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UNCA10-1E-1001

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PERFILOMETRO OPTICO

Se propone la adquisición de un perfilómetro óptico de altas prestaciones para completar el equipamiento del Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT) de la UCA en el ámbito de la metrología superficial de los di... ver más

01/01/2010

UCA

185K€

Presupuesto del proyecto: 185K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CÁDIZ No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1444

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2010-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CÁDIZ No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1444

Presupuesto del proyecto 185K€

Descripción del proyecto Se propone la adquisición de un perfilómetro óptico de altas prestaciones para completar el equipamiento del Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT) de la UCA en el ámbito de la metrología superficial de los dispositivos materiales que son objeto de la investigación de los Grupos adscritos a este Instituto, La adquisición de un perfilómetro óptico extendería el intervalo espacial de las medidas de texturas, espesores y características superficiales que en la actualidad se pueden medir con el equipo de fuerza atómica disponible, limitado a un máximo de 4 micras, El intervalo lateral medible con este nuevo equipo sería del orden de decenas de centímetros, con resolución nanométrica, y cubriendo alturas en los perfiles del orden de unidades de centímetro, El carácter paralelo en la adquisición de medidas de la técnica de interferometría en la que está basada el perfilómetro óptico agilizaría además el tiempo para la consecución de resultados y permitiría estudiar la cinética de posibles efectos superficiales y/o en la conformación de los materiales, en función de la temperatura, presión o irradiación, La interferometría óptica además permitiría obtener información de la homogeneidad de materiales dieléctricos transparentes en tanto que la medida se extendría más allá de la superficie, pudiendo obtener información sobre la homogeneidad en su volumen,

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