Descripción del proyecto
EL PROYECTO SE ESTRUCTURA EN EL DESARROLLO DE PRINCIPIOS, TECNICAS Y APLICACIONES DE SISTEMAS DE IMAGEN COHERENTE, EL CONCEPTO DIRECTOR ES EL ANALISIS POR METODOS INTERFERENCIALES DE LAS CARACTERISTICAS COMPLETAS DE LA LUZ EMERGENTE DE UN OBJETO ILUMINADO CON LUZ DE COHERENCIA CONTROLADA, LAS APLICACIONES SE DIRIGEN A LA MEDIDA DE PARAMETROS EN MICROSCOPIA Y HOLOGRAFIA DIGITAL, PRINCIPALMENTE RELIEVE Y FASE Y DE OTRA PARTE A LA MEDIDA EN DISTINTAS CONFIGURACIONES, A DISTINTAS DISTANCIAS Y CON DIVERSOS TAMAÑOS DE OBJETO, DE LAS VIBRACIONES SUPERFICIALES DE LOS OBJETOS POR MEDIO DE LAS AUTOINTERFERENCIAS (SPECKLE) PRODUCIDAS AL ILUMINAR CON LUZ COHERENTE,SE PLANTEA EL DESARROLLO DE NUEVAS TECNICAS Y ARQUITECTURAS PARA LA MEJORA DE LA CAPTURA DE IMAGEN COMPLEJA POR INTERFEROMETRIA HOLOGRAFICA, ESPECIALMENTE EN CONFIGURACION DE MICROSCOPIA, ESTAS TECNICAS PERSIGUEN DOS OBJETIVOS: SISTEMAS DE FACIL IMPLEMENTACION Y BAJO COSTE PARA SU USO MASIVO Y SISTEMAS DE CALIDAD DE IMAGEN MEJORADA, LAS APLICACIONES EN ESTE CAMPO SON SOBRE TODO EN EL CAMPO DE SALUD, LA MEDIDA CUANTITATIVA DE FASE SERVIRA PARA LA DETERMINACION DEL ESPESOR OPTICO DE LAS MUESTRAS, MIENTRAS QUE LOS METODOS DE SUPERRESOLUCION SERVIRAN PARA LA CAPTURA DE IMAGENES CAPACES DE CAPTAR LOS DETALLES DE LAS MUESTRAS POR ENCIMA DE LA CAPACIDAD INICIAL DE RESOLUCION DE LOS SISTEMAS OPTICOS, PARA IMPLEMENTAR ESTOS SISTEMAS SE EMPLEARAN MULTIPLES FUENTES LUZ SIMULTANEAMENTE, DE UNA PARTE, MATRICES DE VCSELS QUE PUEDEN SEPARAR DISTINTAS PASABANDAS POR LA COHERENCIA DE LAS DISTINTAS FUENTES, DE OTRA PARTE EL USO DE DIODOS LASERS DE VARIAS LONGITUDES DE ONDA (VISIBLES E INFRARROJO CERCANO, PUEDEN EMPLEARSE PARA MULTIPLEXAR INFORMACION FRECUENCIAL EN SISTEMAS DE SUPERRESOLUCION O PARA MEJORAR LA CALIDAD DE IMAGEN EN MICROSCOPIA SIN LENTES,RESPECTO AL USO DE SPECKLE PARA IMAGEN COHERENTE, SE PLANTEA EL USO DE LAS AUTOINTERFERENCIAS, QUE APORTAN RESOLUCION NANOMETRICA EN LA MEDIDA DE DESPLAZAMIENTOS EN DISTINTOS ESCENARIOS DE APLICACION PRACTICA, LOS PRINCIPALES SON LA COMBINACION CON LAS TECNICAS DE MICROSCOPIA Y LA MEDIDA REMOTA DE VIBRACIONES, EN MICROSCOPIA SE USARA COMO UN METODO PARA LA MEDIDA DE LA SENSIBILIDAD A DISTORSIONES INDUCIDAS EN ESTRUCTURAS MICROSCOPICAS, ASI, SE PROPONE SU USO PARA MEDIR LA TENSION DE LA MEMBRANA CELULAR OBSERVANDO LAS VARIACIONES INDUCIDAS POR UNA FUENTE EXTERNA DE VIBRACIONES CONTROLADA,SE REALIZARAN IMPLEMENTACIONES DE SISTEMAS DE MEDIDA DE VIBRACIONES REMOTAS, EXPANDIENDO LOS LIMITES DE LOS SISTEMAS ACTUALES, EN PARTICULAR SE PLANTEAN SISTEMAS CAPACES DE MEDIR VIBRACIONES A DISTANCIAS DE CIENTOS DE METROS, BASANDOSE EN LAS TECNICAS DE ANALISIS DE LA IMAGEN COHERENTE EN UN REGIMEN EN EL QUE PREDOMINA EL SPECKLE, EL USO DE CAMARAS DE ALTA VELOCIDAD PERMITE SEGUIR VIBRACIONES DE FRECUENCIAS DE VARIOS KHZ EN PUNTOS CONCRETOS DE LA MUESTRA ANALIZADA, SE PLANTEARAN TAMBIEN SISTEMAS CAPACES DE OPERAR A MENORES FRECUENCIAS PERO EN MULTIPLES PUNTOS SIMULTANEOS, A FIN DE DETERMINAR VIBRACIONES SUPERFICIALES,TODOS ESTOS METODOS SE ENCAMINAN HACIA DOS APLICACIONES, CON POSIBILIDADES PROXIMAS DE COMERCIALIZACION, EN APARIENCIA DISPARES PERO QUE COMPARTEN LA NECESIDAD DE METODOS AVANZADOS DE IMAGEN COHERENTE, DETECCION DE ANOMALIAS Y CARACTERISTICAS CELULARES EN MICROSCOPIA Y MEDIDAS DE VIBRACIONES EN LARGAS DISTANCIAS, MICROSCOPIA\ MICROSCOPÍA SIN LENTES\ IMAGEN COHERENTE\ HOLOGRAFÍA DIGITAL\ SPECKLE\ MEDIDA DE VIBRACIONES\ MEDIDA DE FASE