Descripción del proyecto
El equipamiento se destinará a sustituir un difractómetro de R-X de muestras microcristalinas y también ampliará las capacidades técnicas de la Unidad en el análisis de sistemas nano y meso estructurados, El equipo a sustituir tiene más de 30 años, y es muy complicado conseguir recambios para su mantenimiento y reparación, Actualmente este dispositivo mide más de 800 muestras anuales, por lo que precisa una actualización para mantener la capacidad de adquisición de datos y poder resolver los problemas estructurales demandados, El nuevo equipamiento contará con dispositivos de última generación: ópticas, goniómetro, controladores de temperatura, soportes para diferentes tipos de muestras, detectores y fuentes de R-X, Servirá tanto para caracterizar muestras microcristalinas (fármacos, minerales, etc,), como para trabajar con otros tipos de muestras en condiciones ambientales, o con control de temperatura/presión, También permitirá analizar sistemas nano-estructurados (nano-partículas, films, sistemas micelares, emulsiones, etc,) y meso-estructurados (polímeros, MOFs, sólidos porosos, etc,) independientemente del estado físico de las muestras, Actualmente, la realización de este tipo de medidas (por ejemplo, dispersión a bajo ángulo y/o con control de temperatura) está siendo realizada de forma básica utilizando equipos no especializados para este tipo de experimentos, por lo que la capacidad experimental se verá incrementada significativamente con el nuevo equipamiento,