Hola,
¿eres nuevo aquí?

Regístrate gratis y conecta tu empresa con financiación pública, partners y proyectos.

Tengo cuenta

Regístrate

Ver video

RTI2018-097107-B-C32

Financiado

METODOS DE METROLOGIA DE SUPERFICIES ULTRA-PRECISA APLICADOS A OPTICA ADAPTATIVA...

METODOS DE METROLOGIA DE SUPERFICIES ULTRA-PRECISA APLICADOS A OPTICA ADAPTATIVA DE RAYOS X EN ESTE PROYECTO PRETENDEMOS AVANZAR EN LA METROLOGIA DE SUPERFICIES OPTICAS CURVADAS Y DE GRAN TAMAÑO, Y EN SU APLICACION AL DESARROLLO DE OPTICAS ADAPTATIVAS UTILIZABLES EN FUENTES DE LUZ SINCROTRON Y LASERES DE ELECTRONES LIBRE... ver más

01/01/2018

CONSORCIO PARA LA...

61K€

Presupuesto del proyecto: 61K€

Líder del proyecto

CONSORCIO PARA LA CONSTRUCCION EQUIPAMIENTO Y... Otra investigación y desarrollo experimental en ciencias naturales y técnicas organismos publicos

TRL 4-5 | 50K€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2018-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

0% 100%

Información adicional privada

No hay información privada compartida para este proyecto. Habla con el coordinador.

Participantes

CONSORCIO PARA LA CONSTRUCCI...

Lider

Conecta tu I+D

¿Tienes un proyecto y buscas un partner? Gracias a nuestro motor inteligente podemos recomendarte los mejores socios y ponerte en contacto con ellos. Te lo explicamos en este video

Proyectos interesantes

FIS2012-39158-C02-01 DESARROLLO DE SISTEMAS Y METODOS PARA LA METROLOGIA DE SUPER... 111K€ Cerrado

FIS2009-13955-C02-01 TECNICAS AVANZADAS DE METROLOGIA OPTICA. APLICACION DE MODUL... 145K€ Cerrado

PTQ-08-03-08116 Técnicas Ópticas para Metrología en 3D 38K€ Cerrado

DPI2008-06818-C02-01 PATRON DE REFERENCIA DIMENSIONAL BASADO EN UN INTERFEROMETRO... 70K€ Cerrado

DPI2008-06818-C02-02 PATRON DE REFERENCIA DIMENSIONAL BASADO EN UN INTERFEROMETRO... 77K€ Cerrado

FIS2015-66328-C3-2-R DESARROLLO DE INSTRUMENTACION OPTICA PARA APLICACIONES EN ME... 79K€ Cerrado

Líder del proyecto

CONSORCIO PARA LA CONSTRUCCION EQUIPAMIENTO Y... Otra investigación y desarrollo experimental en ciencias naturales y técnicas organismos publicos

TRL 4-5 | 50K€

Presupuesto del proyecto 61K€

Descripción del proyecto EN ESTE PROYECTO PRETENDEMOS AVANZAR EN LA METROLOGIA DE SUPERFICIES OPTICAS CURVADAS Y DE GRAN TAMAÑO, Y EN SU APLICACION AL DESARROLLO DE OPTICAS ADAPTATIVAS UTILIZABLES EN FUENTES DE LUZ SINCROTRON Y LASERES DE ELECTRONES LIBRES, EL SUBPROYECTO SE DIVIDE EN TRES PARTES: MEJORA DE LOS DEFLECTOMETROS DE BARRIDO, INTERFEROMETRIA POR STITCHING, Y SISTEMAS DE OPTICA ADAPTATIVA, UNO DE LOS OBJETIVOS GENERALES DEL PROYECTO ES REDUCIR LA INCERTIDUMBRE DE MEDIDA DE DEFLECTOMETROS DE BARRIDO POR DEBAJO DEL UMBRAL DE 10 NRAD, PARA ALCANZAR ESTE OBJETIVO ES NECESARIO CONTROLAR LAS DIFERENTES FUENTES DE ERROR ESTOCASTICO Y SISTEMATICO DEL INSTRUMENTO, LA PRINCIPAL CAUSA DE ERROR ESTOCASTICO PARA ESTOS SISTEMAS ES EL NIVEL DE RUIDO DEL SENSOR OPTICO EL INSTRUMENTO QUE MIDE EL ANGULO DE DEFLEXION DEL HAZ DE LUZ DE PRUEBA, PARA REDUCIR ESE RUIDO, PROPONEMOS USAR UN CONCEPTO DISTINTO DE DEFLECTOMETRO, BASADO EN DETECCION SINCRONA, CAPAZ DE OBTENER MEDIDAS ANGULARES CON BAJO NIVEL DE RUIDO Y GRAN VELOCIDAD DE ADQUISICION, TAMBIEN DISEÑAREMOS ESTRATEGIAS PARA REDUCIR LOS ERRORES SISTEMATICOS, ESTOS ERRORES ESTAN CAUSADOS PRINCIPALMENTE POR LOS ERRORES DEL SENSOR OPTICO Y POR DESPLAZAMIENTOS PARASITOS Y DESALINEAMIENTOS DEL SISTEMA DE BARRIDO, PARA REDUCIR ESOS ERRORES, PROPONEMOS NUEVOS METODOS PARA MEDIR LOS ERRORES DE POSICIONAMIENTOS, TAMBIEN PROPONDREMOS MECANISMOS QUE PERMITAN AL INSTRUMENTO OBTENER MEDIDAS REDUNDANTES PARA USARLAS EN ALGORITMOS DE REDUCCION DE ERRORES, TAMBIEN PROPONEMOS AVANZAR EN METODOS PARA REDUCIR LA INCERTIDUMBRE DE MEDIDA EN SISTEMAS DE INTERFEROMETRIA DE STITCHING, LA INTERFEROMETRIA ES COMPLEMENTARIA CON LOS INSTRUMENTOS DE DEFLECTOMETRIA DE BARRIDO YA QUE PROPORCIONA UNA MAYOR RESOLUCION ESPACIAL, ASI COMO MEDIDAS BIDIMENSIONALES DE LA TOPOGRAFIA DE LA SUPERFICIE ESTUDIADA, EN ESTE PROYECTO DESARROLLAREMOS UN SISTEMA DE INTERFEROMETRIA DE STITCHING CAPAZ DE MANTENER EL INTERFEROMETRO ORIENTADO PERPENDICULARMENTE A LA SUPERFICIE OPTICA ESTUDIADA, EN CADA PUNTO DE MEDIDA, MIENTRAS SE MIDE SU POSICION Y ORIENTACION RELATIVA, Y SE REDUCEN LOS ERRORES SISTEMATICOS, EN EL PROYECTO PRETENDEMOS EXTENDER LA TECNICA A UN RANGO MAS AMPLIO DE SUPERFICIES, TAMAÑOS Y FORMAS, ESPECIFICAMENTE OPTICAS CON FORMAS ARBITRARIAS, RADIOS DE CURVATURA CORTOS, Y RETICULOS DE DIFRACCION, COMO APLICACION PRINCIPAL DE LA METROLOGIA QUE ESTAMOS DESARROLLANDO, AVANZAREMOS HACIA SISTEMAS DE OPTICA ADAPTATIVA PARA RAYOS X, PARTIREMOS DE UN DISEÑO DE CURVADOR DE ESPEJOS DE ALTA CALIDAD QUE HEMOS DESARROLLADO RECIENTEMENTE, EL DISEÑO ACTUAL CUENTA CON ACTUADORES MECANICOS CAPACES DE CORREGIR LOS ERRORES DE SUPERFICIE DE ACUERDO A LAS MEDIDAS OBTENIDAS EN EL LABORATORIO, EN ESTE PROYECTO PRETENDEMOS DESARROLLAR UN SISTEMA CAPAZ DE AJUSTAR LA CORRECCION DEL ESPEJO EN CONDICIONES DE OPERACION, EL OBJETIVO DE ESTO ES PODER ACTUAR DINAMICAMENTE SOBRE EL FRENTE DE ONDAS MISMO, ASI COMO CONTROLAR ERRORES DEL ESPEJO QUE NO SE PUEDEN DETECTAR EN EL LABORATORIO, POR EJEMPLO, DISTORSIONES DERIVADAS DE LA CARGA TERMICA A LA QUE SE SOMETE EL ESPEJO, TENSIONES APARECIDAS DURANTE LA INSTALACION, O ERRORES RELACIONADOS CON EL ALINEAMIENTO DEL ESPEJO, EN ESTE PROYECTO PROPONEMOS UNA SERIE DE MEJORAS DE LOS CORRECTORES, PARA PERMITIR SU USO EN VACIO, CON GRAN RESOLUCION, VELOCIDAD Y ESTABILIDAD, PRINCIPALMENTE, ESTUDIAREMOS VARIOS SISTEMAS DE DIAGNOSTICO DE LA CORRECCION, PARA GARANTIZAR LA PRECISION DE LA CORRECCION INTRODUCIDA EN EL ESPEJO, OPTICA\METROLOGIA\RAYOS X\SINCROTRÓN

Conecta tu I+D

Entra hoy

¿Olvidé mi contraseña?

Financiación

Empresas

CTIs/Universidades

Proyectos

Investigadores