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Microwave Microscopy for Advanced and Efficient Materials Analysis and Productio...

Microwave Microscopy for Advanced and Efficient Materials Analysis and Production Products which require complicated material systems and nanoscale structural organization, e.g. third-generation solar cells, are often difficult to develop. This is because electronic properties of bulk semiconductors are often m... ver más

31/10/2020

UNIVERSITE DE LILL...

4M€

Presupuesto del proyecto: 4M€

Líder del proyecto

UNIVERSITE DE LILLE No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Fecha límite participación Sin fecha límite de participación.

Ver 11 Participantes

Financiación concedida El organismo H2020 notifico la concesión del proyecto el día 2020-10-31

NMBP-07-2017: Systems of materials characterisati...

I+D

Cerrada hace 8 años

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Este proyecto no cuenta con búsquedas de partenariado abiertas en este momento.

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11 Participantes

UNIVERSITE DE LILLE

544.32K€ | Lider

BODEGAS FRANCO ESPANOLAS

183.99K€ | Participante

ETH Zürich

291.70K€ | Participante

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Duración del proyecto: 36 meses Fecha Inicio: 2017-10-30
Fecha Fin: 2020-10-31

Líder del proyecto

UNIVERSITE DE LILLE No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Presupuesto del proyecto 4M€

Fecha límite de participación Sin fecha límite de participación.

Descripción del proyecto Products which require complicated material systems and nanoscale structural organization, e.g. third-generation solar cells, are often difficult to develop. This is because electronic properties of bulk semiconductors are often masked or at least strongly superimposed by material interface properties. Additionally these interface properties are also complex and thus make product design difficult. This project aims at solving this problem by offering a nanoscale characterization platform for the European manufacturers of coatings, photovoltaic cells, and semi-conductor circuits. It is proposed to use a combination of scanning microwave microscopes, dielectric resonators, and simulation to measure the material and interface properties of complicated material systems and nano-structures. A metrological system of cross-checks between different instruments, models and simulations with associated error bars is indispensable for obtaining trustworthy results. Scanning microwave measurements will be directly used for three-dimensional characterization of electrical properties of nanostructured semiconductors used in organic and hybrid photovoltaic cells. The objective is to accelerate the development of high efficiency cells and to have measures to predict performances in early stages of prototype production. Where process monitoring of materials with nanostructures is necessary, a dielectric resonator is used to translate insights from scanning microwave microscope measurements to fabrication environments. Such dielectric resonators could be directly integrated in production lines for monitoring thin film deposition processes. An open innovation environment will make the uptake of the results easier for European industry. A database containing exemplary measurement datasets of scanning microwave microscopes will be available in calibrated and raw versions. Simulation results of tip-semiconductor interactions will be made available on the EMMC Modeling Market Place.

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