Descripción del proyecto
EL PROYECTO PRETENDE ABORDAR EL USO DE DIVERSAS TECNICAS APLICABLES EN PROBLEMAS INVERSOS DE ELECTROMAGNETISMO PARA LA IDENTIFICACION DE IMPERFECCIONES EN MATERIALES MEDIANTE REFLECTOMETRIA Y LA OBTENCION DE IMAGENES ('IMAGING') DE OBJETOS MEDIANTE LA MEDIDA DE DISPERSION ELECTROMAGNETICA, EL OBJETIVO FINAL ES LA IMPLEMENTACION DE DIVERSOS DEMOSTRADORES DE LA APLICABILIDAD DE ESTAS TECNICAS A ESTOS PROBLEMAS, ESTOS PROBLEMAS GENERICOS PLANTEADOS SE PUEDEN CONCRETAR EN PROBLEMAS PARTICULARES DE INTERES EN EL SECTOR PRODUCTIVO (DETECCION DE IMPERFECCIONES EN PROCESOS DE FABRICACION EN ESCENARIOS EN LOS QUE OTROS SENSORES NO SON APLICABLES POR LAS CONDICIONES DEL ENTORNO) Y EN APLICACIONES DE SEGURIDAD COMO LA DETECCION DE OBJETOS OCULTOS TANTO EN TRANSITO DE MERCANCIAS COMO DE PERSONAS,EL PUNTO DE PARTIDA DE ESTE PROYECTO SON LOS TRABAJOS PREVIOS QUE EL GRUPO SOLICITANTE YA HA LLEVADO A CABO EN DISTINTOS PROYECTOS, SIENDO EL ULTIMO DE ELLOS ISCAT (MICINN-12-TEC2011-24492), PARA ABORDAR ESTOS OBJETIVOS, SE SEGUIRAN DOS ESTRATEGIAS, LA PRIMERA DE ELLAS, ES COMBINAR Y FUSIONAR LA INFORMACION CLASICA QUE PUEDEN PROPORCIONAR DIFERENTES SENSORES, JUNTO CON INFORMACION EXTRA QUE PUEDE VENIR DEL USO DE DIFERENTES TIPO DE MODULACION, CODIFICACION, POLARIZACION, FUSION DE SENSORES, MOVIMIENTO DE LOS MISMOS, ETC, PARA MEJORAR LA RESOLUCION DE LAS IMAGENES QUE SE OBTENGAN, LA SEGUNDA ESTRATEGIA SE BASA EN LA MEJORA DE LOS SENSORES O SONDAS QUE SE UTILIZAN, SUSTITUYENDOLOS POR OTROS ELEMENTOS (LENTES, REFLECTARRAYS, METASUPERFICIES, SIW) QUE PERMITAN MEJORAR POR OTROS MEDIOS LAS PRESTACIONES DE LOS SISTEMAS DE MEDIDA, ESTAS DOS ESTRATEGIAS SON COMPATIBLES Y PODRIAN SER FUSIONADAS PARA OBTENER UNA SOLUCION MIXTA AL PROBLEMA, COMO UNO DE LOS PRINCIPALES OBJETIVOS DEL PROYECTO, SE ESPERA TENER DOS DEMOSTRADORES OPERATIVOS, CON FACIL ADAPTACION A LA INDUSTRIA SI ASI SE DEMANDARA, QUE INTEGREN TODAS LAS TECNICAS Y TECNOLOGIAS DESARROLLADAS A LO LARGO DEL PROYECTO, LOS DEMOSTRADORES ESTARAN ENFOCADOS POR UN LADO A PROBLEMAS DE IMAGING CON DOS TOPOLOGIAS DISTINTAS Y POR OTRO LADO A UN REFLECTOMETRO PARA DETECTAR IMPERFECCIONES EN MATERIALES, DE GRAN UTILIDAD EN PROCESOS DE FABRICACION, SENSORES\IMAGING\REFLECTOMETRÍA\ELECTROMAGNETISMO