Actualización SGI Laboratorio de Rayos X del CITIUS
Con la presente solicitud se pretende mejorar la infraestructura disponible para difracción de rayos X y fluorescencia de rayos X en el Servicio General de Investigación Laboratorio de Rayos X (SGI LRX) del Centro de Investigación...
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Descripción del proyecto
Con la presente solicitud se pretende mejorar la infraestructura disponible para difracción de rayos X y fluorescencia de rayos X en el Servicio General de Investigación Laboratorio de Rayos X (SGI LRX) del Centro de Investigación, Tecnología e Innovación de la Universidad de Sevilla (CITIUS), En concreto se pretenden realizar dos acciones:1) Mejora del difractómetro de polvo de ánodo de cobre modelo D8 Advance de la marca Bruker mediante la adquisición de una cámara de temperatura para el seguimiento de reacciones, siendo la temperatura máxima de trabajo 2300ºC, Este equipo permitirá el seguimiento de reactividad con la temperatura de mayor número de materiales, ya que actualmente la máxima temperatura que se puede alcanzar son (900ºC en difractómetro con cámara de reacción y 1100ºC en difractómetro para el estudio de láminas), Este accesorio se instalará en el difractómetro de RX para el que recientemente se ha adquirido un nuevo sistema de espejos de última generación para haz paralelo, con el que se ha conseguido aumentar notablemente la intensidad de la señal difractada, lo que permitirá optimizar el seguimiento de reacciones con la temperatura, 2) Adquisición de un equipo autodiluidor accesorio para la técnica de TXRF, que permitirá optimizar la realización de los análisis,Este sistema permite la dilución en relaciones desde 1:1 a 1:50 con una alta exactitud y precisión,
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