EL DISEÑO DE SISTEMAS ELECTRONICOS EN ENTORNOS HOSTILES ES DE GRAN RELEVANCIA HOY EN DIA. UN ENTORNO DURO U HOSTIL, EN EL SENTIDO MAS GENERAL DEL TERMINO, PUEDE DESCRIBIRSE COMO UN ENTORNO EN EL QUE LA SUPERVIVENCIA ES DIFICIL O I...
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Descripción del proyecto
EL DISEÑO DE SISTEMAS ELECTRONICOS EN ENTORNOS HOSTILES ES DE GRAN RELEVANCIA HOY EN DIA. UN ENTORNO DURO U HOSTIL, EN EL SENTIDO MAS GENERAL DEL TERMINO, PUEDE DESCRIBIRSE COMO UN ENTORNO EN EL QUE LA SUPERVIVENCIA ES DIFICIL O IMPOSIBLE. EN EL CAMPO DE LA ELECTRONICA, LOS ENTORNOS HOSTILES SON AQUELLOS EN LOS QUE LA SISTEMAS ELECTRONICOS DEBEN FUNCIONAR DE MANERA CONFIABLE BAJO VIBRACIONES INTENSAS, GOLPES MECANICOS, GRANDES CAMBIOS DE TEMPERATURA Y/O EXPOSICION A RADIACION IONIZANTE.UN SECTOR ESTRATEGICO QUE SUFRE LAS EXIGENTES REQUISITOS DE UN ENTORNO HOSTIL ES EL DISEÑO DE SISTEMAS ELECTRONICOS PARA COMUNICACIONES ESPACIALES Y POR SATELITE. EN ESTE CONTEXTO, Y A NIVEL DE CIRCUITO, EL EFECTO DE LA RADIACION IONIZANTE ES LA PRINCIPAL RETO. ESTO SE DEBE A QUE LOS CAMBIOS DE TEMPERATURA, LOS GOLPES MECANICOS Y LAS VIBRACIONES INTENSAS SE ABORDAN AL ELEGIR LA TECNOLOGIA DE FABRICACION, EL ENCAPSULADO DE LOS CIRCUITOS INTEGRADOS Y EN LA INTEGRACION Y MECANIZADO DEL SISTEMA.LOS EFECTOS DE LA RADIACION EN LA ELECTRONICA PARA ESPACIO SE PUEDEN CLASIFICAR EN DOS AREAS PRINCIPALES: DOSIS IONIZANTE TOTAL (TID) Y EFECTOS DE EVENTOS SINGULARES (SEE). LA TID PROVOCA LA DEGRADACION Y DESVIACION DE LOS PARAMETROS DEL DISPOSITIVO (POR EJEMPLO, CORRIENTE DE FUGA O VARIACION DE LA TENSION UMBRAL) COMO RESULTADO DE LA RADIACION ACUMULADA EN UN DISPOSITIVO A LO LARGO DEL TIEMPO. UN SEE OCURRE CUANDO UN SOLO ION GOLPEA EL MATERIAL, DEPOSITANDO SUFICIENTE ENERGIA PARA CAUSAR UN EFECTO NO DESEADO EN EL DISPOSITIVO.UN SEE, PUEDEN PRESENTARSE DE MULTIPLES FORMAS AFECTANDO A LOS SISTEMAS ELECTRONICOS DE DIFERENTES MANERAS. EN CONCRETO, PUEDEN GENERAR EFECTOS TRANSITORIOS EN EL RENDIMIENTO DE LOS DISPOSITIVOS O PROVOCAR CONSECUENCIAS CATASTROFICAS EN LOS SISTEMAS. EN EL CONTEXTO DE LOS EFECTOS PERMANENTES, EL MAS COMUN ES EL SINGLE EVENT LATCH-UP (SEL), DURANTE EL CUAL SE INDUCE UNA CORRIENTE EXTREMADAMENTE ALTA EN EL DISPOSITIVO, LO QUE EN ULTIMA INSTANCIA CONDUCE A LA DESTRUCCION DEL CIRCUITO INTEGRADO.LOS EFECTOS ANTERIORES DEMUESTRAN LA IMPORTANCIA DE UN DISEÑO ROBUSTO A RADIACION Y, POR LO TANTO, SON MUCHAS LAS INVESTIGACIONES QUE HAN ABORDADO LA MINIMIZACION DE ESTOS EFECTOS EN DISEÑOS ANALOGICOS Y DE SEÑALES MIXTAS. LOS ENFOQUES MAS COMUNES SON: SELECCIONAR TECNOLOGIAS QUE SEAN INHERENTEMENTE ROBUSTAS A RADIACION (COMO SIGE, SOI, SIC O GAN), UTILIZAR TECNICAS DE DISEÑO ESPECIFICAS Y/O UTILIZAR TECNICAS DE ENDURECIMIENTO POR DISEÑO PARA EVITAR EFECTOS TRANSITORIOS NO DESEADOS.OTROS ENFOQUES, NORMALMENTE COMPLEMENTARIOS A LOS MENCIONADOS ANTERIORMENTE, SE BASAN EN RECOPILAR INFORMACION SOBRE LA TEMPERATURA Y LA RADIACION ACUMULADA MEDIANTE SENSORES ESPECIFICOS PARA COMPENSAR LAS DESVIACIONES EN EL RENDIMIENTO DEL DISPOSITIVO MEDIANTE LA IMPLEMENTACION DE TECNICAS DE AUTORREPARACION O INCLUYENDO PROTECCION SEL ADICIONAL PARA EVITAR FALLOS CRITICOS. .LOS RESULTADOS MAS PROMETEDORES DEL PROYECTO EMIDHE (EXPLORING MODERN INTEGRATED CIRCUIT DESIGN IN HARSH ENVIRONMENTS) FINANCIADO POR EL PROGRAMA PLAN ESTATAL 2017-2020 RETOS - PROYECTOS I+D+I BAJO LAS SUBPRODUCTOS CON REFERENCIA RTI2018-099189-B-C21 Y RTI2018-099189- B-C22) SIRVEN COMO PUNTO DE PARTIDA PARA ESTA PROPUESTA QUE TIENE COMO OBJETIVO VALIDAR EN ENTORNOS DE ALTA RADIACION UN SENSOR DE RADIACION YA FABRICADO Y CONSTRUIR, FABRICAR Y VALIDAR UN DISPOSITIVO PARA LA PROTECCION FRENTE A SEL EN TECNOLOGIA GAN. MICROELECTRONICA ANALOGICA\TEMPERATURAS EXTREMAS\ALTA RADIACION\ESPACIO\CIRCUITOS RF
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