Descripción del proyecto
EL PRESENTE PROYECTO TIENE COMO OBJETIVO DESENTRAÑAR EL PAPEL DE LOS GRADIENTES DE DEFORMACION, ADSORBATOS, CAPAS SUPERFICIALES Y INTERFACES ENTRE LAS MUESTRAS Y LOS ELECTRODOS EN MEDICIONES DE FERROELECTRICOS Y PIEZOELECTRICOS A NANOESCALA LLEVANDO EL ESTADO DE CONOCIMIENTO TEORICO Y EXPERIMENTAL ACTUAL DE LOS FENOMENOS ELECTROMECANICOS SUPERFICIALES DE LA ETAPA ACTUAL A UN NIVEL COMPLETO DE MADUREZ, EL PROYECTO PERSIGUE PARA SEPARAR Y CUANTIFICAR LOS DIFERENTES FENOMENOS QUE CONTRIBUYEN A LA RESPUESTA ELECTROMECANICA, INCLUYENDO; LAS PROPIEDADES MECANICAS DEPENDIENTES DE LA POLARIZACION, TANTO DE DOMINIOS FERROELECTRICOS COMO DE PAREDES DE DOMINIO, LA MIGRACION ELECTRO-IONICA Y LA ELECTROQUIMICA, EL ACOPLAMIENTO ELECTROMECANICO A TRAVES DE ADSORBATOS O CAPAS SUPERFICIALES, Y LA FLEXOELECTRICIDAD INDUCIDA POR LA NATURALEZA INHOMOGENEA DEL CONTACTO ENTRE LA PUNTA Y LA MUESTRA, SE PROPONE CONSEGUIR ESTE OBJETIVO MEDIANTE EL DESARROLLO DE MODOS AVANZADOS DE MICROSCOPIA DE FUERZAS DE PIEZORESPUESTA (PFM), BASADOS EN UNA COMBINACION DE RESPUESTAS MULTIHARMONICAS EN DIFERENTES MODOS DE EXCITACION, ASI COMO EL DESARROLLO DE UN MODELO DE AUTO-CONSISTENTE PARA EL ACOPLAMIENTO ELECTROMECANICO NO HOMOGENEO EN PELICULAS ELECTROCERAMICAS, EN EL LIMITE DE LAS ALTAS PRESIONES DE CONTACTO,EL OBJETIVO FINAL ES LLEVAR LA TECNICA DE MICROSCOPIA DE PFM DESDE SU ESTADO ACTUAL COMO LA PRINCIPAL HERRAMIENTA PARA EL ANALISIS CUALITATIVO DE FERROELECTRICOS, A UN INSTRUMENTO FIABLE PARA LA MEDICION CUANTITATIVA EXACTA DE PROPIEDADES ELECTROMECANICAS EN CRISTALES, PELICULAS DELGADAS Y MEMS, EL CONOCIMIENTO FUNDAMENTAL ADQUIRIDO SE APLICARA PARA INTERPRETAR LOS RESULTADOS DE EXPERIMENTOS MAS COMPLEJOS, CON EL FIN DE DESACOPLAR EFECTOS PURAMENTE MECANICOS, ELECTRICOS (INCLUYENDO ELECTROQUIMICOS O ELECTROSTATICOS) Y FLEXOELECTRICOS DE LA RESPUESTA ELECTROMECANICA GLOBAL, EN ESTE CONTEXTO, EL PROYECTO ESTABLECE EXPERIMENTOS PARA DETERMINAR LA PRESENCIA Y LA INFLUENCIA DE ADSORBATOS EN LA SUPERFICIE DE MATERIALES FERROELECTRICOS, ASI COMO FENOMENOS PIEZOELECTRICIDAD EN SEMICONDUCTORES O PROPIEDADES MECANICAS DE LAS PELICULAS DELGADAS FERROELECTRICAS TANTO EN DOMINIOS COMO EN LAS PAREDES DE DOMINIO, COMO OBJETIVO FINAL, VOY A EXTENDER LA APLICABILIDAD DE LAS HERRAMIENTAS AVANZADAS DE PFM Y DE LOS MODELOS TEORICOS DESARROLLADOS HASTA EL MOMENTO PARA ACERCARNOS A NUEVOS FENOMENOS QUE ESTAN RELACIONADOS CON LA PRESENCIA DE GRADIENTES DE DEFORMACION, Y QUE PUEDEN SER GIGANTES BAJO LA PUNTA DE UN AFM: EL EFECTO FLEXOELECTRICO Y EFECTO FLEXOELECTRICO INVERSO, PFM\MICROSCOPIA DE AFM DE MULTIFREQUENCIA\FRECUENCIA DE RESONANCIA DE CONTACTO\FLEXOELECTRICIDAD\FERROELECTRICIDAD