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MAT2013-46753-C2-2-P

Financiado

MATERIALES BIDIMENSIONALES CON PROPIEDADES MODULABLES

EL OBJETIVO PRINCIPAL DE ESTE PROYECTO ES LA OBTENCION DE MATERIALES BIDIMENSIONALES CON PROPIEDADES MODULABLES, ESTE OBJETIVO GLOBAL SE ABORDARA POR DOS RUTAS CLARAMENTE DIFERENCIADAS: I) DISEÑO QUIMICO DE LOS MATERIALES (COFS Y... ver más

01/01/2013

UAM

99K€

Presupuesto del proyecto: 99K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE MADRID No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3181

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2013-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD AUTÓNOMA DE MADRID No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 3181

Presupuesto del proyecto 99K€

Descripción del proyecto EL OBJETIVO PRINCIPAL DE ESTE PROYECTO ES LA OBTENCION DE MATERIALES BIDIMENSIONALES CON PROPIEDADES MODULABLES, ESTE OBJETIVO GLOBAL SE ABORDARA POR DOS RUTAS CLARAMENTE DIFERENCIADAS: I) DISEÑO QUIMICO DE LOS MATERIALES (COFS Y MOFS)II) MODIFICACION FISICA DE MATERIALES DERIVADOS DE CRISTALES INORGANICOS, ESTOS DOS TIPOS DE POLIMEROS ESTAN TODAVIA POR ESTUDIAR Y SE ESPERA QUE TENGAN ALTO IMPACTO EN APLICACIONES TECNOLOGICAS, LOS MATERIALES A ESTUDIAR SE SELECCIONARAN BASANDOSE EN LOS SIGUIENTES CRITERIOS: I) POSIBILIDAD DE DISEÑO BASADO EN METODOS SINTETICOS CON EL FIN DE PRODUCIR POLIMEROS A LA CARTA EN TERMINOS DE ESTRUCTURA Y PROPIEDADES, II) ADECUACION PARA LA INTRODUCCION CONTROLADA DE DEFECTOS DE CARACTER ATOMICO QUE PERMITA LA VARIACION DE SU ESTRUCTURA Y PROPIEDADES,EL TRABAJO DE INVESTIGACION DE CENTRARA EN DOS ASPECTOS DIFERENCIADAS, POR UN LADO LA PRODUCCION DE LOS MATERIALES MENCIONADOS EN FORMA DE LAMINA DE GROSOR ATOMICO O MOLECULAR Y SU CARACTERIZACION A DIFERENTES ESCALAS, DESDE EL CRISTAL MACROSCOPICO HASTA LA LAMINA NANOMETRICA, EN PARTICULAR NUESTROS ESFUERZOS IRAN DIRIGIDOS AL DESARROLLO DE METODOS Y PROTOCOLOS DE BAJO COSTE QUE PERMITAN OBTENER ESTOS MATERIALES EN CANTIDADES MULTIGRAMO, EN LA TAREA DE CARACTERIZAR ESTOS MATERIALES NUESTRA PROPUESTA INCLUYE EL DISEÑO Y CONSTRUCCION DE INSTRUMENTACION QUE NOS PERMITA UNA PRECISA CARACTERIZACION DE MATERIALES BIDIMENSIONALES, ESTAS TAREAS DE DESARROLLO ESTAN CONECTADAS CON VARIAS EMPRESAS, ALGUNAS SPIN-OFF DE LA UNIVERSIDAD Y OTRAS NO, INTERESADAS EN LA COMERCIALIZACION DE ESTA NUEVA TECNOLOGIA, ESTA NUEVA PROPUESTA PUEDE CONSIDERARSE UNA EXTENSION DE NUESTROS TRES PROYECTOS ANTERIORES: MATERIALES DE BAJA DIMENSIONALIDAD PARA NANOELECTRONICA Y "SINTESIS Y CARACTERIZACION DE HILOS MOLECULARES I Y II, MIENTRAS QUE EN LOS PROYECTOS ANTERIORES EL FOCO PRINCIPAL ESTABA PUESTO EN MATERIALES DE UNA DIMENSION, ES DECIR HILOS MOLECULARES, ESTA NUEVA PROPUESTA EVOLUCIONA PARA CENTRARSE AHORA EN UNA NUEVA FAMILIA DE MATERIALES BI-DIMENSIONALES, ESTA EVOLUCION, DE UNA A DOS DIMENSIONES, SIGUE LA TENDENCIA QUE SE HA PRODUCIDO EN LOS MATERIALES BASADO EN CARBONO, DONDE EL GRAFENO HA TOMADO EL RELEVO CIENTIFICO- TECNOLOGICO DE MATERIALES COMO LAS FIBRAS Y LOS NANOTUBOS DE CARBONO, LOS PROYECTOS ANTERIORES LLEVADOS A CABO POR ESTE CONSORCIO HAN SIDO MUY EXITOSOS TANTO EN TERMINOS DE PUBLICACIONES CIENTIFICAS (INCLUYENDO ARTICULOS EN NATURE NANOTECHNOLOGY, NATURE COMMUNICATIONS, ADVANCED MATERIALS) ASI COMO EN TERMINOS DE TRANSFERENCIA DE TECNOLOGIA, DURANTE LOS ULTIMOS AÑOS HEMOS REALIZADO VARIAS PATENTES NACIONALES E INTERNACIONALES Y HEMOS CREADO LA EMPRESA NANOINNOVA S,L,, SPIN OFF DE LA UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID, DEDICADA AL DESARROLLO Y VENTA DE INSTRUMENTACION PARA NANOTECNOLOGIA,BASANDONOS EN NUESTRO TRABAJO PREVIO Y EN NUESTRAS EXPECTATIVAS PARA ESTA PROPUESTA ESPERAMOS QUE DE NUEVO ESTE PROYECTO SEA SATISFACTORIO TANTO EN GENERACION DE CONOCIMIENTOS BASICOS COMO EN TRANSFERENCIA DE ESTOS A LA SOCIEDAD, MATERIALES BAJA DIMENSIONALIDAD\ MATERIALES BIDIMENSIONALES\ COVALENT ORGANIC FRAMEWORKS\ METAL-ORGANIC FRAMEWORKS\ GRAFENO\ DEFECTOS\ ELASTICIDAD CONDUCTIVIDAD ELECTRICA\ SCANNING PROBE MICROSCOPY

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