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PGC2018-101538-A-I00

Financiado

SENSADO INTELIGENTE PARA NANOMETROLOGIA EN TIEMPO REAL USANDO ELECTRONES

EXISTE UNA PREVALENCIA CRECIENTE DE CONJUNTOS DE DATOS EN CIENCIA DE MATERIALES QUE SON DEMASIADO GRANDES PARA EL ANALISIS DETALLADO DE TODOS ELLOS, POR EJEMPLO, EN EL CONTEXTO DE LA CARACTERIZACION DE MATERIALES USANDO MICROSCOPI... ver más

01/01/2018

UCA

47K€

Presupuesto del proyecto: 47K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CÁDIZ No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1444

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2018-01-01

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Participantes

UCA

Lider

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE CÁDIZ

Total investigadores 1444

Presupuesto del proyecto 47K€

Descripción del proyecto EXISTE UNA PREVALENCIA CRECIENTE DE CONJUNTOS DE DATOS EN CIENCIA DE MATERIALES QUE SON DEMASIADO GRANDES PARA EL ANALISIS DETALLADO DE TODOS ELLOS, POR EJEMPLO, EN EL CONTEXTO DE LA CARACTERIZACION DE MATERIALES USANDO MICROSCOPIA ELECTRONICA, LOS NUEVOS SENSORES BASADOS EN DETECTORES DE MATRIZ DE PIXELES (EMPAD EN INGLES) ESTAN REVOLUCIONANDO LA FORMA DE MEDIR MUESTRAS DE NANOMATERIALES CON ELECTRONES, PERO CONLLEVAN A LA GENERACION DE CONJUNTOS DE DATOS DE IMAGENES QUE SON CADA VEZ MAS VOLUMINOSOS, ADEMAS SON DEMASIADO GRANDES PARA SU PROCESAMIENTO EN TIEMPO REAL, EN CASI TODOS LOS CASOS, SOLO SE ALMACENA UN PEQUEÑO CONJUNTO SELECCIONADO MANUALMENTE DEL VOLUMEN DE INFORMACION TOTAL GENERADO, Y SE PROCESA UN SUBCONJUNTO AUN MAS PEQUEÑO,EL GRAN POTENCIAL DE LOS ACTUALES EMPAD COMO SENSORES PARA LA MICROSCOPIA ELECTRONICA SE VE OBSTACULIZADO POR EL HECHO DE QUE GENERAN CONJUNTOS DE DATOS EN BRUTO MUY GRANDES QUE SOLO SE PUEDEN PROCESAR A POSTERIORI, CON RECURSOS COMPUTACIONALES COSTOSOS Y MUCHA INTERVENCION HUMANA, NANOEYE QUIERE ATACAR EL PROBLEMA DE LA GENERACION DE BIG DATA EN EL LUGAR DONDE SE GENERAN LOS DATOS, ES DECIR, IMPLEMENTANDO METODOLOGIAS EFICIENTES PARA REDUCIR LA CANTIDAD DE DATOS SUMINISTRADOS POR LOS SENSORES,NANOEYE DESARROLLARA UNA TECNOLOGIA FACILITADORA PARA MICROSCOPIOS ELECTRONICOS QUE CONTRIBUYA A LA GENERACION EFICIENTE DE INFORMACION UTIL (NO SOLO DATOS BRUTOS) EN TIEMPO REAL, EL PROYECTO ES MULTIDISCIPLINARIO E INCLUYE EL DESARROLLO DE NUEVOS DISPOSITIVOS QUE INVOLUCRAN MICROELECTRONICA, LA NUEVA IDEA ES POTENCIAR EL USO DE SENSORES MATRICIALES EN TECNOLOGIA CMOS, DE BAJO COSTE, QUE PERMITEN LA MEDICION DE ENERGIA EN LOS PIXELES Y EL PROCESAMIENTO ULTRA RAPIDO DE LAS IMAGENES EN EL PROPIO SENSOR, LA ESPECIFICIDAD DE LOS DETECTORES QUE SE PROPONEN EN NANOEYE ES QUE CONFIGURADO POR EL USUARIO PERMITIRAN EL PROCESAMIENTO DE IMAGENES EN TIEMPO REAL, PROPORCIONANDO CAPACIDADES DE DETECCION QUE NO SE PUEDEN LOGRAR UTILIZANDO DETECTORES CONVENCIONALES,NANOEYE TIENE COMO OBJETIVO DESARROLLAR EMPAD DE VANGUARDIA QUE OFRECERAN NUEVAS HERRAMIENTAS METODOLOGICAS A TECNOLOGIAS EMERGENTES Y DE VANGUARDIA EN EL CAMPO DE LA CARACTERIZACION A ESCALA ATOMICA DE NANOMATERIALES, LAS APLICACIONES INICIALES ESTAN PREVISTAS PARA LA MICROSCOPIA ELECTRONICA IN SITU Y 4D STEM: (1) IMAGEN DE CAMPOS ELECTROMAGNETICOS CON CONTRASTE DE FASE DIFERENCIAL MEJORADO; (2) OPTIMIZACION DE IMAGENES DE ATOMOS LIGEROS; (3) MAPEO CRISTALOGRAFICO AUTOMATIZADO DE MATERIALES MULTIFASICOS; (4) MAPEO ELEMENTAL DE PERDIDA DE ENERGIA DE ELECTRONES CON SUSTRACCION DE FONDO EN TIEMPO REAL, (5) MEJORA DE CONTRASTE PARA MATERIALES BLANDOS,EL PROYECTO ES TRANSVERSAL DEBIDO AL USO GENERALIZADO DE LA MICROSCOPIA ELECTRONICA COMO HERRAMIENTA DE CARACTERIZACION EN LAS NANOCIENCIAS, TANTO PARA MATERIALES COMO PARA MUESTRAS BIOLOGICAS Y ORGANICAS, LA TECNOLOGIA QUE SE DESARROLLARA SE PUEDE APLICAR NO SOLO AL MICROSCOPIO ELECTRONICO SINO TAMBIEN A OTRAS TECNICAS DE CARACTERIZACION BASADAS EN HACES, Y POR LO TANTO CON GRAN POTENCIAL DE IMPACTO,TENIENDO EN CUENTA EL ALTO COSTE DE LOS EMPAD QUE SE COMERCIALIZAN ACTUALMENTE, EL BAJO COSTO DEL EMPAD PROPUESTO FABRICADO EN TECNOLOGIA CMOS ESTANDAR PUEDE REPRESENTAR UNA OPORTUNIDAD PARA INGRESAR AL SECTOR DE EMPAD A TRAVES DE LICENCIAS O EBT, SENSORES MICROELECTRONICOS\MICROSCOPIA ELECTRÓNICA

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