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MAT2014-58729-JIN

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MICROSCOPIA ELECTRONICA PARA LA CARACTERIZACION CON RESOLUCION ATOMICA DE MATERI...

MICROSCOPIA ELECTRONICA PARA LA CARACTERIZACION CON RESOLUCION ATOMICA DE MATERIALES FUNCIONALES PARA FINES TECNOLOGICOS EL OBJETIVO DE MICCRAFT ES EL USO COMBINADO DE LAS TECNICAS MAS NOVEDOSAS EN IMAGEN Y ESPECTROSCOPIA ASOCIADA A LA MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION CON RESOLUCION A ESCALA ATOMICA PARA LLEVAR A CABO LA CARACTERIZACION ESTRUC... ver más

01/01/2014

UCM

121K€

Presupuesto del proyecto: 121K€

Líder del proyecto

Universidad Complutense de Madrid No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3277

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2014-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

Universidad Complutense de Madrid No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3277

Presupuesto del proyecto 121K€

Descripción del proyecto EL OBJETIVO DE MICCRAFT ES EL USO COMBINADO DE LAS TECNICAS MAS NOVEDOSAS EN IMAGEN Y ESPECTROSCOPIA ASOCIADA A LA MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION CON RESOLUCION A ESCALA ATOMICA PARA LLEVAR A CABO LA CARACTERIZACION ESTRUCTURAL, QUIMICA Y DE LA ESTRUCTURA ELECTRONICA DE MATERIALES FUNCIONALES, EL ESTUDIO DE LOS FENOMENOS FISICOS CON RESOLUCION ATOMICA ES UN CAMPO EMERGENTE DE LA INVESTIGACION, INALCANZABLE HACE TAN SOLO UNA DECADA DEBIDO A LA LIMITACION EN EL DESARROLLO DE LA INSTRUMENTACION, HOY EN DIA LA EXITOSA IMPLEMENTACION DE CORRECTORES DE ABERRACION ESFERICA A MICROSCOPIOS ELECTRONICOS DE TRANSMISION HA ABIERTO LA POSIBILIDAD DE INVESTIGAR LA MATERIA CON UNA SENSIBILIDAD Y RESOLUCION ESPACIAL SIN PRECEDENTES, LO QUE PERMITE HACER FRENTE A CUESTIONES DE LA CIENCIA DE LOS MATERIALES HASTA EL MOMENTO SIN RESPUESTALA INVESTIGACION PROPUESTA SE CENTRA EN DOS GRUPOS DE NANOMATERIALES AVANZADOS PARA LA CONSERVACION DEL MEDIO AMBIENTE: (I) NANO-OXIDOS MIXTOS BASADOS EN MANGANESO, A‐MN‐O (A=SR,CA), DE ALTA SUPERFICIE Y CAPACIDAD COMO DONADORES Y ACEPTORES DE OXIGENO CON POTENCIALES APLICACIONES COMO CATALIZADORES Y (II) NANOESTRUCTURAS BASADAS EN NITRUROS GAN/INGAN PARA LA FABRICACION DE DIODOS EMISORES DE LUZ (LEDS) EN EL RANGO VISIBLE‐UV, MICCRAFT PRETENDE APORTAR UN NUEVO ENFOQUE Y POR TANTO INFORMACION NOVEDOSA A NIVEL LOCAL SOBRE ESTOS MATERIALES QUE SERVIRA DE AYUDA PARA SU DISEÑO Y PERFECCIONAMIENTO, EL RETO PRINCIPAL ES QUE, A PARTIR DEL ESTUDIO MEDIANTE MICROSCOPIA CON CORRECTORES DE ABERRACION ESFERICA, SE OPTIMICEN LOS PROCESOS DE SINTESIS Y CRECIMIENTO DE LOS MATERIALES EN BASE A LA CARACTERIZACION MORFOLOGICA Y ESTRUCTURAL, MIENTRAS QUE EL ANALISIS DE LA ESTRUCTURA ELECTRONICA (ENTORNOS DE COORDINACION Y ESTADO DE OXIDACION) PROPORCIONARA DATOS CLAVE PARA LA COMPRENSION DE SUS PROPIEDADES FISICAS, ADEMAS DE IMPULSAR LA CARACTERIZACION ANALITICA DE LOS MATERIALES, MICCRAFT BUSCA PROMOVER EL EMPLEO DE LAS TECNICAS ASOCIADAS A TEM QUE PERMITAN VISUALIZAR ATOMOS LIGEROS QUE, COMO EN EL CASO DE LOS MATERIALES OBJETO DE ESTUDIO, JUEGAN UN PAPEL CRUCIAL EN SUS PROPIEDADES FUNCIONALES, EL RESULTADO DE LA INVESTIGACION PROPUESTA DEBE REPERCUTIR EN UN MAYOR CONTROL DEL IMPACTO QUE TIENE LA VARIACION CATIONICA Y ANIONICA EN LA ESTRUCTURA CRISTALINA DE ESTOS NANOMATERIALES Y, COMO CONSECUENCIA, EN SUS PROPIEDADES FUNCIONALES,PARA LLEVAR A CABO ESTE PROYECTO SE HARA USO DE LAS FACILIDADES TECNOLOGICAS DEL CENTRO NACIONAL DE MICROSCOPIA ELECTRONICA, EQUIPADO CON UN MICROSCOPIO ELECTRONICO DE ABERRACION CORREGIDA (JEOL‐JEMARM200CF) Y QUE PLANEA LA INSTALACION DE UN NUEVO MICROSCOPIO ELECTRONICO CON CORRECTOR DE ABERRACION ESFERICA EN LA LENTE OBJETIVO (JEOL JEMARM300F) A PARTIR DE ENERO DE 2015, EL PROYECTO PERMITIRA DISEÑAR PROGRAMAS DE INVESTIGACION JUNTO A DIFERENTES GRUPOS DE RECONOCIDO PRESTIGIO INTERNACIONAL ASI COMO LA TRANSFERENCIA DE CONOCIMIENTO, FAVORECIENDO LA FORMACION DE FUTUROS MICROSCOPISTAS, DEBIDO A LA AMPLITUD DE CONCEPTOS, METODOS Y TECNICAS PROPUESTOS, ASI COMO EL INTERES CIENTIFICO DE LOS MATERIALES ESTUDIADOS, ES DE ESPERAR LA PRODUCCION DE RESULTADOS CIENTIFICOS ALTAMENTE COMPETITIVOS PARA SU PUBLICACION EN REVISTAS CIENTIFICAS CON RECONOCIMIENTO INTERNACIONAL Y SU DIFUSION EN CONGRESOS NACIONALES E INTERNACIONALES, ADEMAS, LA SINGULARIDAD DE LOS MATERIALES PROPUESTOS Y LA RELEVANCIA DE SUS POTENCIALES PROPIEDADES FUNCIONALES LOS HACEN APTOS PARA SER ORIGEN DE NUEVAS PATENTES, ABERRACIÓN CORREGIDA\MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA\NANOÓXIDOS\CATALIZADORES\NITRUROS SEMICONDUCTORES\LEDS\EELS\HAADF\ABF

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