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EQC2018-004363-P

Financiado

Microscopio óptico interferométrico 3D

La presente solicitud tiene como objeto la adquisición de un microscopio óptico interferométrico-3D para obtener mapas tridimensionales de las superficies con precisión vertical nanométrica, Esta técnica permite el análisis rápido... ver más

01/01/2018

CSIC

124K€

Presupuesto del proyecto: 124K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2018-01-01

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Participantes

CSIC

Lider

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA...

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 124K€

Descripción del proyecto La presente solicitud tiene como objeto la adquisición de un microscopio óptico interferométrico-3D para obtener mapas tridimensionales de las superficies con precisión vertical nanométrica, Esta técnica permite el análisis rápido y sin contacto de estructuras microscópicas y nanoestructuras en superficies con una excelente resolución vertical de hasta 0,1 nm en pocos segundos, Su diseño debe ser compatible con el uso de otros modos de operación (confocal o variación de foco) que permiten adaptarse a superficies muy rugosas, con una alta relación de aspecto, El empleo de diferentes tipos de objetivos permite obtener imágenes ampliadas de la región a diferentes magnificaciones, Al tratarse de un microscopio óptico es también posible obtener las imágenes 2D convencionales operando en campo claro u oscuro, Esta herramienta de caracterización resulta fundamental para un centro de investigación básica y aplicada como el Instituto de Ciencia de los Materiales de Sevilla ICMS (CSIC-Universidad de Sevilla), Diferentes materiales estructurales (metales, polímeros, cerámicos) y funcionales, para su uso en sensores, dispositivos ópticos, microelectrónica, recubrimientos protectores o energía, son susceptibles de ser estudiados por esta técnica aportando información fundamental sobre la topografía, rugosidad, morfología y estado de la superficie de la muestra, Los investigadores del Instituto de Microelectrónica de Sevilla (IMSE-CNM), centro vecino al ICMS, podrán beneficiarse de un a

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