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TEC2015-68448-R

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NUEVOS PARADIGMAS PARA EL TEST DE CIRCUITOS INTEGRADOS DE SEÑAL MIXTA

ESTE PROYECTO PRETENDE EL DESARROLLO DE SOLUCIONES DE TEST DE BAJO COSTE, FIABLES Y VERIFICABLES PARA CIRCUITOS ANALOGICOS, DE SEÑAL MIXTA Y DE RADIO-FRECUENCIA (AMS-RF), CAPITALIZANDO EL CONOCIMIENTO DEL DISEÑADOR EXPERTO SOBRE L... ver más

01/01/2015

196K€

Presupuesto del proyecto: 196K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3671

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2015-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE SEVILLA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3671

Presupuesto del proyecto 196K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto ESTE PROYECTO PRETENDE EL DESARROLLO DE SOLUCIONES DE TEST DE BAJO COSTE, FIABLES Y VERIFICABLES PARA CIRCUITOS ANALOGICOS, DE SEÑAL MIXTA Y DE RADIO-FRECUENCIA (AMS-RF), CAPITALIZANDO EL CONOCIMIENTO DEL DISEÑADOR EXPERTO SOBRE LOS PROCESOS DE DISEÑO DE DICHOS CIRCUITOS Y SOBRE LAS LIMITACIONES DE LAS TECNICAS DE TEST DESARROLLADAS HASTA HOY, PRETENDEMOS BUSCAR NUEVOS PARADIGMAS DE TEST QUE PERMITAN ABANDONAR CON SEGURIDAD LOS METODOS DE TEST FUNCIONALES COMPLETOS TRADICIONALES, PRETENDE ASI CONTRIBUIR A LA DISMINUCION DEL COSTE DE TEST QUE REPRESENTA HOY EN DIA CERCA DE LA MITAD DEL COSTE DE FABRICACION DE UN CIRCUITO COMPLEJO, NOS CENTRAREMOS EN METODOS FUNCIONALES ALTERNATIVOS Y EN METODOS DE TEST INDIRECTOS, LOS PRIMEROS MEDIRAN PARAMETROS FUNCIONALES PERO CON TECNICAS MENOS COSTOSAS QUE LAS ESTANDARES, RELAJANDO ASI LOS REQUERIMIENTOS DE LOS EQUIPOS DE TEST, LOS SEGUNDOS, ESTARIAN ORIENTADOS A LA DETECCION DE DEFECTOS, Y PARTEN DE LA BASE DE CONSIDERAR QUE EL CIRCUITO ES CORRECTO POR CONSTRUCCION Y LO QUE SE BUSCA CON EL TEST SON INDICIOS DE SU POSIBLE DEGRADACION, ESTE PUEDE SER UN CAMBIO PARADIGMATICO DE CONSECUENCIAS MUY RELEVANTES EN LOS PRODUCTOS ELECTRONICOS ACTUALES; SI EL PROYECTO DA LOS FRUTOS ESPERADOS, ESTA METODOLOGIA PODRIA TENER UN IMPACTO SIMILAR EN LOS CIRCUITOS AMS-RF AL QUE TUVO LA INTRODUCCION DEL BOUNDARY-SCAN EN LOS CIRCUITOS DIGITALES,DADO QUE ES EXTREMADAMENTE COMPLEJO VALIDAR DE MANERA FIABLE UNA TECNICA DE TEST ANTES DE LA FABRICACION EN MASA DE LOS CIRCUITOS, PRETENDEMOS TAMBIEN EN ESTE PROYECTO ABORDAR LA PROBLEMATICA DE LA VERIFCACION DEL TEST, DESARROLLANDO MODELOS DE COMPORTAMIENTO ORIENTADOS A FACILITAR DICHA VERIFICACION DE FORMA RAPIDA Y EFICIENTE,EN ESTE CONTEXTO EL PROYECTO PRETENDE ABORDAR TRES OBJETIVOS GENERALES:1, CAPITALIZAR LA INFORMACION DEL PROCESO DE DISEÑO Y VERIFICACION DE CIRCUITOS AMS-RF, GENERANDO UNA DOCUMENTACION Y/O MODELADO AL SERVICIO DEL DESARROLLO DE LOS NUEVOS PARADIGMAS DE TEST QUE REPRESENTEN MEJORAS SIGNIFICATIVAS AL COMPROMISO CALIDAD/TEST, SE TRATA DE EXPLORAR COMO PODEMOS FORMALIZAR Y SISTEMATIZAR LO QUE CONOCEMOS DEL CIRCUITO PARA ELABORAR TEST ROBUSTOS Y FIABLES,2, DESARROLLAR SOLUCIONES DE TEST FIABLES Y VERIFICABLES PARA DICHOS CIRCUITOS, EL CAMBIO DE UN PARADIGMA DE TEST FUNCIONAL, EN EL QUE SE MIDEN LAS PRESTACIONES DE LOS CIRCUITOS PARA COMPARARLAS CON SUS ESPECIFICACIONES MEDIANTE PROCESOS ESTANDARES, A UN PARADIGMA DE TEST INDIRECTO, EN EL QUE LA DECISION DE ACEPTAR O RECHAZAR UN CIRCUITO SE TOMA EN BASE A LAS DESVIACIONES DE ALGUNAS FIRMAS, ENCIERRA UN POTENCIAL DE REDUCCION DE COSTE CONSIDERABLE,3, EXPLORAR Y DESARROLLAR METODOLOGIAS SISTEMATICAS PARA TEST FUNCIONALES DE BAJO COSTE NO SOLO PARA LA VALIDACION DE PRODUCTOS EN LA FASE POST-FABRICACION, SINO TAMBIEN CON VISTA A SU APLICACION EN ESQUEMAS BIST PARA UN TEST ON-LINE, COMO VEHICULOS PARA LA PRUEBA DE CONCEPTO USAREMOS PRIORITARIAMENTE PROTOTIPOS CMOS YA REALIZADOS POR EL EQUIPO SOLICITANTE, EN CONCRETO, CONVERTIDORES ANALOGICO-DIGITALES (ADC) DE ALTAS PRESTACIONES (> 12BITS Y HASTA 100MS/S) Y BLOQUES CONSTITUTIVOS DE FRONT-ENDS RF PARA TRANSCEPTORES INALAMBRICOS, ALGUNOS DE ESTOS DISEÑOS TENDRAN QUE SER ADAPTADOS PARA LA INCORPORACION DE CIRCUITERIA ADICIONAL QUE FACILITE LA ACCESIBILIDAD A CIERTAS SEÑALES, ASI COMO PARA LA IMPLEMENTACION DE LAS TECNICAS DFT O BIST DERIVADAS DE LOS NUEVOS PARADIGMAS DE TEST DESARROLLADOS, CIRCUITOS INTEGRADOS ANALÓGICOS\MIXTOS Y DE RADIO FRECUENCIA. MICROELECT\BIST. ALTERNATE TEST

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