Descripción del proyecto
El objetivo central de esta solicitud es expandir las posibilidades analíticas del Microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 recientemente incorporado a la División de Microscopía Electrónica de los SC-ICYT de la Universidad de Cádiz mediante la adquisición de porta-muestras avanzados de microscopía electrónica, así como mediante la posibilidad de reducir el voltaje de trabajo a 60kV, extendiendo así el uso de este microscopio a materiales sensibles a daños por irradiación, en condiciones distintas a las habituales en microscopios convencionales, Se propone, en primer lugar, la adquisición de un portamuestras de doble inclinación de transferencia en vacío, que permitiría el estudio analítico de las muestras estudiadas en condiciones cuasi in-situ, tras un tratamiento en atmósfera controlada, Se propone igualmente la adquisición de un porta-muestras comercial que permita, gracias a su diseño y su gran intervalo de giro, la adquisición de series tomográficas en modo X-EDS para generar mapas composicionales en tres dimensiones, Finalmente se propone la incorporación del alineamiento a 60 kV del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300, A través de esta incorporación se amplía las posibilidades de uso del microscopio FEI TITAN3 Themis 60-300 a otros materiales, de importancia tecnológica, creándose una línea nueva de investigación en nuestra Universidad,