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FIS2015-66328-C3-1-R

Financiado

DESARROLLO DE INSTRUMENTACION OPTICA AVANZADA PARA APLICACIONES EN POLARIMETRIA...

DESARROLLO DE INSTRUMENTACION OPTICA AVANZADA PARA APLICACIONES EN POLARIMETRIA DE IMAGEN Y METROLOGIA DE SUPERFICIES POR DEFLECTOMETRIA DE FRANJAS ESTE SUBPROYECTO ESTA A CABALLO ENTRE LAS DOS LINEAS DE INSTRUMENTACION QUE SE DESARROLLARAN EN EL PROYECTO GLOBAL, REALIZANDO UNA COLABORACION DIRECTA CON LOS OTROS DOS GRUPOS, POR UN LADO, SE DESARROLLARA UN POLARIMETRO DE IMAGE... ver más

01/01/2015

UAB

151K€

Presupuesto del proyecto: 151K€

Líder del proyecto

UNIVERSITAT AUTÒNOMA DE BARCELONA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1265

Financiación concedida El organismo AGENCIA ESTATAL DE INVESTIGACIÓN notifico la concesión del proyecto el día 2015-01-01 No tenemos la información de la convocatoria

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Líder del proyecto

UNIVERSITAT AUTÒNOMA DE BARCELONA No se ha especificado una descripción o un objeto social para esta compañía.

Total investigadores 1265

Presupuesto del proyecto 151K€

Descripción del proyecto ESTE SUBPROYECTO ESTA A CABALLO ENTRE LAS DOS LINEAS DE INSTRUMENTACION QUE SE DESARROLLARAN EN EL PROYECTO GLOBAL, REALIZANDO UNA COLABORACION DIRECTA CON LOS OTROS DOS GRUPOS, POR UN LADO, SE DESARROLLARA UN POLARIMETRO DE IMAGEN CON CRISTALES LIQUIDOS Y QUE TRABAJE A DIFERENTES LONGITUDES DE ONDA, POR OTRO, DESARROLLARA LA METODOLOGIA Y EL INSTRUMENTO PARA MEDIR SUPERFICIES REFLEJANTES MEDIANTE LA DEFLECTOMETRIA POR PROYECCION DE FRANJAS, LOS DOS TIPOS DE INSTRUMENTACION TIENEN APLICACION TANTO EN SALUD, COMO EN ENERGIA LIMPIA, SIN EMBARGO, LA APLICACION PRIMARIA DEL POLARIMETRO ESTARIA ENFOCADA A DERMATOSCOPIA, MIENTRAS QUE EL SISTEMA DE METROLOGIA SE APLICARIA A ESPEJOS, BIEN CON SIMETRIA DE REVOLUCION EN TORNO A UN EJE, O BIEN DE FORMA LIBRE, EL OBJETIVO PRIMARIO SERIAN LOS ESPEJOS DE LAS LINEAS DE SINCROTRONEN CUANTO AL POLARIMETRO DE IMAGEN, SE IMPLEMENTARA UN POLARIMETRO COMPLETO QUE PUEDA MEDIR TANTO LOS PARAMETROS DE STOKES DE UN HAZ DE LUZ, COMO LA MATRIZ DE MUELLER DE UNA MUESTRA, LOS GENERADORES Y DETECTORES DE POLARIZACION ESTARAN BASADOS EN CELDAS DE CRISTAL LIQUIDO CON CONTROL DE TEMPERATURA, EN LOS GENERADORES DE POLARIZACION, LA ILUMINACION SE INYECTARA POR FIBRA OPTICA, INTERCAMBIABLE PARA QUE SE PUEDA CAMBIAR LA LONGITUD DE ONDA O EL ESPECTRO UTILIZADO, ADEMAS DE LA CONSTRUCCION DEL INSTRUMENTO, SE DESARROLLARA UN SOFTWARE DE CONTROL Y OTRO DE ANALISIS DE IMAGENES POLARIMETRICAS (Y ESPECTRALES), POR UN LADO, A PARTIR DE LAS MATRICES DE MUELLER SE OBTENDRAN DIFERENTES PARAMETROS FISICOS, POR OTRO, SE DESARROLLARAN METODOS DE SEGMENTACION DE IMAGENES POLARIMETRICAS QUE TENGAN EN CUENTA ESTOS PARAMETROS, EN COLABORACION CON LA UNIVERSIDAD MIGUEL HERNANDEZ SE UTILIZARA EL POLARIMETRO EN DERMATOSCOPIA, PARA REALIZAR ANALISIS DE PIEL, DONDE LA UTILIZACION DE OTROS PARAMETROS, ADEMAS DE LA DESPOLARIZACION, SE ESTA MOSTRANDO UTIL EN LA DETECCION DE MELANOMAS, LA PRECISION EN LA MEDIDA DE LA FORMA DE LOS ESPEJOS EN LAS LINEAS DE UN SINCROTRON INFLUYE DIRECTAMENTE EN LA CALIDAD DEL HAZ QUE SE PUEDE OBTENER, Y POR CONSIGUIENTE, EN LA CALIDAD DE LOS RESULTADOS OBTENIDOS EN LAS DIFERENTES APLICACIONES DE LAS LINEAS, POR OTRO LADO, EN OTRO TIPO DE APLICACIONES, COMO LA MEDIDA IN SITU DE LOS ESPEJOS DE TELESCOPIOS FACETADOS, O DE LOS ESPEJOS EN CONCENTRADORES SOLARES, QUE SON SISTEMAS CON UNAS MEDIDAS GRANDES, SE NECESITAN METODOS DE METROLOGIA QUE SEAN TRANSPORTABLES, NO NECESITEN UN LABORATORIO CLIMATIZADO, Y SEAN RELATIVAMENTE BARATOS, EL SEGUNDO SISTEMA QUE PRETENDEMOS CONSTRUIR INCIDE EN ESTE CAMPO, SE DESARROLLARA UN SISTEMA DE MEDICION DE SUPERFICIES REFLEJANTES MEDIANTE DEFLECTOMETRIA DE FRANJAS, SE ESTUDIARAN DOS TIPOS DE CONFIGURACIONES, DEPENDIENDO SI LA SUPERFICIE A MEDIR TIENE ALGUNA SIMETRIA O ES DE FORMA LIBRE, UNO DE LOS AVANCES QUE SE PRETENDE LOGRAR ES LA MEJORA DE LA PRECISION, BASADA EN EL TRATAMIENTO DE DATOS REDUNDANTES OBTENIDOS AL MEDIR LA MISMA SUPERFICIE EN DIFERENTES CONFIGURACIONES (CAMARA, PANTALLA), POR OTRO LADO, PARA LA MEDIDA DE SUPERFICIES GRANDES SE DESARROLLARAN METODOS DE UNION (STITCHING) DE LOS DATOS,POR ULTIMO SE COLABORARA CON LOS OTROS DOS SUBPROYECTOS EN LA GENERACION DE HACES ESTRUCTURADOS EN POLARIZACION, AMPLITUD Y FASE, Y EN LA MEJORA DE LA PRECISION DE OTROS INSTRUMENTOS DE METROLOGIA BASADA EN EL ANALISIS DE LA REDUNDANCIA DE DATOS, POLARIMETRÍA DE IMAGEN\CRISTALES LÍQUIDOS\PROCESADO DE IMÁGENES POLARIMÉTRICAS\METROLOGÍA SUPERFICIES REFLEJANTES\DEFLECTOMETRÍA DE FRANJAS\FORMATEADO DE HACES

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