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UNVI13-1E-2740

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Mejora del sistema de caracterización analítica en Microscopía Electrónica y Per...

Mejora del sistema de caracterización analítica en Microscopía Electrónica y Perfilometría 3D, C.A.C.T.I., Universidad de Vigo El proyecto pretende complementar la capacidad tecnológica del CACTI en la caracterización de las propiedades de materiales, mediante la adquisición de equipos complementarios a los ya existentes en los servicios de Microscopía El... ver más

01/01/2013

UVIGO

148K€

Presupuesto del proyecto: 148K€

Líder del proyecto

UNIVERSIDADE DE VIGO No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 410

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2013-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSIDADE DE VIGO No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 410

Presupuesto del proyecto 148K€

Descripción del proyecto El proyecto pretende complementar la capacidad tecnológica del CACTI en la caracterización de las propiedades de materiales, mediante la adquisición de equipos complementarios a los ya existentes en los servicios de Microscopía Electrónica y de Nanotecnología y Análisis de superficies, En el primero, se plantea complementar y actualizar el Microscopio Electrónico de Transmisión Philips CM 20 y el Microscopio Electrónico de Barrido Medioambiental FEI Quanta 200 con sendos equipamientos de Sistemas de Microanálisis por Energías Dispersivas (EDS), Esto permitiría llevar a cabo microanálisis en muestras biológicas a bajos voltajes, lo cual no es posible en la actualidad, así como completar la imagen electrónica con la composición elemental de la muestra a estudiar, pudiendo además obtener un mapeado de los elementos que forman esa imagen, Por otro lado, El Perfilómetro Optico 3D permitirá la medición 3D Real, rápida y trazable, de la forma y acabado de superficies micro estructuradas, cumpliendo las diversas normativas ISO de calidad (ISO 4287/88 e ISO 25178) de caracterización de texturas y rugosidades que solicitan los usuarios del servicio y que actualmente no pueden ofrecerse, El módulo AR XPS (para instalar en K-Alpha) complementa la capacidad tecnológica en Espectroscopía de Fotoelectrones de Rayos X mediante un accesorio para la caracterización de las superficies con cambio o rotación de ángulo,

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