Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FE-SEM)
Esta propuesta plantea la adquisición de un microscopio electrónico de barrido (SEM) de última generación con detector EDX incluido, capaz de alcanzar resolución sub-nanométrica y contraste óptimo en diversos modos de imagen simul...
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Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2013-01-01
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Descripción del proyecto
Esta propuesta plantea la adquisición de un microscopio electrónico de barrido (SEM) de última generación con detector EDX incluido, capaz de alcanzar resolución sub-nanométrica y contraste óptimo en diversos modos de imagen simultáneos (topografía, composición, estructura), altamente versátil en cuanto a características de las muestras (conductividad, magnetismo, sensibilidad al haz de electrones) y con capacidad de añadir técnicas de caracterización analítica adicionales en un futuro, El equipo se ubicará en el Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM), y su adquisición cuenta con el respaldo científico y el compromiso de cofinanciación de todos los grupos de investigación del centro, Mediante su integración en el servicio de micro y nanofabricación del IMM (MiNa), el microscopio será accesible a empresas y grupos externos con necesidades de caracterización en el límite de las capacidades de la microscopía electrónica y que actualmente no pueden ser satisfechas en el entorno de la región madrileña, Además, representa una sólida aportación para el establecimiento de una futura plataforma de nanofabricación en el marco del Campus de Excelencia Internacional UAM+CSIC, que agrupa un conjunto de recursos tecnológicos y equipos científicos para ponerlo al servicio de grupos y empresas con actividad en nanociencia y nanotecnología,