Descripción del proyecto
Este proyecto se refiere a la adquisición de un difractómetro de rayos X (DRX) monocromático de alta resolución para la caracterización de materiales y nanocristales, La difracción de rayos X ampliará las capacidades del ICFO en el desarrollo de nanomateriales fotónicos y optoelectrónicos avanzados para aplicaciones de células solares, fotodetectores y emisores de luz, Este sistema proporcionará información importante sobre la estructura, la cristalinidad y la fase de los materiales que se sintetizan en el ICFO, Disponer esta técnica en el ICFO nos permitirá acelerar drásticamente nuestra investigación, ya que nos permitirá caracterizar completamente los nanocristales y los materiales que sintetizamos y hacemos crecer en el ICFO sin tiempo muerto y mejorará enormemente la producción científica,El sistema se instalará en el espacio compartido del ICFO y estará disponible para todos sus grupos de investigación, que será utilizado esencialmente por grupos que emplean o desarrollan materiales para aplicaciones fotónicas, desde materiales de cambio de fase hasta fotodetectores, células solares y superficies e interfaces funcionales, El equipo afectará drásticamente las actividades de investigación del ICFO en el campo de los materiales para la fotónica,El responsable científico es un IP con más de 15 años de experiencia en el desarrollo de materiales para aplicaciones fotónicas y aporta una gran experiencia en el uso del instrumento y la interpretación de los resultados,