FUNCIONALIZACION DE GRAFENO CON CONTROL A LA ESCALA ATOMICA Y CARACTERIZACION ME...
FUNCIONALIZACION DE GRAFENO CON CONTROL A LA ESCALA ATOMICA Y CARACTERIZACION MEDIANTE SPM EN ULTRA-ALTO VACIO Y BAJA TEMPERATURA
EL OBJETIVO FUNDAMENTAL DEL PRESENTE PROYECTO ES LA MODIFICACION A LA ESCALA ATOMICA DE LAS PROPIEDADES ELECTRONICAS, MAGNETICAS Y ESTRUCTURALES DE CAPAS DE GRAFENO CRECIDAS SOBRE DISTINTOS SUBSTRATOS, DICHAS SUPERFICIES DE GRAFEN...
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Descripción del proyecto
EL OBJETIVO FUNDAMENTAL DEL PRESENTE PROYECTO ES LA MODIFICACION A LA ESCALA ATOMICA DE LAS PROPIEDADES ELECTRONICAS, MAGNETICAS Y ESTRUCTURALES DE CAPAS DE GRAFENO CRECIDAS SOBRE DISTINTOS SUBSTRATOS, DICHAS SUPERFICIES DE GRAFENO SE FUNCIONALIZARAN POR MEDIO DE DIVERSOS PROCEDIMIENTOS, REALIZANDOSE SU CARACTERIZACION IN SITU MEDIANTE MICROSCOPIAS DE PROXIMIDAD O SPM, ESTO ES, MICROSCOPIOS DE EFECTO TUNEL (STM) Y DE FUERZAS ATOMICAS (AFM) EN CONDICIONES DE ULTRA-ALTO VACIO (UHV) Y A BAJAS TEMPERATURAS, GRAN PARTE DE LAS FUTURAS APLICACIONES DE ESTOS PROMETEDORES MATERIALES BIDIMENSIONALES NECESITARAN DE UN AJUSTE A MEDIDA DE ALGUNAS DE SUS PROPIEDADES NATIVAS, A FIN DE DOTARLOS DE FUNCIONALIDADES ESPECIFICAS, EN ESTE PROYECTO SE UTILIZARAN VARIAS ESTRATEGIAS PARA LA MODIFICACION DE SUPERFICIES DE GRAFENO, COMBINANDO APROXIMACIONES DE TIPO ASCENDENTE (BOTTOM-UP) CON APROXIMACIONES DESCENDENTES (TOP-DOWN), ENTRE OTRAS, SE UTILIZARA LA ADSORCION SELECTIVA Y MANIPULACION POSTERIOR DE ATOMOS DE HIDROGENO Y OTROS DEFECTOS PUNTUALES QUE POSIBILITEN LA INDUCCION DE MOMENTOS MAGNETICOS NETOS EN REGIONES ESPECIFICAS DE LAS SUPERFICIES DE GRAFENO, SE REALIZARA UNA DESORCION SELECTIVA MEDIANTE SPM DE PEQUEÑOS AGREGADOS METALICOS PREVIAMENTE AUTOORGANIZADOS SOBRE PATRONES DE MOIRE EN SUPERFICIES DE GRAFENO, LO QUE PERMITIRA VARIAR CON PRECISION NANOMETRICA LAS PROPIEDADES ELECTRONICAS DEL GRAFENO O SE MODIFICARA EL GRADO DE ACOPLAMIENTO Y DOPAJE DE LA CAPA DE GRAFENO SOBRE LOS DIFERENTES SUBSTRATOS MEDIANTE LA INTERCALACION DE DIVERSOS MATERIALES, PARA ELLO SE UTILIZARAN LOS STM DE UHV DE TEMPERATURA VARIABLE (40-400K) Y DE BAJA TEMPERATURA (4K) DESARROLLADOS EN LOS ULTIMOS AÑOS POR EL EQUIPO SOLICITANTE ASI COMO UN NUEVO DESARROLLO INSTRUMENTAL RECIENTEMENTE TERMINADO: UN AFM DE NO CONTACTO DE BAJA TEMPERATURA (4K) Y UHV, LA POSIBILIDAD DE COMBINAR MEDIDAS DE MICROSCOPIA Y ESPECTROSCOPIA DE EFECTO TUNEL CON EXPERIMENTOS DE MICROSCOPIA DE FUERZAS DE NO CONTACTO, TODO ELLO A BAJAS TEMPERATURAS Y EN CONDICIONES DE UHV, UNIDA A LA CAPACIDAD DE REALIZAR MANIPULACIONES CON PRECISION ATOMICA OFRECIDA POR AMBAS TECNICAS, PERMITIRA ABORDAR UN ANALISIS NOVEDOSO Y DE GRAN IMPACTO NACIONAL E INTERNACIONAL DE MATERIALES BASADOS EN GRAFENO, CUYO FIN ULTIMO ES LA INCORPORACION DE NUEVAS PROPIEDADES, AUSENTES EN EL GRAFENO NATIVO, QUE INCREMENTEN SU YA DE POR SI EXTRAORDINARIO POTENCIAL, NANOCIENCIA\ MICROSCOPÍA Y ESPECTROSCOPÍA DE EFECTO \ MICROSCOPÍA DE FUERZAS (AFM)\ GRAFENO\ SISTEMAS DE BAJA DIMENSIONALIDAD\ NANOESTRUCTURAS\ PROPIEDADES ELECTRÓNICAS\ MAGNETISMO.
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