LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM) Y PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPY (PEEM) HAN SURGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR LAS ESTRUCTURAS DE SUPERFICIES, COMPOSICION Y PROPIEDADES ELECTRONICAS DE MATERIALES A ESC...
LOW-ENERGY ELECTRON MICROSCOPY (LEEM) Y PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPY (PEEM) HAN SURGIDO COMO HERRAMIENTAS INDISPENSABLES PARA ESTUDIAR LAS ESTRUCTURAS DE SUPERFICIES, COMPOSICION Y PROPIEDADES ELECTRONICAS DE MATERIALES A ESCALA NANOMETRICA.LOS EXPERIMENTOS DE LEEM Y PEEM PUEDEN BENEFICIARSE SIGNIFICATIVAMENTE MEDIANTE LA ADOPCION DE DETECTORES HIBRIDOS. ESTOS DETECTORES OFRECEN VENTAJAS SUSTANCIALES EN COMPARACION CON LOS DETECTORES TRADICIONALES BASADOS EN MICROCHANNEL PLATES (MCPS), INCLUYENDO UNA MEJOR SIGNAL-TO-NOISE RATIO, MAYOR SENSIBILIDAD, UN AMPLIO DYNAMIC RANGE Y MAYOR RESISTENCIA A LA EXPOSICION A FLUJOS ELEVADOS DE ELECTRONES.PARA ABORDAR LOS DESAFIOS DE EXPERIMENTOS QUE DEMANDAN CAPACIDADES DE DETECCION DE ELECTRONES DE MUY BAJA ENERGIA, EL PROYECTO EPIXCAM TIENE COMO OBJETIVO EXTENDER LA EFICIENCIA DE DETECCION PARA PARTICULAS CON ENERGIA BAJO A LOS 10 KEV MEDIANTE LA INTRODUCCION DE SENSORES DE SILICIO CON VENTANAS DE ENTRADA ULTRAFINAS, COMBINADOS CON EL NUEVO CHIP TIMEPIX4. ADEMAS, EL DESARROLLO DE UN DETECTOR DE ELECTRONES DIRECTO ULTRASENSIBLE TIENE EL POTENCIAL DE ABRIR NUEVAS FRONTERAS EN EL CAMPO EN EXPANSION DE LA MICROSCOPIA DE ELECTRONES DE BAJA TENSION (LVEM), PROPORCIONANDO DETECTORES QUE PERMITEN EL ESTUDIO EN PROFUNDIDAD DE MATERIALES MONOCAPA Y PROPIEDADES, LLEVANDO EL LIMITE DE DETECCION DEL ANALISIS DE IMAGENES Y ESPECTROSCOPIA HASTA EL NIVEL DE ATOMO UNICO PROMETIENDO UN AVANCE SIGNIFICATIVO EN EL CAMPO DE LA MICROSCOPIA DE ELECTRONES.IFAE, COMO PARTE DE LA COLABORACION MEDIPIX4, APORTA UNA COMPRENSION AVANZADA DEL READOUT Y OPERACIONES DEL TIMEPIX4 PARA EL DESARROLLO DEL PROYECTO EPIXCAM. IFAE SE ENCARGARA DEL CONCEPTO Y DEL DISEÑO DEL DETECTOR FINAL, INCLUYENDO EL DESARROLLO DE COMPONENTES ELECTRONICOS Y MECANICOS COMPATIBLES CON ULTRA HIGH VACUUM (UHV) NECESARIOS PARA LA INTEGRACION DEL SISTEMA EN MICROSCOPIOS ELECTRONICOS DE LEEM Y PEEM. APROVECHANDO LA AMPLIA EXPERIENCIA EN LA CONSTRUCCION DE DETECTORES EN DIVERSOS PROYECTOS DE FISICA DE ALTA ENERGIA Y FISICA MEDICA, IFAE SUPERVISARA LA TECNICA DE FLIP-CHIP, WIRE-BONDING Y EL MONTAJE DE LOS MODULOS DEL DETECTOR EN LAS PLACAS ELECTRONICAS. CUANDO LOS DETECTORES ESTEN LISTOS, IFAE REALIZARA UNA CARACTERIZACION EXHAUSTIVA DE LOS DISPOSITIVOS TANTO EN EL LABORATORIO COMO EN INSTALACIONES DE SINCROTRON. DETECTORES DE RADIACION\APLICACIONES EN SINCROTRONES\MICROSCOPIA ELECTRONICA\DETECTORES DE ESTADO SOLIDO\DETECCION DIRECTAver más
Seleccionando "Aceptar todas las cookies" acepta el uso de cookies para ayudarnos a brindarle una mejor experiencia de usuario y para analizar el uso del sitio web. Al hacer clic en "Ajustar tus preferencias" puede elegir qué cookies permitir. Solo las cookies esenciales son necesarias para el correcto funcionamiento de nuestro sitio web y no se pueden rechazar.
Cookie settings
Nuestro sitio web almacena cuatro tipos de cookies. En cualquier momento puede elegir qué cookies acepta y cuáles rechaza. Puede obtener más información sobre qué son las cookies y qué tipos de cookies almacenamos en nuestra Política de cookies.
Son necesarias por razones técnicas. Sin ellas, este sitio web podría no funcionar correctamente.
Son necesarias para una funcionalidad específica en el sitio web. Sin ellos, algunas características pueden estar deshabilitadas.
Nos permite analizar el uso del sitio web y mejorar la experiencia del visitante.
Nos permite personalizar su experiencia y enviarle contenido y ofertas relevantes, en este sitio web y en otros sitios web.