Hola,
¿eres nuevo aquí?

Regístrate gratis y conecta tu empresa con financiación pública, partners y proyectos.

Tengo cuenta

Regístrate

Ver video

CSIC13-4E-1794

Financiado

Microscopio Electrónico de Barrido de Emisión de Campo (FE-SEM)

Esta propuesta plantea la adquisición de un microscopio electrónico de barrido (SEM) de última generación con detector EDX incluido, capaz de alcanzar resolución sub-nanométrica y contraste óptimo en diversos modos de imagen simul... ver más

01/01/2013

CSIC

535K€

Presupuesto del proyecto: 535K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2013-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

0% 100%

Información adicional privada

No hay información privada compartida para este proyecto. Habla con el coordinador.

Participantes

CSIC

Lider

Conecta tu I+D

¿Tienes un proyecto y buscas un partner? Gracias a nuestro motor inteligente podemos recomendarte los mejores socios y ponerte en contacto con ellos. Te lo explicamos en este video

Proyectos interesantes

CSIC08-2E-023 Microscopio Electrónico de Barrido con Emisión de Campo (FE-... 484K€ Cerrado

UNPC08-4E-008 Adquisición de un espectrómetro de energía dispersiva de ray... 69K€ Cerrado

UNC313-4E-2074 Adquisición de un microscopio electrónico de barrido de emis... 400K€ Cerrado

UNCA15-CE-3482 Sustitución del Microscopio Electrónico de Barrido-Transmisi... 996K€ Cerrado

UNCA08-1E-040 Portamuestras para Microscopía Electrónica de Transmisión Av... 82K€ Cerrado

EQC2021-007128-P MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE ULTRA-ALTA RESOLUCIÓN... 1K€ Cerrado

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 535K€

Descripción del proyecto Esta propuesta plantea la adquisición de un microscopio electrónico de barrido (SEM) de última generación con detector EDX incluido, capaz de alcanzar resolución sub-nanométrica y contraste óptimo en diversos modos de imagen simultáneos (topografía, composición, estructura), altamente versátil en cuanto a características de las muestras (conductividad, magnetismo, sensibilidad al haz de electrones) y con capacidad de añadir técnicas de caracterización analítica adicionales en un futuro, El equipo se ubicará en el Instituto de Microelectrónica de Madrid (IMM), y su adquisición cuenta con el respaldo científico y el compromiso de cofinanciación de todos los grupos de investigación del centro, Mediante su integración en el servicio de micro y nanofabricación del IMM (MiNa), el microscopio será accesible a empresas y grupos externos con necesidades de caracterización en el límite de las capacidades de la microscopía electrónica y que actualmente no pueden ser satisfechas en el entorno de la región madrileña, Además, representa una sólida aportación para el establecimiento de una futura plataforma de nanofabricación en el marco del Campus de Excelencia Internacional UAM+CSIC, que agrupa un conjunto de recursos tecnológicos y equipos científicos para ponerlo al servicio de grupos y empresas con actividad en nanociencia y nanotecnología,

Conecta tu I+D

Entra hoy

¿Olvidé mi contraseña?

Financiación

Empresas

CTIs/Universidades

Proyectos

Investigadores