CARACTERIZACION OPTICA DE OBLEAS Y CELULAS TANDEM EN SILICIO DE BAJO COSTE
EL PRESENTE SUBPROYETO TIENE COMO OBJETIVO LA CARACTERIZACION DE OBLEAS Y CELULAS SOLARES DE ALTA EFICIENCIA FABRICADAS A PARTIR DE SILICIO DE BAJO COSTE, COMPLEMENTADAS CON CELULAS DE SILICIO GERMANIO EN UNA ESTRUCTURA TANDEM MO...
EL PRESENTE SUBPROYETO TIENE COMO OBJETIVO LA CARACTERIZACION DE OBLEAS Y CELULAS SOLARES DE ALTA EFICIENCIA FABRICADAS A PARTIR DE SILICIO DE BAJO COSTE, COMPLEMENTADAS CON CELULAS DE SILICIO GERMANIO EN UNA ESTRUCTURA TANDEM MONOLITICA, EN COORDINACION CON LOS OTROS SUB-PROYECTOS (UAM, UPM, UPV), ESTA CARACTERIZACION DEBE PROPORCIONAR INFORMACION RELEVANTE DE CARA A LA MEJORA DE LOS PROCESOS DE PRODUCCION DE SILICIO, DEL PROCESADO DE DISPOSITIVOS ULTRADELGADOS (ESPESORES POR DEBAJO DE 50 MICRAS, FRENTE A 180 MICRAS ACTUALES), DE LA IMPLEMENTACION DE UNA ESTRUCTURA DE CONTACTOS POSTERIORES INTERDIGITADOS, Y DE LA DEPOSICION DE LA ESTRUCTURA DE SILICIO GERMANIO EN LA PARTE POSTERIOR, EN EL MARCO DEL PROYECTO COORDINADO TABACO, ESTE SUBPROYECTO CARO TABACO DEBE PROPORCIONAR EL CONOCIMIENTO QUE CONTRIBUYA A LA OPTIMIZACION DEL SISTEMA DE CRECIMIENTO DSS-HEM DESARROLLADO POR LA UAM, ANALIZANDO EN DETALLE LA CALIDAD DE LAS OBLEAS OBTENIDAS; ESTUDIARA, EN PARTICULAR, LA CALIDAD DE LAS OBLEAS OBTENIDAS A PARTIR DE SI DE GRADO SOLAR (DE BAJO COSTE), SUMINISTRADO GRACIAS A LA COLABORACION CON LA EMPRESA SI-FERROSOLAR (FERROATLANTICA); EVALUARA LA CALIDAD DE LAS OBLEAS ULTRADELGADAS, ANALIZANDO EL EFECTO DEL ESPESOR SOBRE LA CALIDAD CRISTALINA Y SOBRE LAS TENSIONES RESIDUALES CON OBJETO DE MINIMIZAR LAS FRACTURAS; SE ANALIZARA EN DETALLE LA CALIDAD DE LAS CAPAS DE SILICIO AMORFO (A-SI) Y DE SIGE DEPOSITADAS (POR UPM) EN DIFERENTES ETAPAS DEL PROCESO TECNOLOGICO CONDUCENTE A LA CELULA TANDEM FINAL, A-SI/MC-SI/SIGE; SE CARACTERIZARAN ASI MISMO, LAS CELULAS SOLARES OBTENIDAS TRAS LA OPTIMIZACION DE LOS PROCESOS DE FABRICACION, ANALIZANDO EN DETALLE EL IMPACTO DE LOS TRATAMIENTOS TERMICOS, CONFINAMIENTO DE LA LUZ, DISEÑO DE LOS CONTACTOS POSTERIORES, DESARROLLO DE LA CELULA POSTERIOR DE SILICIO GERMANIO Y SU INTEGRACION EN LA ESTRUCTURA, ETC, (LABORES REALIZADAS POR UPM Y UPV), ESTA LABOR DE CARACTERIZACION SE HARA SOBRE LA BASE DE LAS TECNICAS DISPONIBLES EN LA UVA, ADEMAS SE PRETENDE OPTIMIZAR LA CARTOGRAFIA POR FOTOLUMINISCENCIA EXTENDIENDO EL RANGO ESPECTRAL AL INFRARROJO Y LA REALIZACION DE UN SISTEMA DE BAJO COSTE DE CARACTERIZACION DE CELULAS Y MODULOS FOTOVOLTAICOS BASADO EN LA TECNICA DE IMAGEN DE ELECTROLUMINISCENCIA USANDO CAMARAS COMERIALES DE BAJO COSTE (EN COLABORACION CON ENERTIS), SI MULTICRISTALINO\CARACTERIZACIÓN\DEFECTOS\SIGE\ALTA EFICIENCIA\BAJO COSTEver más
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