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MAT2012-35247

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NUEVAS METODOLOGIAS DE DETERMINACION DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS DE MICRO- Y NANO...

NUEVAS METODOLOGIAS DE DETERMINACION DE ESTRUCTURAS CRISTALINAS DE MICRO- Y NANOCRISTALES A PARTIR DE PATRONES DE DIFRACCION 2D ORIENTADOS ALEATORIAMENTE. EN CIENCIA DE MATERIALES SE DA CON FRECUENCIA LA NECESIDAD DE CARACTERIZAR ESTRUCTURALMENTE IN-SITU FASES CRISTALINAS INCLUIDAS EN UN MATERIAL COMPACTO. UN CLARO EJEMPLO SON LAS FASES CRISTALINAS MINORITARIAS PRODUCTO DE UNA REACC... ver más

01/01/2012

CSIC

57K€

Presupuesto del proyecto: 57K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2012-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 57K€

Descripción del proyecto EN CIENCIA DE MATERIALES SE DA CON FRECUENCIA LA NECESIDAD DE CARACTERIZAR ESTRUCTURALMENTE IN-SITU FASES CRISTALINAS INCLUIDAS EN UN MATERIAL COMPACTO. UN CLARO EJEMPLO SON LAS FASES CRISTALINAS MINORITARIAS PRODUCTO DE UNA REACCION QUIMICA EN ESTADO SOLIDO. EN ESTOS CASOS LA MICRODIFRACCION A TRAVES DEL SUSTRATO (TTS-µXRD) APLICADA A LAMINAS DELGADAS PULIDAS ES LA TECNICA IDEAL. LAS LAMINAS DELGADAS PERMITEN LA COMODA OBSERVACION MICROSCOPICA Y MEDICIONES LOCALES (P.E. EL ANALISIS CON MICROSONDA). POR OTRO LADO LA TECNICA TTS-µXRD PROPORCIONA, PARA CADA HAZ INCIDENTE NORMAL AL SUSTRATO, UN PATRON DE DIFRACCION 2D SOBRE EL DETECTOR CCD. EN FUNCION DE LA RELACION ENTRE SECCION DEL HAZ (DH) Y TAMAÑO DEL DOMINIO DIFRACTANTE (DG) SE DAN VARIAS SITUACIONES. MIENTRAS QUE PARA DH >> DG LOS PATRONES CORRESPONDEN A LOS DE UN POLVO, PARA DH ≤ DG LOS PATRONES SERAN LOS DE UN MICROCRISTAL (O LA SUMA DE UNOS POCOS). DADA LA IMPORTANCIA PRACTICA DE ESTE SEGUNDO PASO Y CON EL FIN DE PODER TRATARLO SE PROPONE COMO OBJETIVO PRINCIPAL ORIGINAL DEL PROYECTO NANOXRED EL DESARROLLO DEL ALGORITMO DE INDEXACION Y COMBINACION DE PATRONES DE DIFRACCION 2D (INCO) TOMADOS MEDIANTE TTS-µXRD EN REGIONES DE COMPOSICION SIMILAR DE UNA (O VARIAS) LAMINAS DELGADAS PULIDAS (RESOLUCION LATERAL ≥ 15 μM; RESOLUCION VERTICAL DETERMINADA POR EL ESPESOR DE LA LAMINA (20-30 μM). LAS INTENSIDADES ASI EXTRAIDAS SE TRATARAN CON EL ALGORITMO DE METODOS DIRECTOS δ-RECYCLING INCORPORADO EN XLENS (DATOS 3D) PARA RESOLVER LA ESTRUCTURA CRISTALINA. ESTE METODO SE APLICARA PRIMERO A LA LAUMONTITA, UNA ZEOLITA DE COMPOSICION CA4(AL8SI16O48)13H2O, ASI COMO A LA CONFIRMACION Y AFINAMIENTO DEL MODELO ESTRUCTURAL DE LA ILERDITA DE COMPOSICION (CA.9MG.2K.2)(AL2.4SI5.6O15)(OH)22H2O QUE APARECE EN LA LAMINA DELGADA A MODO DE FRANJA ESTRECHA (DE DECENAS DE MICRAS DE ESPESOR) ENTRE LA LAUMONTITA Y LA AERINITA (UN MINERAL AZUL USADO COMO PIGMENTO EN PINTURAS MURALES DEL MEDIOEVO).OTRA NECESIDAD FRECUENTE EN CIENCIA DE MATERIALES ES LA CARACTERIZACION ESTRUCTURAL DE COMPUESTOS POLICRISTALINOS, LO CUAL SE HACE NORMALMENTE POR DIFRACCION DE RAYOS-X EN POLVO. SIN EMBARGO, A MEDIDA QUE ESTA TECNICA SE APLICA A PROBLEMAS MAS COMPLEJOS, SURGEN DOS DIFICULTADES: 1. LA VERIFICACION DE LA CELDA ELEMENTAL OBTENIDA A PARTIR DE LOS DATOS DE POLVO; 2. EL FUERTE SOLAPAMIENTO DE PICOS SOBRETODO A ANGULOS DE BRAGG ELEVADOS. CON EL FIN DE PALIAR AMBAS DIFICULTADES, SE PROPONE COMO OBJETIVO COMPLEMENTARIO DE NANOXRED, MEDIR MEDIANTE TEM PATRONES DE DIFRACCION DE ELECTRONES 2D (CON Y SIN PRECESION DE HAZ) DE NANOCRISTALES INDIVIDUALES (≈100 NM) Y INDEXAR LAS MANCHAS REGISTRADAS MEDIANTE UNA ADAPTACION DE INCO. EL EXITO EN LA INDEXACION CONFIRMARA LA CELDA A LA VEZ QUE PROPORCIONARA UN JUEGO DE INTENSIDADES RESUELTAS PARA SU POSTERIOR TRATAMIENTO CONJUNTO CON EL DIAGRAMA DE POLVO. EL MATERIAL USADO PARA DICHO ESTUDIO SERA UN COMPUESTO INORGANICO ESTABLE AL HAZ DE ELECTRONES.

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