Espectrómetro de emisión de rayos X blandos para microsonda electrónica (SXES)
El espectrómetro de emisión de rayos X blandos consiste en un sistema de rejillas de difracción de espaciado variable y una cámara CCD de rayos X de alta sensibilidad. Es un potente espectrómetro de alta resolución en energía y al...
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Descripción del proyecto
El espectrómetro de emisión de rayos X blandos consiste en un sistema de rejillas de difracción de espaciado variable y una cámara CCD de rayos X de alta sensibilidad. Es un potente espectrómetro de alta resolución en energía y alta sensibilidad, diseñado para detectar rayos X de muy bajas energías (50 eV- 200 eV) de una manera eficiente. Acoplado a una microsonda electrónica, permite realizar, no sólo análisis elemental, sino también análisis de estado químico de elementos ligeros a escala micrométrica. La adquisición de rayos X se realiza en paralelo y también permite la obtención de mapas bidimensionales. La caracterización de materiales por espectroscopía de rayos X con electrones se basa generalmente en el análisis de elementos pesados. Sin embargo, los elementos ligeros juegan a menudo un papel muy importante en las propiedades de muchos materiales. Proponemos ampliar las capacidades analíticas y espectroscópicas de una microsonda electrónica mediante la incorporación de un espectrómetro de rayos X blandos de alta resolución. Esto nos permitirá realizar análisis elemental y de estado químico, a escala micrométrica, de elementos ligeros como el Li, B, N, C, Mg o Al (y otros), que son clave para el desarrollo de nuevos materiales, y en especial el Li, que es un componente crítico para la fabricación de baterías para automóviles eléctricos, y mejorar así el soporte a la investigación en un amplio abanico de aplicaciones críticas.
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