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UNSE10-1E-700

Financiado

Actualización de las aplicaciones de Difracción de Rayos X del SGI-LRX

Con la presente solicitud se pretende actualizar el SGI Laboratorio de Rayos X del CITIUS, creado en 2004, con la mejora del difractómetro de polvo con cámaras de temperatura mediante la adquisición de un nuevo sistema de espejos... ver más

01/01/2010

88K€

Presupuesto del proyecto: 88K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3667

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2010-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3667

Presupuesto del proyecto 88K€

Descripción del proyecto Con la presente solicitud se pretende actualizar el SGI Laboratorio de Rayos X del CITIUS, creado en 2004, con la mejora del difractómetro de polvo con cámaras de temperatura mediante la adquisición de un nuevo sistema de espejos de última generación para la obtención de haz paralelo de rayos X y la adquisición de una cámara de humedad que permita controlar la humedad relativa de una muestra automáticamente mediante software, También mediante la adquisición de un sistema para obtención de orientación de cristales de gran tamaño,El número de usuarios del SGI-LRX asciende a 305, pertenecientes a 68 grupos de investigación de la Universidad de Sevilla, 6 OPI y 26 empresas, El campo de aplicación de las técnicas del SGI-LRX engloba la Ciencia e Ingeniería de Materiales, Química Inorgánica, Cristalografía y Mineralogía, Geología, Química Analítica, Edafología, Química Industrial, Metalurgia, Cerámica y Materiales de Construcción, Arqueometría y Ciencias Ambientales,Con la adquisición de esta infraestructura se mejoraría sustancialmente la oferta de SGI, con lo que se espera ampliar el número de grupos de investigación que lo utilicen, para la caracterización estructural de muestras cristalinas, obtención de orientación de monocristales para su posterior corte, estudio por difracción de muestras en condiciones no ambientales, control de reacciones y cambios de fase con la humedad,,,

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