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CTQ2012-36787

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OBTENCION DE MAPAS TOPOGRAFICOS EN MICROSCOPIA ELECTROQUIMICA DE BARRIDO CON MAY...

OBTENCION DE MAPAS TOPOGRAFICOS EN MICROSCOPIA ELECTROQUIMICA DE BARRIDO CON MAYOR RESOLUCION ESPACIAL Y QUIMICA PARA LA COMPRENSION DE FENOMENOS DE CORROSION EN NUESTRA SOCIEDAD DE BASE TECNOLOGICA SE REQUIEREN MATERIALES METALICOS ALTAMENTE RESISTENTES A LA CORROSION PARA UNA AMPLIA VARIEDAD DE APLICACIONES. LA RESISTENCIA DE ESTOS MATERIALES SURGE DE SU ESTADO DE PASIVIDAD, ESTO ES,... ver más

01/01/2012

ULL

59K€

Presupuesto del proyecto: 59K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 679

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2012-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 679

Presupuesto del proyecto 59K€

Descripción del proyecto EN NUESTRA SOCIEDAD DE BASE TECNOLOGICA SE REQUIEREN MATERIALES METALICOS ALTAMENTE RESISTENTES A LA CORROSION PARA UNA AMPLIA VARIEDAD DE APLICACIONES. LA RESISTENCIA DE ESTOS MATERIALES SURGE DE SU ESTADO DE PASIVIDAD, ESTO ES, LA FORMACION EN SU SUPERFICIE DE UNA PELICULA DE OXIDO ADHERENTE LE CONFIERE AUTOPROTECCION CUANDO SE ENFRENTA A UN MEDIO AGRESIVO. ESTAS PELICULAS SUPERFICIALES SE PUEDEN MODIFICAR A TRAVES DE LA INTERACCION DE MOLECULAS ORGANICAS QUE OPERAN COMO INHIBIDORES DE LA CORROSION CUANDO ELLAS CONTRIBUYEN A LA FORMACION DE PELICULAS SUPERFICIALES MUCHO MAS RESISTENTES, O BIEN ORIGINAN UNA PELICULA QUE ACTUA COMO BARRERA SOBRE LA SUPERFICIE DEL MATERIAL, SEPARANDOLO DE FORMA EFECTIVA DEL MEDIO AGRESIVO. DESAFORTUNADAMENTE, LA PERDIDA DEL REGIMEN PASIVO DANDO LUGAR A LA CORROSION LOCALIZADA PUEDE SER ESTIMULADA POR DIVERSAS CAUSAS, ORIGINANDO FALLOS CATASTROFICOS DE LOS MATERIALES. A PESAR DE LA GRAN VARIEDAD DE PROCESOS DE CORROSION LOCALIZADOS, TODOS ELLOS TIENEN CARACTERISTICAS COMUNES: TODOS ELLOS OCURREN EN SUPERFICIES PASIVAS, Y LA VELOCIDAD DE PROPAGACION DE LA CORROSION LOCALIZADA, UNA VEZ INICIADA, SUELE SER MUY ELEVADA. EL COMIENZO DE LA CORROSION LOCALIZADA ES PEQUEÑO: LAS PICADURAS SON NUCLEADAS A ESCALA MICROSCOPICA O SUBMICROSCOPICA, Y LA DETECCION DE LAS ETAPAS MAS TEMPRANAS DE LA CORROSION POR PICADO REQUIEREN MEDIDAS EN TIEMPOS MUY PEQUEÑOS Y QUE DISPONGAN DE RESOLUCION ESPACIAL.LA MICROSCOPIA ELECTROQUIMICA DE BARRIDO (SECM) ES UNA TECNICA QUE HA DEMOSTRADO SER ESPECIALMENTE APROPIADA PARA LA INVESTIGACION DE ESTOS PROCESOS COMPLEJOS. ELLA COMBINA CARACTERISTICAS DE RESOLUCION LOCAL DE UNA TECNICA DE SONDA DE PROXIMIDAD, CON EL USO DE UN MICROELECTRODO QUE ACTUA COMO ELEMENTO SENSOR, CON LO QUE SUMINISTRA SIMULTANEAMENTE RESOLUCION ELECTROQUIMICA. HASTA LA FECHA, LA RESOLUCION DEL SECM NO ES SUFICIENTE PARA DETECTAR LAS PRIMERAS ETAPAS DE LOS PROCESOS DE CORROSION POR PICADO, O VISUALIZAR MOLECULAS INDIVIDUALES INTERACTUANDO SOBRE METALES REACTIVOS. EL OBJETO DE ESTE PROYECTO ES DESARROLLAR NUEVAS METODOLOGIAS PARA LA APLICACION DE LA MICROSCOPIA ELECTROQUIMICA DE BARRIDO QUE FACILITE LA DETECCION Y EL ANALISIS DE LAS PRIMERAS ETAPAS DE LA CORROSION LOCALIZADA, ASI COMO LA CARACTERIZACION DE LAS PELICULAS PASIVAS PROTECTORAS, ADEMAS DE DETERMINAR SU REACTIVIDAD ELECTROQUIMICA. ESTOS PROCESOS SERAN EXAMINADOS EN DETALLE DESDE SU ORIGEN, Y SE PLANIFICARAN EXPERIMENTOS PARA DESARROLLAR MEJORAS EN LA RESISTENCIA DE LOS MATERIALES. EN ESTA ETAPA SE ACOMETERAN NUEVOS DESARROLLOS INSTRUMENTALES, A SABER: (1) MODIFICACION DEL MODO AC DEL SECM PARA LA MEDIDA DE IMPEDANCIAS ELECTROQUIMICAS LOCALES; (2) CONSTRUCCION DE UN SISTEMA SECM QUE PUEDA MEDIR VOLTAMETRIA CICLICA EN CADA PUNTO DEL PROCESO DE FABRICACION DE MAPAS PARA EL RECONOCIMIENTO DE ESPECIES REDOX; (3) NUEVAS RUTAS PARA LA FABRICACION DE MICROELECTRODOS SELECTIVOS Y QUE PUEDAN RELIZAR OPERACIONES MULTIPLES DE FORMA SIMULTANEA; Y (4) MEJORAR LA RESOLUCION ESPACIAL DE LA TECNICA A PARTIR DE LA COMBINACION DE SECM CON LA MICROSCOPIA DE FUERZAS ATOMICAS (AFM).

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