APROXIMACION MULTINIVEL AL DISEÑO ORIENTADO A LA FIABILIDAD DE CIRCUITOS INTEGRA...
APROXIMACION MULTINIVEL AL DISEÑO ORIENTADO A LA FIABILIDAD DE CIRCUITOS INTEGRADOS ANALOGICOS Y DIGITALES
EL PROYECTO MARAGDA SE ENMARCA EN EL CONTEXTO TECNOLOGICO ACTUAL EN EL QUE LA VARIABILIDAD DE LOS DISPOSITIVOS EN LAS TECNOLOGIAS CMOS MODERNAS, CON DIMENSIONES DE NANOESCALA, IMPONE UN SERIO CAMBIO DE PARADIGMA EN TODOS LOS ASPEC...
EL PROYECTO MARAGDA SE ENMARCA EN EL CONTEXTO TECNOLOGICO ACTUAL EN EL QUE LA VARIABILIDAD DE LOS DISPOSITIVOS EN LAS TECNOLOGIAS CMOS MODERNAS, CON DIMENSIONES DE NANOESCALA, IMPONE UN SERIO CAMBIO DE PARADIGMA EN TODOS LOS ASPECTOS RELACIONADOS CON EL DISEÑO DE CIRCUITOS INTEGRADOS, LOS PROCESOS DE FABRICACION INTRODUCEN HETEROGENEIDADES ENTRE COMPONENTES DE TIPO ESTADISTICO, QUE SE MANIFIESTAN COMO DESVIACIONES ALEATORIAS EN SUS CARACTERISTICAS, INCLUSO DENTRO DE UN MISMO CIRCUITO INTEGRADO, DE MANERA AÑADIDA, LOS ELEVADOS CAMPOS ELECTRICOS Y TEMPERATURAS EN LOS DISPOSITIVOS, RESULTADO DEL AGRESIVO ESCALADO, CAUSAN UNA DRASTICA AMPLIFICACION DE SUS MECANISMOS DE DEGRADACION O ENVEJECIMIENTO, QUE LLEVAN A SU VEZ A UNAS VARIACIONES DEPENDIENTES DEL TIEMPO, LA COMBINACION DE AMBOS FENOMENOS, VARIABILIDAD Y DEGRADACION, CONDUCEN A UNA NEGATIVA, ALEATORIA Y PROGRESIVA DERIVA DE LAS CARACTERISTICAS ELECTRICAS DE LOS DISPOSITIVOS, QUE CAUSA A SU VEZ UNA VARIABILIDAD PARALELA EN CIRCUITOS Y SISTEMAS, IMPACTANDO DRAMATICAMENTE AL RENDIMIENTO DE FABRICACION, A SUS PRESTACIONES Y FIABILIDAD, SI SE IMPLEMENTAN BAJO LOS PRINCIPIOS CONVENCIONALES DEL DISEÑO DE CIRCUITOS INTEGRADOS, PARA REDUCIR O EVITAR LOS EFECTOS DE LA VARIABILIDAD SE DEBEN ADOPTAR ESTRATEGIAS MULTICAPA O MULTINIVEL (EN EL FLUJO DE DISEÑO), TAL COMO SE PAUTA EN EL ITRS, EL PROYECTO MARAGDA ADOPTA ESTA APROXIMACION MULTINIVEL, DESARROLLANDO NUEVOS PRINCIPIOS Y METODOLOGIAS DE DISEÑO A TRAVES DE SUS DIVERSAS CAPAS PARA CONSEGUIR CIRCUITOS ANALOGICOS, DE SEÑAL MIXTA, RF (AMS/RF) Y DIGITALES DE ALTAS PRESTACIONES Y ELEVADA ROBUSTEZ, EN EL PROYECTO SE COORDINAN LOS CONOCIMIENTOS COMPLEMENTARIOS DE LOS TRES EQUIPOS SOLICITANTES, TODOS ELLOS CON DEMOSTRADA EXPERIENCIA EN LOS CAMPOS DE LA VARIABILIDAD Y FIABILIDAD EN NANOELECTRONICA: LA CARACTERIZACION ELECTRICA Y FIABILIDAD DE DISPOSITIVOS (UAB), LAS METODOLOGIAS DE SINTESIS DE CIRCUITOS AMS/RF (IMSE-US), EL DISEÑO DE CIRCUITOS AMS/RF (IMSE-US Y UPC) Y LAS METODOLOGIAS DE DISEÑO DE CIRCUITOS DIGITALES ADAPTATIVOS, RECONFIGURABLES Y TOLERANTES A FALLOS (UPC), MEDIANTE ESTE CONOCIMIENTO CONJUNTO Y UNA METODOLOGIA COMPARTIDA ENTRE LOS EQUIPOS, EL PROYECTO OFRECE UN ENFOQUE MULTICAPA EN EL DISEÑO DE CIRCUITOS INTEGRADOS, EL PROYECTO ANALIZA LA VARIABILIDAD Y DEGRADACION ESTADISTICA USANDO TECNICAS DE CARACTERIZACION DE ALTA RESOLUCION, CON EL OBJETIVO DE DESARROLLAR LOS MODELOS ADECUADOS, QUE COMBINADOS CON UNA EFICIENTE METODOLOGIA DE SIMULACION DE FIABILIDAD (DESARROLLADA EN EL PROYECTO), PERMITIRAN A LOS DISEÑADORES VALORAR EL IMPACTO DE LA VARIABILIDAD Y DEGRADACION A NIVEL DE DISPOSITIVO EN LAS PRESTACIONES, RENDIMIENTO Y FIABILIDAD DE LOS SISTEMAS DESARROLLADOS, ESTA METODOLOGIA PERMITIRA A SU VEZ LA INVESTIGACION DE INNOVADORAS METODOLOGIAS DE SINTESIS Y DISEÑO MULTICAPA DE CIRCUITOS AMS/RF Y DIGITAL QUE INCLUYAN TECNICAS DE ADAPTACION, RECONFIGURACION Y TOLERANCIA A FALLOS EN SISTEMAS IMPLEMENTADOS CON DISPOSITIVOS DE ULTIMAS GENERACIONES, EN MARAGDA SE CONSIDERAN TAMBIEN NUEVOS PARADIGMAS QUE EXPLORAN LAS VENTAJAS QUE PUEDEN OFRECER NUEVOS DISPOSITIVOS EMERGENTES, LO QUE CONSTITUYE TAMBIEN UN OBJETIVO FUNDAMENTAL DEL PROYECTO, EL PROYECTO INCLUYE UNA COMPLETA SERIE DE EXPERIMENTOS QUE ESTAN DESTINADOS A VERIFICAR LAS TECNICAS DE ANALISIS Y DISEÑO ASI COMO LA PRUEBA DE CONCEPTO EN LOS DIVERSOS ASPECTOS INVESTIGADOS, VARIABILIDAD\ FIABILIDAD\ CMOS\ DISPOSITIVOS EMERGENTES\ METODOLOGÍAS DE MODELADO/SIMULACIÓN/SÍN\ DISEÑO PARA VARIABILIDAD-FIABILIDAD\ SENSORES\ ADAPTACIÓN\ RECONFIGURACIÓN\ TOLERANCIA A FALLOSver más
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