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FIS2015-66328-C3-2-R

Financiado

DESARROLLO DE INSTRUMENTACION OPTICA PARA APLICACIONES EN METROLOGIA ULTRAPRECIS...

DESARROLLO DE INSTRUMENTACION OPTICA PARA APLICACIONES EN METROLOGIA ULTRAPRECISA DE SUPERFICIES ESTE SUBPROYECTO TIENE POR OBJETIVO PRINCIPAL EL DESARROLLO DE DEFLECTOMETROS PARA USO EN METROLOGIA DE ULTRA-PRECISION DE SUPERFICIES DE FORMA LIBRE, SE PRETENDE CONSTRUIR PROTOTIPOS DE DEFLECTOMETROS CAPACES DE MEJORAR LA PRECI... ver más

01/01/2015

CONSORCIO PARA LA...

79K€

Presupuesto del proyecto: 79K€

Líder del proyecto

CONSORCIO PARA LA CONSTRUCCION EQUIPAMIENTO Y... Otra investigación y desarrollo experimental en ciencias naturales y técnicas organismos publicos

TRL 4-5 | 50K€

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Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2015-01-01

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Participantes

CONSORCIO PARA LA CONSTRUCCI...

Lider

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Líder del proyecto

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TRL 4-5 | 50K€

Presupuesto del proyecto 79K€

Descripción del proyecto ESTE SUBPROYECTO TIENE POR OBJETIVO PRINCIPAL EL DESARROLLO DE DEFLECTOMETROS PARA USO EN METROLOGIA DE ULTRA-PRECISION DE SUPERFICIES DE FORMA LIBRE, SE PRETENDE CONSTRUIR PROTOTIPOS DE DEFLECTOMETROS CAPACES DE MEJORAR LA PRECISION, VELOCIDAD DE ADQUISICION Y SENSIBILIDAD DE LOS SISTEMAS EXISTENTES EN LA ACTUALIDAD, LOS SISTEMAS DE METROLOGIA DE SUPERFICIES DE MAYOR PRECISION HOY EN DIA, SE BASAN EN DEFLECTOMETRIA DE BARRIDO, EN LOS QUE EL HAZ DE PRUEBA DEL DEFLECTOMETRO SE BARRE A LO LARGO DE LA SUPERFICIE QUE SE ESTA MIDIENDO, EN LOS SISTEMAS MAS MODERNOS, LA SENSIBILIDAD Y LA LIMITADA VELOCIDAD DE ADQUISICION DEL SENSOR OPTICO, EL DEFLECTOMETRO EN SI MISMO, SON EL PRINCIPAL FACTOR LIMITANTE DE LA PRECISION DEL INSTRUMENTO, PARA SUPERAR ESTA LIMITACION PROPONEMOS EXPLORAR ARQUITECTURAS OPTICAS QUE PERMITEN CODIFICAR LAS MEDIDAS ANGULARES EN VARIACIONES DE INTENSIDAD DE UNA ONDA PORTADORA DE ALTA FRECUENCIA, Y ASI UTILIZAR LA TECNICA DEL AMPLIFICADOR LOCK-IN PARA MEDIR ANGULOS, DE MANERA RAPIDA Y CON NIVELES DE RUIDO MUY POR DEBAJO DE LOS QUE OBTIENEN LOS SISTEMAS ACTUALES, EL SUBPROYECTO SE DISTRIBUYE EN DOS OBJETIVOS PRINCIPALES, DE UNA PARTE SE DISEÑARAN, CONSTRUIRAN Y CARACTERIZARAN PROTOTIPOS DE DIFERENTES ARQUITECTURAS OPTICAS CAPACES DE CODIFICAR LA DEFLEXION DEL HAZ RETORNADO POR LA SUPERFICIE DE PRUEBA EN VARIACIONES DE UNA SEÑAL ONDULATORIA DE INTENSIDAD, SE CONSIDERARAN DISEÑOS EN LOS QUE EL RETICULO DEL AUTOCOLIMADOR SE DESPLAZA A VELOCIDAD CONSTANTE, EN LOS QUE LA MEDIDA DEL ANGULO DE DEFLEXION VIENE DADA POR UN SIMPLE RETARDO DE LA ONDA MEDIDA EN EL PLANO DE DETECCION, TAMBIEN SE CONSIDERAN ARQUITECTURAS EN LAS QUE EL RETICULO SE DESPLAZA DE MANERA OSCILANTE, AUNQUE ESTO IMPLICA UNA CODIFICACION DEL ANGULO DE MEDIDAS MAS COMPLICADA, PERMITE ALCANZAR MAYOR FRECUENCIA DE MODULACION, FINALMENTE SE EXPLORARAN ARQUITECTURAS EN LAS QUE SE MEDIRA DIRECTAMENTE LA CURVATURA LOCAL DEL ESPEJO DE MUESTRA, POR OTRO LADO SE DESARROLLARAN METODOS DE CALIBRACION Y SUPRESION DE ERRORES SISTEMATICOS, BASADOS EN LA COMBINACION OPTIMA DE MEDIDAS REDUNDANTES E INDEPENDIENTES, ESTOS SE APLICARAN A METROLOGIA DE SUPERFICIES MEDIANTE DEFLECTOMETRO DE BARRIDO, MEDIANTE INTERFEROMETRIA DE FRENTE DE ONDAS, Y MEDIANTE PROYECCION DE LUZ ESTRUCTURADA, SE ESTUDIARAN METODOS PARA INCORPORAR MEDIDAS SIMULTANEAS DE VARIOS INSTRUMENTOS, PARA CORREGIR ERRORES SISTEMATICOS RESIDUALES DEL PROCESO DE MEDIDA, ADEMAS DE ESTOS OBJETIVOS, SE COLABORARA EN EL DESARROLLO DE LOS OBJETIVOS LIDERADOS DESDE LOS OTROS DOS SUB-PROYECTOS COORDINADOS, EL EQUIPO DE ALBA PARTICIPARA ESPECIALMENTE EN EL DESARROLLO DE METODOS DE METROLOGIA DE SUPERFICIES MEDIANTE LUZ ESTRUCTURADA, Y EN EL DISEÑO OPTO-MECANICO, CONSTRUCCION Y VALIDACION DE LOS PROTOTIPOS DE LOS POLARIMETROS,LA CONSECUCION DE LOS OBJETIVOS DEL PROYECTO MEJORARA SUSTANCIALMENTE LAS CAPACIDAD DEL LABORATORIO DE METROLOGIA DEL SINCROTRON ALBA, NECESARIA PARA LA EXPLOTACION EFICIENTE DE SUS LINEAS DE LUZ EN GENERAL, Y DE LAS DEDICADAS A BIO-CIENCIA DE MANERA MUY ESPECIFICA, ASIMISMO, LOS PROTOTIPOS DESARROLLADOS DURANTE EL PROYECTO CONSTITUIRAN UNA HERRAMIENTA VALIOSISIMA PARA LLEVAR A CABO OTROS DESARROLLOS DE INSTRUMENTACION CIENTIFICA EN EL PROPIO SINCROTRON ALBA, Y OTROS CENTROS COLABORADORES, ESTOS PROTOTIPOS, ADEMAS, SERAN SUSCEPTIBLES DE TRANSFERENCIA DE TECNOLOGIA, OPTICA\METROLOGÍA\RAYOS X\SINCROTRÓN

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