Mejora del sistema de caracterización analítica en Microscopía Electrónica y Per...
Mejora del sistema de caracterización analítica en Microscopía Electrónica y Perfilometría 3D, C.A.C.T.I., Universidad de Vigo
El proyecto pretende complementar la capacidad tecnológica del CACTI en la caracterización de las propiedades de materiales, mediante la adquisición de equipos complementarios a los ya existentes en los servicios de Microscopía El...
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UNIVERSIDADE DE VIGO
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores410
Fecha límite participación
Sin fecha límite de participación.
Financiación
concedida
El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto
el día 2013-01-01
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Información proyecto UNVI13-1E-2740
Líder del proyecto
UNIVERSIDADE DE VIGO
No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.
Total investigadores410
Presupuesto del proyecto
148K€
Fecha límite de participación
Sin fecha límite de participación.
Descripción del proyecto
El proyecto pretende complementar la capacidad tecnológica del CACTI en la caracterización de las propiedades de materiales, mediante la adquisición de equipos complementarios a los ya existentes en los servicios de Microscopía Electrónica y de Nanotecnología y Análisis de superficies, En el primero, se plantea complementar y actualizar el Microscopio Electrónico de Transmisión Philips CM 20 y el Microscopio Electrónico de Barrido Medioambiental FEI Quanta 200 con sendos equipamientos de Sistemas de Microanálisis por Energías Dispersivas (EDS), Esto permitiría llevar a cabo microanálisis en muestras biológicas a bajos voltajes, lo cual no es posible en la actualidad, así como completar la imagen electrónica con la composición elemental de la muestra a estudiar, pudiendo además obtener un mapeado de los elementos que forman esa imagen, Por otro lado, El Perfilómetro Optico 3D permitirá la medición 3D Real, rápida y trazable, de la forma y acabado de superficies micro estructuradas, cumpliendo las diversas normativas ISO de calidad (ISO 4287/88 e ISO 25178) de caracterización de texturas y rugosidades que solicitan los usuarios del servicio y que actualmente no pueden ofrecerse, El módulo AR XPS (para instalar en K-Alpha) complementa la capacidad tecnológica en Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X mediante un accesorio para la caracterización de las superficies con cambio o rotación de ángulo,