Microscopio de fuerzas atómicas de alta resolución para el desarrollo de nuevos...
Microscopio de fuerzas atómicas de alta resolución para el desarrollo de nuevos métodos de caracterización de dispositivos nanoelectrónicos y nanomecánicos
Esta propuesta contempla la adquisición de un microscopio de fuerzas AFM de última generación que combine la máxima resolución y calidad de imagen con la máxima versatilidad en cuanto al tamaño y características de las muestras y...
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Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2010-01-01
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Descripción del proyecto
Esta propuesta contempla la adquisición de un microscopio de fuerzas AFM de última generación que combine la máxima resolución y calidad de imagen con la máxima versatilidad en cuanto al tamaño y características de las muestras y la capacidad de medida de propiedades de diferente naturaleza mediante modos de funcionamiento avanzados, Los equipos disponibles en el entorno del BCN-b (Barcelona Nanocluster-Bellaterra) son microscopios que no combinan tales capacidades, es decir, o bien están especializados en imágenes de alta resolución y presentan importantes restricciones en cuanto a las muestras y sus propiedades, o bien son menos restrictivos a costa de una reduccion de sus prestaciones, Por otra parte, la ubicación del nuevo instrumento en el IMB-CNM servirá para complementar con la capacidad de nanometrología de alta resolución a los recursos propios de la ICTS "Sala Blanca Integrada de Micro y Nanofabricación", que dispone actualmente de un AFM convencional destinado a proporcionar soporte de los recursos de nano y microfabricación de la ICTS, A la propuesta participan tres grupos de investigación con experiencia y excelencia comprobada en AFM, pertenecientes a los tres institutos del CSIC del campus de la UAB con actividad en Nanociencia y Nanotecnología,