Descripción del proyecto
EL PROYECTO COORDINADO TIENE COMO OBJETIVO FUNDAMENTAL MEJORAR LAS PRESTACIONES DE LOS MATERIALES METALICOS DE TAMAÑO DE GRANO NANOMETRICO (D<100NM) Y ULTRAFINO (100-1000NM) COMO MATERIALES ESTRUCTURALES, A BASE DE MEJORAR SU DUCTILIDAD, EN LOS PROYECTOS ANTERIORES DPI 2002-04479-C02 Y DPI 2005-09324 SE HAN DESARROLLADO TECNICAS DE CARACTERIZACION QUE HAN PERMITIDO ESTUDIAR Y EVALUAR LA MICRO Y NANOESTRUCTURA DE LOS MATERIALES OBTENIDOS POR MOLIENDA MECANICA Y COMPACTACION Y POR DEFORMACION PLASTICA SEVERA, ECAP, EN EL PRESENTE PROYECTO SE PRETENDE APLICAR LAS TECNICAS DE CARACTERIZACION YA CONSOLIDADAS ASI COMO AQUELLAS QUE ACTUALMENTE ESTAN SIENDO UTILIZADAS POR LOS GRUPOS INTERNACIONALES DE REFERENCIA, EN LA CARACTERIZACION DE MATERIALES COMO HIERRO, ACERO, COBRE Y ALUMINIO QUE SERAN SOMETIDOS A PROCESOS DE REDUCCION DE TAMAÑO DE GRANO HASTA LOS NIVELES CITADOS CON EL OBJETO DE MEJORAR SUS PROPIEDADES MECANICAS Y, ESPECIALMENTE, LA RELACION RESISTENCIA-DUCTILIDAD, LA CARACTERIZACION EFECTUADA PERMITIRA CONOCER MEJOR LOS MECANISMOS DE DEFORMACION Y DE CONSOLIDACION DE LOS MATERIALES OBTENIDOS Y PODER INCIDIR EN LA OPTIMIZACION DE LOS PROCESOS DE OBTENCION ASI COMO DE LOS PROCESOS COMBINADOS, LA ADECUADA DETERMINACION DE ESTRUCTURAS DE GRANO NANOMETRICO Y ULTRAFINO PASA POR LA PRECISION Y RESOLUCION DE LOS EQUIPOS DE FORMA QUE PERMITAN EVALUAR LOS TAMAÑOS DE GRANO OBTENIDOS Y SU DIFERENCIACION CON RESPECTO A SUBGRANOS, PARA ELLO ES NECESARIA LA UTILIZACION DE TECNICAS DE MICROSCOPIA DE ALTA RESOLUCION COMO POR EJEMPLO MICROSCOPIA ELECTRONICA DE TRANSMISION, EBSD (ELECTRON BACKSCATTERED DISPERSION), ASI COMO DIFRACCION DE RAYOS X, DEBIDO A LAS ESTRUCTURAS POCO CONVENCIONALES QUE PRESENTAN ESTOS MATERIALES, SE DETERMINARAN, ASIMISMO, LAS PROPIEDADES ELASTICAS DE LOS MISMOS Y SE EVALUARA SU POSIBLE VARIACION EN FUNCION DEL NIVEL DE DEFORMACION PLASTICA APLICADA A LOS MATERIALES CITADOS, grano nanométrico\grano ultrafino\deformación plástica severa\caracterización