Descripción del proyecto
El objeto de esta solicitud es la adquisición de un difractómetro de rayos X modelo Xcalibur S system, de la compañía OD (Oxford Diffraction Ltd,), Este sistema es capaz de medir difracción de rayos X sobre monocristal y sobre muestras policristalinas (difractogramas de polvo), En la actualidad, este tipo de medidas de difracción, muy utilizadas por diversos grupos del Instituto y absolutamente necesarias para sus líneas prioritarias, se vienen llevando a cabo fundamentalmente en un equipo de difracción de rayos X kappa CCD del SCSIE (Servei Central de Suport a la Investigació Experimental), Sin embargo este equipo tiene una antigüedad de más de 6 años, y ha quedado desfasado en cuanto a la calidad y resolución de los datos que ofrece, ante la aparición en el mercado de los equipos de Oxford Diffraction Ltd,, que ofrecen una intensidad de radiación hasta tres veces superior, y una sensibilidad de detección varios órdenes de magnitud, El equipo que se pretende adquirir permitirá ampliar el número de medidas ya que es mucho más rápido, eficaz y sensible que el equipo disponible en la actualidad en el SCSIE, lo que permitirá realizar medidas estructurales en sistemas de baja cristalinidad y en cristales de muy pequeño tamaño, que ahora mismo están siendo desechados ante la imposibilidad de conseguir datos de calidad suficiente para su análisis estructural, Además, su instalación en el Instituto facilitará el acceso al mismo a los grupos interesados,