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TEC2013-48344-C2-2-P

Financiado

REALIZACION DE IMAGENES SUB-SUPERFICIALES A LA NANOESCALA MEDIANTE MICROSCOPIA D...

REALIZACION DE IMAGENES SUB-SUPERFICIALES A LA NANOESCALA MEDIANTE MICROSCOPIA DE FUERZAS ELECTROSTATICAS PARA EL DESARROLLO DE NUEVAS NANOTECNICAS TOMOGRAFICAS EN VARIOS CAMPOS DE INVESTIGACION QUE VAN DE LOS MATERIALES Y LA MICROELECTRONICA A LAS CIENCIAS DE LA VIDA EXISTE UN INCREMENTO DE LA NECESIDAD DE TECNICAS DE CARACTERIZACION CAPACES DE PROPORCIONAR MAPAS DETALLADOS 3D DE LAS PRO... ver más

01/01/2013

13K€

Presupuesto del proyecto: 13K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE BARCELONA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 328

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2013-01-01

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Participantes

Lider

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE BARCELONA

Total investigadores 328

Presupuesto del proyecto 13K€

Descripción del proyecto EN VARIOS CAMPOS DE INVESTIGACION QUE VAN DE LOS MATERIALES Y LA MICROELECTRONICA A LAS CIENCIAS DE LA VIDA EXISTE UN INCREMENTO DE LA NECESIDAD DE TECNICAS DE CARACTERIZACION CAPACES DE PROPORCIONAR MAPAS DETALLADOS 3D DE LAS PROPIEDADES ESTRUCTURALES DE LOS MATERIALES DE UNA MANERA NO DESTRUCTIVA Y SIN EL USO DE MARCADORES, EL PROYECTO COORDINADO PROPONE DESARROLLAR UNA NUEVA TECNICA TOMOGRAFICA DE CARACTERIZACION NANOMETRICA CAPAZ DE PRODUCIR IMAGENES 3D DE LA CONDUCTIVIDAD Y PERMITIVIDAD DE BAJA FRECUENCIA DE LOS MATERIALES CON RESOLUCION ESPACIAL NANOMETRICA, LA NUEVA TECNICA ESTARA BASAD EN UN MICROSCOPIO DE ESCANEO DE PROXIMIDAD MULTIELECTRODO CON ADQUISICION AUTOMATIZADA DE MULTIPLES IMAGENES 2D EN VARIAS DIRECCIONES Y CON UN ALGORITMO ESPECIFICO DE RECONSTRUCCION DE IMAGENES 3D ADAPTADO A LA CONFIGURACION DEL SISTEMA, LA PRINCIPAL VENTAJA QUE OFRECERA LA TECNICA TOMOGRAFICA ELECTRICA NANOMETRICA DESARROLLADA SERA SU APLICABILIDAD A VIRTUALMENTE CUALQUIER MATERIAL HETEROGENEO Y CONDICIONES AMBIENTALES, LO QUE PERMITIRA CUBRIR UN AMPLIO RANGO DE SITUACIONES NO ACCESIBLES A LAS TECNICAS TOMOGRAFICAS NANOMETRICA CONVENCIONALES BASADAS EN MICROSCOPIA ELECTRONICA O DE RAYOS-X, ADEMAS, APARTE DE OFRECER INFORMACION ESTRUCTURAL, LA NUEVA TECNICA OFRECERA TAMBIEN INFORMACION SOBRE LAS PROPIEDADES ELECTRICAS EN 3D A LA NANOESCALA, LO CUAL EN SI MISMO PUEDE SER MUY RELEVANTE PARA NUEVOS NANOMATERIALS PARA APLICACIONES ELECTRONICAS O ELECTROMAGNETICAS, LAS CAPACIDADES DEL NUEVO MICROSCOPIO TOMOGRAFICO SE DEMOSTRARAN DENTRO DEL PROYECTO COORDINADO CON LA REALIZACION DE MAPAS 3D DE LA DISTRIBUCION DE NANOPARTICULAS DE PLATA EN MATRICES POLIMERICAS BLANDAS Y CON LA DETECCION Y MONITORIZACION 3D DEL PROCESO DE INFECCION VIRICA DE UNA BACTERIA INDIVIDUAL VIVA, AMBOS EJEMPLOS NO SON DIRECTAMENTE ACCESIBLES MEDIANTE OTRAS TECNICAS TOMOGRAFICAS CON RESOLUCION NANOMETRICA, LA TECNICA TOMOGRAFICA DESARROLLADA EN EL PRESENTE PROYECTO SE ESPERA QUE CONTRIBUYA DECISIVAMENTE AL DESARROLLO DE NUEVOS NANOMATERIALES DE FRONTERA PARA APLICACIONES EN SALUD Y ELECTRONICA, ASI COMO EN LA REALIZACION DE IMAGENES DE NANOESTRUCTURAS EN CELULAS VIVAS LO QUE RESULTA FUNDAMENTAL PARA EL MONITOREADO DE PROCESOS DE DISTRIBUCION DE MEDICAMENTOS ASISTIDO POR NANOMATERIALES, EN EL ESTUDIO DE LA TOXICIDAD DE LOS MISMO Y EN EL ESTUDIO DE PROCESOS DE INFECCION VIRICA,EL PRESENTE SUB-PROYECTO CONTRIBUIRA AL DESARROLLO DEL SISTEMA TOMOGRAFICO DURANTE EL PRIMER AÑO DEL PROYECTO COORDINADO CON LA REALIZACION POR PRIMERA VEZ DE UN ESTUDIO SISTEMATICO DE LAS CAPACIDADES DE LA MICROSCOPIA DE FUERZAS ELECTROSTATICAS DE REALIZAR IMAGENES ELECTRICAS POR DEBAJO DE LA SUPERFICIE CON RESOLUCION ESPACIAL NANOMETRICA, PARA ELLO HARA USO INTENSIVO DE SIMULACIONES POR ELEMENTOS FINITOS DEL SISTEMA A DESARROLLAR Y REALIZARA LAS MEDIDAS MAS PRECISAS Y CON MAYOR RESOLUCION ESPACIAL DE PROPIEDADES ELECTRICAS SUB-SUPERFICIALES QUE NUNCA SE HAYAN REALIZADO CON ESTA MICROSCOPIA, LOS RESULTADOS DEL SUB-PROYECTO PROPORCIONARAN UNA FIRME BASE SOBRE LA QUE DESARROLLAR EL INSTRUMENTO TOMOGRAFICO PROPUESTO EN EL PROYECTO COORDINADO, MICROSCOPIA DE FUERZAS ELECTROSTÁTICAS\ SUB-SUPERFICIE\ NANOESCALA\ TOMOGRAFÍA\ CONSTANTE DIELÉCTRICA\ CONDUCTIVIDAD

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