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EQC2021-006822-P

Financiado

Difractómetro de rayos X multi-fuente de ultra-alto brillo

Se propone la adquisición de un difractómetro de rayos X equipado con tres microfuentes tipo diamante de última generación y ultra-alto brillo, de diferentes longitudes de onda, y detector bidimensional de alta sensibilidad. Este... ver más

01/01/2021

CSIC

795K€

Presupuesto del proyecto: 795K€

Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2021-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

AGENCIA ESTATAL CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGA... No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

TRL 2-3 | 552M€

Presupuesto del proyecto 795K€

Descripción del proyecto Se propone la adquisición de un difractómetro de rayos X equipado con tres microfuentes tipo diamante de última generación y ultra-alto brillo, de diferentes longitudes de onda, y detector bidimensional de alta sensibilidad. Este equipo, de configuración única en España, permitirá al servicio de difracción del Instituto de Ciencia de Materiales de Madrid (ICMM) ofrecer a la comunidad científica una gran versatilidad para la realización de distintos tipos de experimentos, y con muestras de muy diversa naturaleza. De modo general, este equipo permitirá la realización de experimentos de difracción de rayos X, tanto en muestras de monocristal, como microdifracción de polvo. De esta manera, se dispondrá de una gran versatilidad en un equipo que ofrece prestaciones de brillo semejantes a un sincrotrón de segunda generación, lo que permitirá ofrecer servicio a una amplia comunidad de grupos usuarios con diferente interés científico, y con muestras de muy variada naturaleza, que incluirán desde procesos de resolución estructural de compuestos moleculares de difícil cristalización, estudios in situ en entornos controlados, análisis de función de distribución de pares en compuestos cristalinos o amorfos, estudios de difracción resonante en sistemas con composiciones heterogéneas, estudios de viabilidad de muestras previo a medidas en fuentes sincrotrón o xfel, o estudios de densidad electrónica a alta resolución, entre otros.

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