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DPI2015-69403-C3-1-R

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CARACTERIZACION METROLOGICA DE SUPERFICIES MICROESTRUCTURADAS

EN LAS ULTIMAS DECADAS, LA COMPRENSION EN EL FUNCIONAMIENTO DE CIERTOS FENOMENOS SUPERFICIALES, PARTICULARMENTE EN LA ESCALA MICROMETRICA Y SUBMICROMETRICA HA JUGADO UN PAPEL FUNDAMENTAL PARA LOS AVANCES EN MUY DIVERSOS CAMPOS DE... ver más

01/01/2015

UNIZAR

172K€

Presupuesto del proyecto: 172K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE ZARAGOZA. OFICINA DE TRANSFERE... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2015-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDAD DE ZARAGOZA. OFICINA DE TRANSFERE... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Sin perfil tecnológico

Presupuesto del proyecto 172K€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto EN LAS ULTIMAS DECADAS, LA COMPRENSION EN EL FUNCIONAMIENTO DE CIERTOS FENOMENOS SUPERFICIALES, PARTICULARMENTE EN LA ESCALA MICROMETRICA Y SUBMICROMETRICA HA JUGADO UN PAPEL FUNDAMENTAL PARA LOS AVANCES EN MUY DIVERSOS CAMPOS DE INVESTIGACION: ELECTRONICA, ENERGIA, OPTICA, TRIBOLOGIA, BIOLOGIA LO QUE A SU VEZ SE HA TRADUCIDO EN EL DESARROLLO DE NUEVAS TECNOLOGIAS DE FABRICACION CAPACES DE GENERAR DE MANERA CONTROLADA SUPERFICIES ESTRUCTURADAS, SIN EMBARGO, CUANDO HABLAMOS DE PRODUCTOS INDUSTRIALES, LA CARACTERIZACION DIMENSIONAL DE ESTAS ESTRUCTURAS SUPERFICIALES ES FUNDAMENTAL TANTO PARA EL ASEGURAMIENTO DE LA CALIDAD COMO DE SU FUNCIONALIDAD,LA CARACTERIZACION METROLOGICA DE ESTE TIPO DE SUPERFICIES SUPONE TODO UN RETO TECNOLOGICO DEBIDO A LA CRECIENTE DEMANDA DE SISTEMAS CAPACES DE REALIZAR MEDICIONES SOBRE AREAS DE TRABAJO CADA VEZ MAYORES PERO CON RESOLUCIONES CADA VEZ MEJORES,EL PROYECTO AQUI SOLICITADO SURGE EN ESTE CONTEXTO Y COMO CONTINUACION DE UN PROYECTO ANTERIOR EN EL QUE SE DESARROLLO UNA PLATAFORMA DE DESPLAZAMIENTO EN DOS DIMENSIONES CON RESOLUCION NANOMETRICA Y PRECISION SUBMICROMETRICA CAPAZ DE AMPLIAR EL RANGO DE MEDICION 2D DE DIFERENTES EQUIPOS DE MEDIDA HASTA LOS 50X50 MM,DE ESTE MODO, LAS TAREAS DEL PROYECTO INCLUIRAN LA INTEGRACION DE DIVERSOS SISTEMAS DE MEDIDA INTERCAMBIABLES QUE PERMITAN CARACTERIZAR METROLOGICAMENTE UNA SUPERFICIE TEXTURIZADA CON RESOLUCION SUBMICROMETRICA Y NANOMETRICA PRESTANDO DE ESTA MANERA SOPORTE A LOS OTROS DOS SUBPROYECTOS QUE INTEGRAN EL PRESENTE PROYECTO COORDIANADO, HAY QUE TENER EN CUENTA QUE CADA SISTEMA DE MEDIDA TIENE VENTAJAS E INCONVENIENTES PROPIOS, POR LO QUE DEPENDIENDO DE LAS CARACTERISTICAS ESPECIFICAS A EVALUAR DE UNA SUPERFICIE, NO SUELE SER POSIBLE LA EVALUACION DE TODAS ELLAS MEDIANTE UN UNICO SISTEMA BIEN POR CONTACTO O SIN CONTACTO, POR LO QUE SE CONSIDERA UN OBJETIVO PRINCIPAL DEL PRESENTE PROYECTO EL DOTAR AL USUARIO DE LA POSIBILIDAD DE ELEGIR EL SENSOR MAS ADECUADO A SUS NECESIDADES PARA LA MEDICION DE UNA SUPERFICIE ESPECIFICA,DE MANERA ESPECIFICA, EN ESTE PROYECTO SE VAN A INVESTIGAR LOS EFECTOS DE LA TEMPERATURA SOBRE CADA SISTEMA DE MEDIDA UNA VEZ INTEGRADOS EN LA PLATAFORMA, YA QUE ES UNA DE LAS PRINCIPALES FUENTES DE ERROR CUANDO SE DESEAN ALCANZAR PRECISIONES SUBMICROMETRICAS, ASI MISMO, TAMBIEN SE ANALIZARA LA RESPUESTA DINAMICA DEL CONJUNTO DEBIDO A SUS IMPLICACIONES SOBRE EL SISTEMA DE CONTROL Y LA VELOCIDAD DE MEDICION,POR OTRO LADO, SE HA DETECTADO UNA FALTA DE PATRONES Y PROCEDIMIENTOS DE CALIBRACION ADECUADOS QUE PERMITAN MANTENER LA TRAZABILIDAD DE LAS MEDICIONES DE ESTOS SISTEMAS, ESPECIALMENTE CUANDO SE DEBEN SIMULTANEAR AMPLIOS RANGOS DE TRABAJO CON PRECISIONES SUBMICROMETRICAS, POR ELLO, OTRO IMPORTANTE GRUPO DE TAREAS ESTARA ORIENTADO HACIA EL DESARROLLO DE DICHOS PATRONES Y SUS RESPECTIVOS PROCEDIMIENTOS DE UTILIZACION, BIEN EN CALIBRACION, BIEN EN AUTOCALIBRACION, ADEMAS, SE CONTARA CON EL APOYO DE LA UNIVERSIDAD DE LAS PALMAS DE GRAN CANARIA PARA SU FABRICACION MEDIANTE TECNICAS DE MICROELECTROCONFORMADO EN EL CONTEXTO DEL PRESENTE PROYECTO COORDINADO,CON TODO ELLO, AL FINALIZAR EL PROYECTO SE DISPONDRA DE UN EQUIPO DE MEDICION DE ALTO RANGO CON RESOLUCION NANOMETRICA MULTIFUNCIONAL QUE PERMITIRA LA CORRECTA CARACTERIZACION DE GRANDES SUPERFICIES FUNCIONALES, SE TRATA POR TANTO DE UN PROYECTO MULTIDISCIPLINAR DE GRAN ACTUALIDAD INTERNACIONAL Y QUE DARA LUGAR A RESULTADOS DE ALTO IMPACTO CIENTIFICO U TECNOLOGICO, NANOMETROLOGÍA\MICROSCOPIO DE FUERZAS ATÓMICAS (AFM)\CALIBRACIÓN\PATRONES.

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