Descripción del proyecto
EL DESARROLLO DE NUEVOS MATERIALES Y DISPOSITIVOS FOTONICOS REQUIERE DE UNA MICROSCOPIA DE ULTRA ALTA RESOLUCION PARA LA CARACTERIZACION DE PROPIEDADES LOCALES Y CAMPOS DE LUZ CONFINADOS EN LA NANOESCALA. LAS MICROSCOPIAS Y ESPECTROSCOPIAS CONVENCIONALES DE CAMPO LEJANO NO PUEDEN APLICARSE A ESTA TAREA DADA SU LIMITADA RESOLUCION ESPACIAL DEBIDO A LA DIFRACCION DE LA LUZ. EL MICROSCOPIO OPTICO DE BARRIDO DE CAMPO CERCANO DE TIPO DISPERSIVO (S-SNOM) Y LA ESPECTROSCOPIA INFRARROJA DE TRANSFORMADA DE FOURIER EN LA NANOESCALA (NANO-FTIR), PUEDEN SUPERAR ESTE INCONVENIENTE Y POR TANTO, EN ESTE PROYECTO, QUEREMOS CONTINUAR CON NUESTRO EXITOSO DESARROLLO DE LAS TECNOLOGIAS RELACIONADAS CON EL S-SNOM Y EL NANO-FTIR, CON EL FIN DE ESTABLECERLAS COMO UNA PLATAFORMA ESENCIAL EN DIVERSOS CAMPOS DE LA INVESTIGACION TANTO FUNDAMENTAL COMO APLICADA. EN CONCRETO, EN NANOSPEC QUEREMOS IMPLEMENTAR LA ADQUISICION SIMULTANEA Y CORRELATIVA DE NANO-FTIR, TERS (TIP-ENHANCED RAMAN) Y ESPECTROSCOPIA DE FOTOLUMINISCENCIA (PL). ASI MISMO, QUEREMOS ESTAS TECNICAS RELACIONADAS CON EL S-SNOM PARA LA CARACTERIZACION DE MUESTRAS POLIMERICAS INDUSTRIALMENTE RELEVANTES, LA CARACTERIZACION DE CONDUCTORES ORGANICOS Y EL ESTUDIO DE POLARITONES Y DEL ACOPLAMIENTO VIBRACIONAL FUERTE EN MATERIALES DE VAN DER WAALS. EL PROYECTO SE DIVIDE POR TANTO, EN LOS SIGUIENTES OBJETIVOS:1. INSTRUMENTACION AVANZADA DE ESPECTROSCOPIA DE CAMPO CERCANORECIENTEMENTE HEMOS DEMOSTRADO QUE ACOPLANDO UN ESPECTROMETRO RAMAN A NUESTRO EQUIPO PODEMOS REALIZAR DISPERSION RAMAN AMPLIFICADA POR UNA PUNTA (TERS). EN ESTE PROYECTO QUEREMOS CONTINUAR CON EL DESARROLLO PARA REALIZAR DE MODO SIMULTANEO Y CORRELATIVO RAMAN, IR Y ESPECTROSCOPIA DE FOTOLUMINISCENCIA. PARA ELLO QUEREMOS DESARROLLAR UNA TECNICA DE SUPRESION DE LA SEÑAL DE FONDO (BACKGROUND) BASADA EN LA TRANSFORMADA DE FOURIER DE LA SEÑAL DE DISPERSION RAMAN Y DE LA DEMODULACION DE LA SEÑAL, ANALOGA A LA QUE DESARROLLAMOS PARA EL INFRARROJO. LA SUPRESION DE ESTA SEÑAL DE FONDO PERMITIRA IMPLEMENTAR EL TERS EN MUESTRAS COMPLEJAS REALES. 2. APLICACION DEL S-SNOM, NANO-FTIR Y TERS A LA CARACTERIZACION DE MATERIALES. CONTINUAREMOS CON NUESTRO ESTUDIO DE LAS MEMBRANAS PARA LA SEPARACION DE GASES CON OBJETO DE CORRELACIONAR EL PROCESO DE FABRICACION, LA NANOESTRUCTURA Y LAS PROPIEDADES. POR OTRO LADO, QUEREMOS APLICAR EL S-SNOM TANTO EN IR COMO EN THZ, PARA EL MAPEO DE LA CONDUCTIVIDAD DE POLIMEROS CONDUCTORES QUE CONSTITUYEN UNA PIEZA CLAVE PARA EL DESARROLLO DE LA ELECTRONICA ORGANICAS. ADEMAS, ESTUDIAREMOS EMISORES DE FOTON UNICO BASADOS EN H-BN ESENCIALES PARA LAS FUTURAS TECNOLOGIAS CUANTICAS UTILIZANDO ESTUDIOS CORRELATIVOS DE RAMAN, PL E IR. 3. ESTUDIO DE POLARITONES EN MATERIALES DE VAN DER WAALS (2D)LOS FOTONES POLARITONICOS DEL H-BN EXFOLIADO TIENEN GRAN POTENCIAL DE APLICACION PARA EL DESARROLLO DE SENSORES DE VIBRONICOS ASI COMO PARA AMPLIAR LA SEÑAL DE FOTODETECTORES DE IR BASADOS EN GRAFENO. SIN EMBARGO, POR RAZONES PRACTICAS SE REQUIERE DE LA FABRICACION DE CAPAS DE H-BN A GRAN ESCALA. QUEREMOS EMPLEAR EL LA ESPECTROSCOPIA DE INFRARROJO DE CAMPO CERCANO Y LEJANO PARA EXPLORAR LAS PROPIEDADES DE LOS POLARITONES DEL H-BN FABRICADO POR CVD Y DE LOS NANORESONADORES FABRICADOS CON EL. IGUALMENTE, ESTUDIAREMOS EL ACOPLAMIENTO VIBRACIONAL FUERTE ENTRE EMISORES DE FOTON UNICO Y VIBRACIONES MOLECULARES PARA EXPLORAR EL ACOPLAMIENTO EN EL MENOR NIVEL DE CONFINAMIENTO Y DE CANTIDAD DE MOLECULAS POSIBLE. ICROSCOPIO OPTICO DE BARRIDO DE CAMPO C\POLIMEROS CONDUCTORES.\MATERIALES DE VAN DER WAALS\POLARITONES\FONONES\ESPECTROSCOPIA RAMAN AMPLIFICADA POR UNA\NANO-FTIR\NANOESPECTROSCOPIA INFRARROJA\THZ S-SNOM\IR S-SNOM