVO EXTENDER LA EFICIENCIA DE DETECCION PARA PARTICULAS CON ENERGIA BAJO A LOS 10 KEV MEDIANTE LA INTRODUCCION DE SENSORES DE SILICIO CON VENTANAS DE ENTRADA ULTRAFINAS, COMBINADOS CON EL NUEVO CHIP TIMEPIX4. ADEMAS, EL DESARROLLO DE UN DETECTOR DE ELECTRONES DIRECTO ULTRASENSIBLE TIENE EL POTENCIAL DE ABRIR NUEVAS FRONTERAS EN EL CAMPO EN EXPANSION DE LA MICROSCOPIA DE ELECTRONES DE BAJA TENSION (LVEM), PROPORCIONANDO DETECTORES QUE PERMITEN EL ESTUDIO EN PROFUNDIDAD DE MATERIALES MONOCAPA Y PROPIEDADES, LLEVANDO EL LIMITE DE DETECCION DEL ANALISIS DE IMAGENES Y ESPECTROSCOPIA HASTA EL NIVEL DE ATOMO UNICO PROMETIENDO UN AVANCE SIGNIFICATIVO EN EL CAMPO DE LA MICROSCOPIA DE ELECTRONES.IFAE, COMO PARTE DE LA COLABORACION MEDIPIX4, APORTA UNA COMPRENSION AVANZADA DEL READOUT Y OPERACIONES DEL TIMEPIX4 PARA EL DESARROLLO DEL PROYECTO EPIXCAM. IFAE SE ENCARGARA DEL CONCEPTO Y DEL DISEÑO DEL DETECTOR FINAL, INCLUYENDO EL DESARROLLO DE COMPONENTES ELECTRONICOS Y MECANICOS COMPATIBLES CON ULTRA HIGH VACUUM (UHV) NECESARIOS PARA LA INTEGRACION DEL SISTEMA EN MICROSCOPIOS ELECTRONICOS DE LEEM Y PEEM. APROVECHANDO LA AMPLIA EXPERIENCIA EN LA CONSTRUCCION DE DETECTORES EN DIVERSOS PROYECTOS DE FISICA DE ALTA ENERGIA Y FISICA MEDICA, IFAE SUPERVISARA LA TECNICA DE FLIP-CHIP, WIRE-BONDING Y EL MONTAJE DE LOS MODULOS DEL DETECTOR EN LAS PLACAS ELECTRONICAS. CUANDO LOS DETECTORES ESTEN LISTOS, IFAE REALIZARA UNA CARACTERIZACION EXHAUSTIVA DE LOS DISPOSITIVOS TANTO EN EL LABORATORIO COMO EN INSTALACIONES DE SINCROTRON. DETECTORES DE RADIACION\APLICACIONES EN SINCROTRONES\MICROSCOPIA ELECTRONICA\DETECTORES DE ESTADO SOLIDO\DETECCION DIRECTA
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Línea de financiación: concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2023-01-01
AEI
No se conoce la línea exacta de financiación, pero conocemos el organismo encargado de la revisión del proyecto.
Presupuesto
El presupuesto total del proyecto asciende a
145K€
Líder del proyecto
INSTITUT DE FÍSICA D`ALTRES ENERGIES
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