ESTUDIO DE MATERIALES MODIFICADOS SUPERFICIALMENTE MEDIANTE REFLEXAFS
LA ESPECTROSCOPIA DE ABSORCION DE RAYOS X EN MODO REFLEXION, REFLEXAFS, ES UNA TECNICA NOVEDOSA QUE PROPORCIONA LA INFORMACION CARACTERISTICA DEL EXAFS, ESTRUCTURA DEL ENTORNO LOCAL DEL ELEMENTO ABSORBENTE, JUNTO CON LA OBTENIDA P...
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UNIVERSIDAD DE SEVILLA
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Total investigadores3670
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2008-01-01
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Información proyecto MAT2008-06652
Líder del proyecto
UNIVERSIDAD DE SEVILLA
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores3670
Presupuesto del proyecto
54K€
Descripción del proyecto
LA ESPECTROSCOPIA DE ABSORCION DE RAYOS X EN MODO REFLEXION, REFLEXAFS, ES UNA TECNICA NOVEDOSA QUE PROPORCIONA LA INFORMACION CARACTERISTICA DEL EXAFS, ESTRUCTURA DEL ENTORNO LOCAL DEL ELEMENTO ABSORBENTE, JUNTO CON LA OBTENIDA POR MEDIDAS DE REFLECTOMETRIA, TALES COMO RUGOSIDAD, ESPESOR DE CAPA O DENSIDAD, TODO ELLO FOCALIZADO EN LA ZONA PROXIMA A LA SUPERFICIE, PROPORCIONANDO ADEMAS LA POSIBILIDAD DE CONTROLAR EL ESPESOR ANALIZADO EN FUNCION DEL ANGULO DE INCIDENCIA DEL HAZ, EN EL RANGO DE 20 A 200 Ǻ, ASIMISMO, Y A DIFERENCIA DE OTRAS ESPECTROSCOPIAS SUPERFICIALES COMO XPS, PERMITE ACCEDER A CAPAS ¿ENTERRADAS¿, POR ELLO ES MUY UTIL PARA EL ESTUDIO DE MATERIALES CON PROPIEDADES SINGULARES EN SU SUPERFICIE, TALES COMO LOS MODIFICADOS SUPERFICIALMENTE Y LOS OBTENIDOS POR DEPOSICION DE CAPAS FINAS, HABIENDO DESARROLLANDO LOS PROTOCOLOS DE MEDIDA EN PROYECTOS PREVIOS, SE PROPONE LA APLICACION DE LA TECNICA A SISTEMAS REALES DE DOS TIPOS: ACEROS MODIFICADOS SUPERFICIALMENTE MEDIANTE NITRURACION Y MATERIALES FORMADOS POR CAPAS FINAS MIXTAS CON PROPIEDADES OPTICAS Y MAGNETICAS SINGULARES, APARTE DEL INTERES INTRINSECO DE LA TECNICA Y DE LOS SISTEMAS OBJETO DE ESTUDIO, ESTE PROYECTO TIENE RELEVANCIA EN EL MARCO DEL DESARROLLO DE LA ESPECTROSCOPIA XAS EN RELACION CON LA LINEA ESPAÑOLA DEL ESRF, SPLINE, Y DE LA NUEVA FUENTE ESPAÑOLA DE RADIACION SINCROTRON ALBA, ReflEXAFS\Fuentes de radiacion sincrotron\recubrmientos Superfciales\capas finas\aceros nitrurados