Espectrómetro Raman confocal dispersivo de alta resolución
La Espectroscopía Raman Intensificada en Superficie, SERS es de amplia aplicación a las interfases metal/disolución, Una línea actual de trabajo en nuestro Instituto se basa en el depósito de nanopartículas de metal sobre un sustr...
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UNIVERSIDAD DE ALICANTE
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores1053
Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2008-01-01
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Información adicional privada
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Información proyecto UNAL08-3E-001
Líder del proyecto
UNIVERSIDAD DE ALICANTE
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores1053
Presupuesto del proyecto
193K€
Fecha límite de participación
Sin fecha límite de participación.
Descripción del proyecto
La Espectroscopía Raman Intensificada en Superficie, SERS es de amplia aplicación a las interfases metal/disolución, Una línea actual de trabajo en nuestro Instituto se basa en el depósito de nanopartículas de metal sobre un sustrato inactivo en SERS (metales no rugosos, grafito, etc¿), Se emplean nanopartículas de Pt, Pd y Rh de unos pocos nanómetros, así como alguna de sus aleaciones binarias, todas ellas sintetizadas mediante microemulsiones, En los estudios de adsorbatos por Espectroscopía Raman de Resonancia nos estamos centrando principalmente en el estudio del comportamiento fotocatalítico y electroquímico de capas finas nanoestructuradas de semiconductores y su aplicación en fotoelectrocatálisis heterogénea y en dispositivos fotovoltaicos, Asimismo, se pretende estudiar también la interfase de electrodos nanoestructurados de óxidos con disoluciones electrolíticas, mediante la aplicación de SERS de capas de partículas semiconductoras, Por último, en los estudios de caracterización de nanopartículas y de capas nanoestructuradas de semiconductores, la espectroscopia Raman es una técnica de gran utilidad en la caracterización de capas nanoestructuradas de semiconductores, que permite la identificación de materiales, la determinación de su cristalinidad, orientación, etc, Operar aquí con una alta resolución espectral es de suma conveniencia, Se propone adquirir un espectrómetro Raman confocal dispersivo de alta resolución que permita también el empleo de láseres de UV,