Se propone la adquisición de un perfilómetro óptico de altas prestaciones para completar el equipamiento del Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT) de la UCA en el ámbito de la metrología superficial de los di...
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UNIVERSIDAD DE CÁDIZ
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores1450
Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2010-01-01
No tenemos la información de la convocatoria
0%
100%
Características del participante
Este proyecto no cuenta con búsquedas de partenariado abiertas en este momento.
Información adicional privada
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Información proyecto UNCA10-1E-1001
Líder del proyecto
UNIVERSIDAD DE CÁDIZ
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores1450
Presupuesto del proyecto
185K€
Fecha límite de participación
Sin fecha límite de participación.
Descripción del proyecto
Se propone la adquisición de un perfilómetro óptico de altas prestaciones para completar el equipamiento del Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT) de la UCA en el ámbito de la metrología superficial de los dispositivos materiales que son objeto de la investigación de los Grupos adscritos a este Instituto, La adquisición de un perfilómetro óptico extendería el intervalo espacial de las medidas de texturas, espesores y características superficiales que en la actualidad se pueden medir con el equipo de fuerza atómica disponible, limitado a un máximo de 4 micras, El intervalo lateral medible con este nuevo equipo sería del orden de decenas de centímetros, con resolución nanométrica, y cubriendo alturas en los perfiles del orden de unidades de centímetro, El carácter paralelo en la adquisición de medidas de la técnica de interferometría en la que está basada el perfilómetro óptico agilizaría además el tiempo para la consecución de resultados y permitiría estudiar la cinética de posibles efectos superficiales y/o en la conformación de los materiales, en función de la temperatura, presión o irradiación, La interferometría óptica además permitiría obtener información de la homogeneidad de materiales dieléctricos transparentes en tanto que la medida se extendría más allá de la superficie, pudiendo obtener información sobre la homogeneidad en su volumen,